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基于高导热碳纤维的HgCdTe大面阵探测器热适配结构在空间红外遥感相机中的应用 被引量:5
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作者 罗世魁 成桂梅 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2016年第7期26-31,共6页
Hg Cd Te面阵探测器是空间红外遥感相机的关键部件,随着性能需求的不断提高,器件的规模尺寸不断扩大。Hg Cd Te面阵探测器在常温下与承载板进行装配,但在深冷状态下工作,需要耐受200 K左右的温度波动。由于探测器与承载板的线膨胀系数... Hg Cd Te面阵探测器是空间红外遥感相机的关键部件,随着性能需求的不断提高,器件的规模尺寸不断扩大。Hg Cd Te面阵探测器在常温下与承载板进行装配,但在深冷状态下工作,需要耐受200 K左右的温度波动。由于探测器与承载板的线膨胀系数不匹配,温度波动会引起探测器翘曲变形,变形严重时,将导致探测器损伤。提出基于高导热碳纤维的Hg Cd Te大面阵探测器热适配结构,以碳纤维的轴向高热导率降低结构热阻,以碳纤维的极小抗弯截面模量实现热适配结构两端面间的刚度解耦。相对于探测器与承载板直粘,引入基于高导热碳纤维的热适配结构后,探测器与承载板间的热阻仅增加了约1%,而探测器热失配翘曲变形衰减了99.9%,解决了大面阵探测器与承载板间的热失配翘曲变形损伤问题。并对基于碳纤维的热适配结构制备工艺方案进行了简单介绍。 展开更多
关键词 热适配结构 hg cd te面阵探测器 空间红外遥感相机 碳纤维 悬臂梁 线膨胀系数
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Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延薄膜的X射线衍射 被引量:2
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作者 魏彦锋 王庆学 +2 位作者 陈新强 杨建荣 何力 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期946-950,共5页
采用高分辨 X射线衍射的方法 ,研究了 Hg1 - x Cdx Te液相外延材料的 X射线衍射摇摆曲线和晶格常数随外延层厚度的变化关系 .实验观察到了组分互扩散效应对摇摆曲线和材料晶格常数的影响 .衬底与外延层之间的互扩散区约为 2~ 3μm,在... 采用高分辨 X射线衍射的方法 ,研究了 Hg1 - x Cdx Te液相外延材料的 X射线衍射摇摆曲线和晶格常数随外延层厚度的变化关系 .实验观察到了组分互扩散效应对摇摆曲线和材料晶格常数的影响 .衬底与外延层之间的互扩散区约为 2~ 3μm,在此区域 ,摇摆曲线半峰宽变窄 ,表明从衬底扩散来的 Zn元素降低了界面处的位错密度 .通过测量晶格常数随厚度的变化 ,得到了 Cd组分的纵向分布 ,表面组分低 ,越靠近衬底组分越高 ,组分分布呈非线性变化 。 展开更多
关键词 hg1-χcdχte 液相外延 X射线衍射
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Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延薄膜的貌相分析 被引量:2
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作者 朱基千 李标 +3 位作者 褚君浩 陈新强 曹菊英 程继健 《华东理工大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第1期68-72,共5页
用扫描电子显微镜、能量散射X-射线分析及金相显微镜等方法,研究了Hg1-xCdxTe液相外延薄膜的表面形貌与衬底沾污等的关系,以及外延层夹杂和晶界存在的影响。结果表明,衬底沾污及晶界的存在会使外延薄膜的貌相变差;生长... 用扫描电子显微镜、能量散射X-射线分析及金相显微镜等方法,研究了Hg1-xCdxTe液相外延薄膜的表面形貌与衬底沾污等的关系,以及外延层夹杂和晶界存在的影响。结果表明,衬底沾污及晶界的存在会使外延薄膜的貌相变差;生长前衬底表面覆盖可以减轻其表面沾污,用适当的回熔LPE工艺。 展开更多
关键词 貌相 液相外延 薄膜 hgcdte 红外探测器
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表面固定电荷对Hg_(1-x)Cd_xTe光导探测器性能的影响 被引量:1
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作者 桂永胜 郑国珍 +2 位作者 褚君浩 郭少令 汤定元 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期121-125,共5页
研究了表面固定电荷密度对HgCdTe光导探测器性能的影响,计算结果表明,表面固定电荷对器件的性能有着重要的影响,选择合适的钝化工艺,控制表面固定电荷密度。
关键词 hgcdte 光导探测器 电压响应 光电子器件
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Hg_(1-x)Cd_xTe的远红外透射光谱与晶格振动 被引量:1
5
作者 李标 褚君浩 +2 位作者 叶红娟 蒋伟 汤定元 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第1期11-15,共5页
采用傅里叶变换红外光谱仪,在4.2~300K、20~350cm-1范围测量了Hg1-xCdxTe的远红外透射光谱,研究了剩余射线吸收带两侧样品的吸收行为.除了单声子及双声子模外。
关键词 远红外透射光谱 振动模 汞镉Ti
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脉冲激光烧蚀Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体过程的分析 被引量:1
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作者 郭娟 满宝元 《山东师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2007年第2期42-43,共2页
文中测量了Hg0.8Cd0.2Te靶在波长为1064nm、脉宽10ns的脉冲激光辐照下的蒸发损伤阈值,理论计算值与实验结果符合得很好.进而根据能量守恒定律数值计算了Hg0.8Cd0.2Te的蒸发温度.
关键词 激光烧蚀 hg0.8cd0.2te晶体 蒸发阈值
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GaAs(001)衬底上经双缓冲层生长的Hg_(1-x)Cd_xTe-HgTe超晶格结构 被引量:1
7
作者 刘义族 于福聚 《天津师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2001年第3期39-42,共4页
用 X-射线衍射测定了分子束外延 ( MBE)法生长的 Hg1-x Cdx Te- Hg Te超晶格样品在 ( 0 0 1 )附近的扫描徊摆曲线 ,并用动力学理论模拟计算出衍射曲线 ,实验曲线与理论计算基本上相符合 .由实验衍射曲线计算出的超晶格周期长度 ,阱 Hg T... 用 X-射线衍射测定了分子束外延 ( MBE)法生长的 Hg1-x Cdx Te- Hg Te超晶格样品在 ( 0 0 1 )附近的扫描徊摆曲线 ,并用动力学理论模拟计算出衍射曲线 ,实验曲线与理论计算基本上相符合 .由实验衍射曲线计算出的超晶格周期长度 ,阱 Hg Te层厚度及垒 Hg1-x Cdx Te层厚度与模拟计算的相一致 .用透射电子显微镜 ( TEM)对同一样品的横截面进行了分析 ,对 Cd Te/Zn Te/Ga As异质结界面失配位错的组态特征进行了研究 .证明用 Cd Te/Zn Te作为双缓冲层比单一的 Cd Te有较好的效果 .截面 TEM高分辨率明场象显示 Hg1-x Cdx Te- Hg Te超晶格的生长较为成功 ,界面较为平整 .由截面 TEM高分辨率明场象观测的周期长度与 展开更多
关键词 分子束外延法 hg1-xcdxte-hgte超晶格 cdte/Znte/GaAs异质结 双缓冲层生长 晶格结构 晶格生长
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Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体低温热处理时的热力学平衡常数 被引量:1
8
作者 韩庆林 《红外技术》 CSCD 1993年第2期24-26,共3页
在研究低温热处理对HgCdTe电学性质的影响时,在只考虑Hg间隙、Hg空位影响的情况下,通过对大量的、可靠的Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体低温热处理结果进行分析,确定了热力学平衡常数关系式中的常数,从而获得热力学平衡常数与温度的明确解析表... 在研究低温热处理对HgCdTe电学性质的影响时,在只考虑Hg间隙、Hg空位影响的情况下,通过对大量的、可靠的Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体低温热处理结果进行分析,确定了热力学平衡常数关系式中的常数,从而获得热力学平衡常数与温度的明确解析表达式。实验结果与所得表达式的计算结果能够很好地相符。 展开更多
关键词 hg0.8cd0.2te晶体 低温热处理 热力学平衡常数 碲镉汞晶体
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分子束外延Hg_(0.68)Cd_(0.32)Te薄膜光致发光和喇曼散射的研究
9
作者 姬荣斌 王善力 +5 位作者 杨建荣 于梅芳 乔怡敏 常勇 李标 何力 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期87-90,共4页
对利用MBE技术生长的Hg0.68Cd0.32Te薄膜进行了光致发光和喇曼光谱的研究.拟合薄膜光致发光谱得到的禁带宽度,与用红外透射谱得到的薄膜带宽相近;其半峰宽仅为5meV;带尾能量小于1.3meV,显示了较高的薄... 对利用MBE技术生长的Hg0.68Cd0.32Te薄膜进行了光致发光和喇曼光谱的研究.拟合薄膜光致发光谱得到的禁带宽度,与用红外透射谱得到的薄膜带宽相近;其半峰宽仅为5meV;带尾能量小于1.3meV,显示了较高的薄膜质量.喇曼光谱测试表明,在119cm-1和138cm-1处有较强的喇曼散射峰,其中119cm-1峰为类HgTe的TO模,138cm-1为类HgTe的LO模;在93cm-1处也可以观察到一个较弱的喇曼散射峰. 展开更多
关键词 光致发光 红外材料 喇曼散射 远红外 汞镉碲
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Hg_(1-x)Cd_xTe光导探测器的电学参量分析
10
作者 桂永胜 郑国珍 +3 位作者 郭少令 蔡毅 褚君浩 汤定元 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期317-321,共5页
测量了Hg1-xCdxTe光导探测器中电阻率与温度及磁场强度的关系.在Shubnikov-deHaas(SdH)测量中,发现了表面电子的浓度在1.2~55K的范围内没有变化.一个包括体电子和两类表面电子的三带模型被用... 测量了Hg1-xCdxTe光导探测器中电阻率与温度及磁场强度的关系.在Shubnikov-deHaas(SdH)测量中,发现了表面电子的浓度在1.2~55K的范围内没有变化.一个包括体电子和两类表面电子的三带模型被用来分析电阻率随温度变化的关系。 展开更多
关键词 光导探测器 电学参量 SdH测定 汞镉碲
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Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延薄膜的光致发光
11
作者 李标 常勇 +4 位作者 褚君浩 陈新强 曹菊英 唐文国 汤定元 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期93-97,共5页
用红外光荧光测量分析了Hg1-xCdxTe液相外延薄膜的发光特性,观察到局域激子及束缚激子发光.当外延层减薄至2μm后,PL信号的峰位将向高能方向移动。
关键词 光荧光 液相外延 hgcdte
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用室温红外透射谱研究Hg_(1-x)Cd_xTe外延薄膜的组份分布
12
作者 褚君浩 李标 +1 位作者 刘坤 汤定元 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期81-86,共6页
根据Hg1-xCdxTe本征吸收系数的经验公式及Hougen模型,建立了一种用室温红外透射谱研究Hg1-xCdxTe外延薄膜组份均匀性的方法,用这种方法检测了LPE、MBE、MOCVD薄膜的组份分布。
关键词 红外透射谱 外延薄膜 hgcdte
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Hg_(1-x)Cd_xTe 中杂质对及双空位深能级的研究
13
作者 刘晓华 介万奇 刘俊诚 《航空学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期62-67,共6页
以A.Kobayashi等的半经验紧束缚模型和Hjalmarson-Vogh-Wolford-Dow深能级理论为基础,计算了Hg1-xCdxTe中阳离子位替代式杂质(包括N,O,C)与最近邻替代式杂质形成sp3键杂质... 以A.Kobayashi等的半经验紧束缚模型和Hjalmarson-Vogh-Wolford-Dow深能级理论为基础,计算了Hg1-xCdxTe中阳离子位替代式杂质(包括N,O,C)与最近邻替代式杂质形成sp3键杂质对后阳离子位杂质A1对称性深能级的变化以及最近邻理想双空位(Vc,Va)的深能级。计算结果表明:阳离子位杂质A1能级的变化取决于与其配对杂质的电负性,杂质对a1能级组分依赖关系dE/dx小于阳离子位单杂质A1能级的dE/dx,大于阴离子位单杂质T2能级的dE/dx,不同杂质对的dE/dx基本相同;理想双空位(Vc,Va)在能隙或近能隙区域产生一个a1态深能级,该能级的dE/dx很小,对于CdTe,位置在0.5eV,对于x<0.37的Hg1-xCdxTe,该能级成为导带共振态。 展开更多
关键词 深能级 杂质对 双空位 汞镉碲 红外材料
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Hg_(1-x)Cd_xTe-HgTe超晶格的结构研究
14
作者 于福聚 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第S1期239-,共1页
红外技术正在从机械扫描成像系统向新一代固体成像系统过渡。Hg1 xCdxTe红外焦平面列阵器件是最佳选择。它的禁带宽度随组分在 0~ 1 .6eV之间可调 ,也就是说 ,它可做成多种响应波长的红外探测器 ,而且其探测率要比GaAs量子阱、InSb都... 红外技术正在从机械扫描成像系统向新一代固体成像系统过渡。Hg1 xCdxTe红外焦平面列阵器件是最佳选择。它的禁带宽度随组分在 0~ 1 .6eV之间可调 ,也就是说 ,它可做成多种响应波长的红外探测器 ,而且其探测率要比GaAs量子阱、InSb都要高出一个多数量级。当然Hg1 xCdxTe材料也有某些缺点 ,例如难以做到大面积结构完整、组分均匀 ,难以控制其截止波长 ,并且暗电流较大等。与Hg1 xCdxTe体材料相比 ,Hg1 xCdxTe HgTe超晶格可以通过调节HgTe层和Hg1 xCdxTe层的相应厚度来控制其截止波长 ,而且还有暗电流小等优点。因此Hg1 xCdxTe HgTe超晶格材料不仅在研制长波和超长波红外量子阱探测器方面有潜在优势 ,而且在研制MIS红外器件方面也显示出优越性 (Hg1 xCdxTe HgTe超晶格MIS器件的击穿电压比Hg1 xCdxTe体材料MIS器件的还高 )。Fauriep和Becker等人对Hg1 xCdxTe HgTe超晶格的制备工艺进行了研究 ,Tardotp等人研究了CdTe HgTe超晶体中Hg和Cd的互扩散 ,而且Hg1 xCdTe -HgTe的结构特征和光电特性的研究引起了广泛关注。研究MBE法生长的Hg1 xCdxTe HgTe超晶格的结构特征 ,可弄清结构缺陷的生长机制和分布规律 ,并有助于研究晶体生长的机理。本文介绍了用X射线衍射测定Hg1 xCdxTe HgTe超晶格样品在 ( 0 0 2 )附近? 展开更多
关键词 分子束外延生长 hg_(1-x)cd_xte-hgte超晶格 X射线衍射
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短波HgCdTe光电二极管中缺陷能级对器件性能的影响
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作者 胡新文 李向阳 +4 位作者 王勤 陆慧庆 赵军 方家熊 张胜坤 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第2期108-112,共5页
利用变频导纳谱研究了Hg1-xCdxTe(x=0.6)n+-on-p结中的深能级缺陷,得到其缺陷能级位置在价带上0.15eV,同时给出了其俘获截面和缺陷密度,初步认为是Hg空位或与其相关的复合缺陷.根据深能级的有关参... 利用变频导纳谱研究了Hg1-xCdxTe(x=0.6)n+-on-p结中的深能级缺陷,得到其缺陷能级位置在价带上0.15eV,同时给出了其俘获截面和缺陷密度,初步认为是Hg空位或与其相关的复合缺陷.根据深能级的有关参数,估算了器件的少子寿命和器件优值参数R0A. 展开更多
关键词 导纳谱 缺陷能级 汞镉碲 光电二极管 红外器件
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n-Hg_(1-x)Cd_xTe中复合中心
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作者 周洁封 松林 +3 位作者 卢励吾 司承才 李言谨 胡晓宁 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第1期29-32,共4页
利用深能级瞬态谱(DLTS)研究了Hg1-xCdxTe(x=0.4)p+n结中H2(0.29)空穴陷阱的俘获机制,发现它不满足级联复合机制或俄歇复合机制,该能级俘获截面的温度关系满足σ(T)=σ∞exp(-EB/kT... 利用深能级瞬态谱(DLTS)研究了Hg1-xCdxTe(x=0.4)p+n结中H2(0.29)空穴陷阱的俘获机制,发现它不满足级联复合机制或俄歇复合机制,该能级俘获截面的温度关系满足σ(T)=σ∞exp(-EB/kT)形式。 展开更多
关键词 复合中心 深能级瞬态谱 hgcdte
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分子束外延HgCdTe材料的光致发光研究 被引量:2
17
作者 姬荣斌 常勇 +2 位作者 王善力 杨建荣 何力 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第9期1284-1288,共5页
报道了分子束外延生长 Hg0.68 Cd0.32 Te 材料的光致发光测量结果。研究了原生样品和退火处理样品、以及氮离子注入样品的低温光致发光特征。对光致发光的测试结果进行拟合得到的禁带宽度, 与用红外透射谱得到的薄膜禁... 报道了分子束外延生长 Hg0.68 Cd0.32 Te 材料的光致发光测量结果。研究了原生样品和退火处理样品、以及氮离子注入样品的低温光致发光特征。对光致发光的测试结果进行拟合得到的禁带宽度, 与用红外透射谱得到的薄膜禁带宽相近; 其半峰宽和带尾能量较小, 显示了较高的薄膜质量。样品经过退火后带尾能量降低, 展开更多
关键词 薄膜 光致发光 分子束外延 汞镉碲
原文传递
Persistent photoconductivity of amorphous Hg0.78Cd0.22Te:In films
18
作者 余连杰 苏玉辉 +5 位作者 史衍丽 李雄军 赵维艳 马启 太云见 赵鹏 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2016年第10期38-42,共5页
The persistent photoconductivity(PPC) of amorphous Hg(0.78)Cd(0.22)Te. In films has been studied under illumination by super-bandgap light(a He–Ne laser, hv=1.96 eV, 30 mW/cm^2) and sub-bandgap light(1000 K ... The persistent photoconductivity(PPC) of amorphous Hg(0.78)Cd(0.22)Te. In films has been studied under illumination by super-bandgap light(a He–Ne laser, hv=1.96 eV, 30 mW/cm^2) and sub-bandgap light(1000 K Blackbody source, the largest photon energies h vp=0.42 eV, 8.9 mW/cm^2) in the range of 80–300 K. The persistent photoconductivity effect increases with increase in illumination intensity and illumination time. However,it decreases with increase in working temperature. The non-exponential decay of photoconductivity implies the presence of continuous distribution of defect states in amorphous Hg(0.78)Cd(0.22)Te. In films. These results indicate that the decay of photoconductivity is not governed by the carrier trapped in the intrinsic defects, but it may be due to light-induced defects under light illumination. 展开更多
关键词 amorphous hg0.78cd0.22te persistent photoconductivity light-induced effects
原文传递
分子束外延锗基碲镉汞薄膜原位砷掺杂研究 被引量:2
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作者 覃钢 李东升 +6 位作者 李艳辉 杨春章 周旭昌 张阳 谭英 左大凡 齐航 《红外技术》 CSCD 北大核心 2015年第2期105-109,共5页
报道了基于Ge衬底分子束外延碲镉汞原位As掺杂材料的研究结果,进行了As掺杂碲镉汞薄膜生长的温度控制研究;分析了As束流对材料晶体质量的影响,结合SIMS测试技术得到了As杂质掺杂浓度与束源炉加热温度的关系;并利用傅里叶红外光谱仪、X... 报道了基于Ge衬底分子束外延碲镉汞原位As掺杂材料的研究结果,进行了As掺杂碲镉汞薄膜生长的温度控制研究;分析了As束流对材料晶体质量的影响,结合SIMS测试技术得到了As杂质掺杂浓度与束源炉加热温度的关系;并利用傅里叶红外光谱仪、X射线双晶衍射、EPD检测等手段对晶体质量进行了分析表征,结果显示利用MBE方法可以生长出晶体质量良好、缺陷密度低的碲镉汞薄膜;进一步研究了As杂质的激活退火工艺及不同退火条件对材料电学参数的影响。 展开更多
关键词 分子束外延 碲镉汞 原位As掺杂 退火
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碲镉汞体材料的显微Raman光谱 被引量:3
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作者 黄晖 唐莹娟 +3 位作者 许京军 张存洲 潘顺臣 张光寅 《红外技术》 CSCD 北大核心 2002年第5期37-41,共5页
利用Raman显微镜测量了ACRT Bridgman方法和Te溶剂方法生长的碲镉汞体材料的显微Raman光谱 ,在碲镉汞体材料的显微Raman光谱中识别出了碲镉汞的基本光学振动模 ,由此证明了碲镉汞按晶格振动的分类方法属于二模混晶 ;识别出了一个来源于... 利用Raman显微镜测量了ACRT Bridgman方法和Te溶剂方法生长的碲镉汞体材料的显微Raman光谱 ,在碲镉汞体材料的显微Raman光谱中识别出了碲镉汞的基本光学振动模 ,由此证明了碲镉汞按晶格振动的分类方法属于二模混晶 ;识别出了一个来源于类HgTe的TO1模 +LO1模的二级Raman散射峰 ;观察到了碲镉汞体材料中两个新的Raman散射峰 ,分别位于 6 6 2cm- 1和 74 9cm- 1;观察到了碲镉汞基本光学振动模的TO1模与LO1模的Raman散射强度比的变化 ,指出该现象是由于Ra 展开更多
关键词 碲镉汞晶体 显微Raman光谱 光学振动膜 RAMAN散射
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