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低N含量GaAsN材料的共振喇曼散射及其带边以上的光致发光光谱(英文)
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作者 谭平恒 罗向东 +5 位作者 葛惟昆 徐仲英 Zhang Y Mascarenhas A Xin H P Tu C W 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期397-402,共6页
利用显微光致发光技术,观测到了N含量为0 .1 %,0 .22 %,0 .36 %和0 .62 %的GaAsN合金的E_0, E_0+Δ_0和E+能级的光致发光峰.共振喇曼散射谱进一步证实了这些发光峰来源于所研究材料的本征能级,而不是来源于GaAsN合金中的一些局域激子发... 利用显微光致发光技术,观测到了N含量为0 .1 %,0 .22 %,0 .36 %和0 .62 %的GaAsN合金的E_0, E_0+Δ_0和E+能级的光致发光峰.共振喇曼散射谱进一步证实了这些发光峰来源于所研究材料的本征能级,而不是来源于GaAsN合金中的一些局域激子发射.随着N组分的增加,E_0+Δ_0和E+能级分别向低能和高能方向移动并在N组分为0.16%时发生交错.文中提出了一种少量等电子掺杂和显微光致发光谱相结合的方法来直接观测半导体材料带边以上的跃迁能级,尽管光致发光谱通常没有用来观测这些能级位置. 展开更多
关键词 gaasn 共振喇曼散射 光致发光 带隙 等电子掺杂
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GaAsN/GaAs量子阱在1 MeV电子束辐照下的退化规律 被引量:1
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作者 雷琪琪 郭旗 +7 位作者 艾尔肯·阿不都瓦衣提 玛丽娅·黑尼 李豫东 王保顺 王涛 莫镜辉 庄玉 陈加伟 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第5期603-609,共7页
为研究GaAsN/GaAs量子阱在电子束辐照下的退化规律与机制,对GaAsN/GaAs量子阱进行了不同注量(1×1015,1×1016 e/cm2)1 MeV电子束辐照和辐照后不同温度退火(650,750,850℃)试验,并结合Mulassis仿真和GaAs能带模型图对其分析讨... 为研究GaAsN/GaAs量子阱在电子束辐照下的退化规律与机制,对GaAsN/GaAs量子阱进行了不同注量(1×1015,1×1016 e/cm2)1 MeV电子束辐照和辐照后不同温度退火(650,750,850℃)试验,并结合Mulassis仿真和GaAs能带模型图对其分析讨论。结果表明,随着电子注量的增加,GaAsN/GaAs量子阱光学性能急剧降低,注量为1×1015 e/cm2和1×1016 e/cm2的电子束辐照后,GaAsN/GaAs量子阱PL强度分别衰减为初始值的85%和29%。GaAsN/GaAs量子阱电子辐照后650℃退火5 min,样品PL强度恢复到初始值,材料带隙没有发生变化。GaAsN/GaAs量子阱辐照后750℃和850℃各退火5 min后,样品PL强度随退火温度的升高不断减小,同时N原子外扩散使得样品带隙发生约4 nm蓝移。退火温度升高没有造成带隙更大的蓝移,这是由于进一步的温度升高产生了新的N—As间隙缺陷,抑制了N原子外扩散,同时导致GaAsN/GaAs量子阱光学性能退化。 展开更多
关键词 稀氮 光致发光 电子辐照 gaasn 退火
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AlAsN和GaAsN薄膜生长
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作者 一凡 《电子材料快报》 1998年第3期12-13,共2页
关键词 半导体 AlAsN gaasn 薄膜 生长
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Direct Observation of NN Pairs Transfer in GaP1-xNx (x=0.12%) 被引量:1
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作者 吕毅军 高玉琳 +4 位作者 郑健生 张勇 MASCARENHAS A. 辛火平 杜武青 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2005年第11期2957-2959,共3页
Time-resolved photoluminescence (TRPL) was applied to investigate the transient process in GaP1-xNx (x = 0.12%) alloy. The filling, transferring and decay processes among nitrogen pairs are directly observed. The ... Time-resolved photoluminescence (TRPL) was applied to investigate the transient process in GaP1-xNx (x = 0.12%) alloy. The filling, transferring and decay processes among nitrogen pairs are directly observed. The NN4 pair, either not present or only a small obscure peak under a proper excitation condition in the steady-state photoluminescence spectrum, is well resolved by TRPL. 展开更多
关键词 NITROGEN-BOUND EXCITONS BAND-GAP ALLOYS PHOTOLUMINESCENCE DEPENDENCE TRANSITION EVOLUTION gaasn DECAY TIME
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Effect of Nonradiative Recombination on Carrier Dynamics in GaInNAs/GaAs Quantum Wells
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作者 孙征 王宝瑞 +4 位作者 徐仲英 孙宝权 姬扬 倪海桥 牛智川 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2006年第9期2566-2569,共4页
The nonradiative recombination effect on carrier dynamics in GalnNAs/GaAs quantum wells is studied by timeresolved photoluminescence (TRPL) and polarization-dependent TRPL at various excitation intensities. It is fo... The nonradiative recombination effect on carrier dynamics in GalnNAs/GaAs quantum wells is studied by timeresolved photoluminescence (TRPL) and polarization-dependent TRPL at various excitation intensities. It is found that both recombination dynamics and spin relaxation dynamics strongly depend on the excitation intensity. Under moderate excitation intensities the PL decay curves exhibit unusual non-exponential behaviour. This result is well simulated by a rate equation involving both the radiative and non-radiative recombinations via the introduction of a new parameter of the effective concentration of nonradiative recombination centres in the rate equation. In the spin dynamics study, the spin relaxation also shows strong excitation power dependence. Under the high excitation power an increase of spin polarization degree with time is observed. This new finding provides a useful hint that the spin process can be controlled by excitation power in GaInNAs systems. 展开更多
关键词 TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE MOLECULAR-BEAM EPITAXY gaasn ALLOYS
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