期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
集成电路ESD设计验证技术 被引量:2
1
作者 罗宏伟 肖庆中 +1 位作者 路香香 石晓峰 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2008年第6期757-760,共4页
传输线脉冲(TLP)测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的I-V特性曲线,提取特征参数,将有利于ESD加固设计的一... 传输线脉冲(TLP)测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的I-V特性曲线,提取特征参数,将有利于ESD加固设计的一次成功;通过对典型TLP测试波形的分析,将TLP试验与器件的大电流响应建立联系;最后对扩散电阻和nMOSFET的TLP典型I-V特性进行了分析,并给出了实际的设计参数。 展开更多
关键词 集成电路 传输线脉冲测试 esd加固设计
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部