分层递阶智能控制在IC测试分选机中的应用

针对目前IC测试分选机因各功能单元之间无协调控制算法而导致的产能竞争冲突问题,在改进型分选机设备中引入了其它行业解决类似问题比较成功的分层递阶控制结构,并在该结构中的组织级控制层采用了智能化程度较高的专家控制策略,在执行级控制层中采用了控制精度较高的迭代学习策略。通过对改进前后两种设备的算法模型进行实测数据对比分析,证明采用分层递阶控制方案的设备性能要远优于采用传统方案的设备,其流水线配合协调度明显提高,并具有良好的动态特性和鲁棒性。

浅谈两台IC分选机并行测试方法

随着半导体行业测试技术不断提高,IC分选机技术不断升级,昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备,充分利用设备资源,降低测试成本,提高测试效率,是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明,详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理,以及实际工作中的一些注意事项,避免出现质量事故,并通过试验说明并行测试的优越性。

集成电路分选机的维修及应用

随着经济发展和技术的进步,集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试在集成电路产业链中的作用越来越大,专业化的集成电路测试业是集成电路产业中一个重要组成部分,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。各大半导体生产厂家都在竭力提高生产效率和检测效率,生产厂家在芯片生产中采用了自动化的半导体测试仪器和高速、智能化的集成电路分选机。以CTS800分选机为例,详细介绍了集成电路分选机常见故障的维修及应用。