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GaAlAs/GaAs双异质结发光管中的深能级
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作者 张桂成 吴征 +1 位作者 陈自姚 周炳林 《电子科学学刊》 CSCD 1989年第3期334-337,共4页
本文用DLTS谱仪和单脉冲瞬态电容技术测量了光通信用GaAlAs/GaAs双异质结发光管中的深能级,对有源区掺Si和掺Ge的相同结构器件,均测得有多子陷阱存在,其能级位置分别为E_C—E_D≈0.29eV和E_T—E_V≈0.42eV。比较了外延系统中氧含量变化... 本文用DLTS谱仪和单脉冲瞬态电容技术测量了光通信用GaAlAs/GaAs双异质结发光管中的深能级,对有源区掺Si和掺Ge的相同结构器件,均测得有多子陷阱存在,其能级位置分别为E_C—E_D≈0.29eV和E_T—E_V≈0.42eV。比较了外延系统中氧含量变化对有源区掺Si器件深能级的影响,以及有源区EL图象中的DSD与深能级关系,结果表明外延系统中氧含量对深能级有明显影响,而EL图象中DSD的出现率与深能级无明显关系。 展开更多
关键词 发光管 双异质结 gaaIAs gaas
全文增补中
高温AlGaInP/GaAs双异质结双极晶体管 被引量:1
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作者 刘文超 夏冠群 +1 位作者 李冰寒 黄文奎 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期756-759,共4页
利用Mo/W/Ti/Au难熔金属作为发射极欧姆接触设计并制作了一种用于功率放大器的新结构AlGaInP/GaAs双异质结双极晶体管(DHBT),分析了与传统AuGeNi作为接触电极的AlGaInP/GaAsDHBT的直流特性差异.研究结果表明,利用难熔金属作为欧姆接触... 利用Mo/W/Ti/Au难熔金属作为发射极欧姆接触设计并制作了一种用于功率放大器的新结构AlGaInP/GaAs双异质结双极晶体管(DHBT),分析了与传统AuGeNi作为接触电极的AlGaInP/GaAsDHBT的直流特性差异.研究结果表明,利用难熔金属作为欧姆接触电极的DHBT器件具有较好的高温特性,并进一步分析了其具有良好高温特性的机理. 展开更多
关键词 AlGaInP/gaas 双异质结双极晶体管 Mo/W/Ti/Au 直流特性
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新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究 被引量:1
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作者 艾立鹍 徐安怀 +2 位作者 孙浩 朱福英 齐鸣 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期23-26,68,共5页
设计并生长了一种新的InGaP/GaAs/InGaP DHBT结构材料,采用在基区和集电区之间插入n+-InGaP插入层结构,以解决InGaP/GaAs/InGaP DHBT集电结导带尖峰的电子阻挡效应问题。采用气态源分子束外延(GSMBE)技术,通过优化生长条件,获得了高质... 设计并生长了一种新的InGaP/GaAs/InGaP DHBT结构材料,采用在基区和集电区之间插入n+-InGaP插入层结构,以解决InGaP/GaAs/InGaP DHBT集电结导带尖峰的电子阻挡效应问题。采用气态源分子束外延(GSMBE)技术,通过优化生长条件,获得了高质量外延材料,成功地生长出带有n+-InGaP插入层结构的GaAs基InGaP/GaAs/InGaP DHBT结构材料。采用常规的湿法腐蚀工艺,研制出发射极面积为100μm×100μm的新型结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT器件。直流特性测试的结果表明,所设计的集电结带有n+-InGaP插入层的InGaP/GaAs/InGaP DHBT器件开启电压约为0.15V,反向击穿电压达到16V,与传统的单异质结InGaP/GaAs HBT相比,反向击穿电压提高了一倍,能够满足低损耗、较高功率器件与电路制作的要求。 展开更多
关键词 双异质结双极晶体管 气态源分子束外延 砷化镓
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InGaP/InGaAs/GaAs DHBT structural materials grown by GSMBE 被引量:2
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作者 AI Likun XU Anhuai SUN Hao ZHU Fuying QI Ming 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第z2期20-23,共4页
Heterojunction bipolar transistor (HBT) is of great interest for the application to microwave power and analog circuits. As known, decreasing bandgap energy of the base layer in HBT can result in a smaller turn-on vol... Heterojunction bipolar transistor (HBT) is of great interest for the application to microwave power and analog circuits. As known, decreasing bandgap energy of the base layer in HBT can result in a smaller turn-on voltage. Using InGaAs as a base material in GaAs HBT is a possible approach to achieve the aim. In this work, a novel InGaP/InGaAs/GaAs double heterojunction bipolar transistor (DHBT) structure with an InGaAs base was designed and grown by gas source molecular beam epitaxy (GSMBE). High-quality InGaAs/GaAs hetero epi-layers and a good doping figure were obtained through optimizing the layer structure and the growth condition. The DHBT devices of a 120 μm×120 μm emitter area were fabricated by normal process and the good DC performance was obtained. A breakdown voltage of 10 V and an offset voltage of just 0.4 V were achieved. These results indicate that the InGaP/InGaAs/GaAs DHBT is suitable for low power-dissipation and high power applications. 展开更多
关键词 double heterojunction bipolar transistor (DHBT) gas source molecular beam epitaxy (GSMBE) gallium arsenic (gaas) indium gallium arsenic (Ingaas)
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调制掺杂结构的光反射光谱研究
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作者 汤寅生 江德生 +2 位作者 庄蔚华 孔梅影 徐英武 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期53-57,共5页
测量了分子束外延(MBE)生长的调制掺杂n-GaAlAs/GaAs的光调制反射光谱(PR),研究了光谱结构和三角阱中子能级的关系以及光反射调制谱与二维电子气(2DEG)浓度的依赖关系.实验结果与理论分析符合得较好.
关键词 掺杂 异质结 反射光谱 MBF 半导体
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