Fe含量对FeCu颗粒膜磁滞回线的影响

利用共蒸发法制备了不同组分的FeCu颗粒膜,用X射线衍射仪(XRD)确定了样品的物相组成,用扫描电镜(SEM)观测了颗粒的平均直径,用振动样品磁强计(VSM)测量了样品的磁滞回线,根据测量结果用Origin软件对样品的磁滞回线进行了分析,探讨了Fe含量对FeCu颗粒膜磁滞回线的影响.结果表明:FeCu颗粒膜是颗粒取向均匀的非固溶磁性膜.矫顽力、剩磁、剩磁比均随铁含量增加先减小后增大,在铁含量为25%左右时剩磁、剩磁比取极小值;而矫顽力在铁含量为30%左右极小.

磁控溅射法制备FeCu薄膜

采用直流磁控溅射在Si（001）基片上制备了FeCu纳米薄膜,薄膜样品分别经过300-600℃退火处理1 h.利用X射线衍射仪和振动样品磁强计对样品的结构和磁性进行了测量和分析.结果表明,沉积得到的亚稳态FeCu合金在300℃时发生相分离,随温度的升高,晶粒长大,相分离程度增强.在300-500℃范围内样品的矫顽力随温度的升高而变大,当退火温度为600℃时矫顽力变小.