基于IDDT和SVM的混合电路故障诊断探究

混合电路待测数据受限,存在故障诊断速度较慢、效率有限等问题,提出了一种基于动态电流测试结合支持向量机的混合电路故障诊断方法,其基本思想是运用小波分解提取混合电路动态电流的有效信息,再融合SVM进行故障诊断。采用标准样本Iris数据集研究、确定了多类支持向量机的算法,采用高斯径向基核函数,运用改进的网络搜索方法进行了粗搜索和细搜索,以确定出SVM的最佳参数对。PSPICE及MATLAB软件对混合电路实例的仿真表明,该方法模式识别能力较强,可改善BP神经网络的收敛速度慢和容易陷入局部极小值等不足,适用于混合电路故障的快速准确诊断。

一种用于动态电流测试的故障模拟算法

本文针对动态电流测试 ,提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑门的动态电流通路故障模型。在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法。

电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析

栅氧短路故障对于集成电路的稳定性有着重要的影响,故障行为会在不产生逻辑错误的情况下导致参数失效。该文使用了一种电路级的故障模型模拟栅氧短路故障,研究了栅氧缺陷对与非门电路的影响,选取了适合于电流测试的测试矢量,对未发生逻辑错误的故障电路的动态电流进行分析。在实验中采用了TSMC0.18μm CMOS工艺,仿真结果显示通过分析电源通路上的动态电流可以检测有潜隐性故障的器件。与电压测试方法相比,动态电流测试能更好地对栅氧短路缺陷进行诊断。

CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究

CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片的集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。介绍了CMOS电路IDDT测试技术的发展及其基本原理和方法,深入分析了CMOS电路电流成份和特性,利用PSPICE及MOSFET仿真模型,建立了具有较高精度的瞬态电流解析模型。提出撬杠电流("crow-bar")相对于电容充电电流,在高速下不仅不小,甚至可能更大,在电流分析时不可忽略。

一种基于I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法

瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同。这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法,该算法利用3个向量来激活时延故障。实验结果表明该测试产生算法用于检测时延故障是可行的。

基于小波分析的数字电路动态电流测试技术

针对数字电路中常见的晶体管桥接故障,研究了数字电路动态电流测试及定位方法。利用小波包分析技术,提取小波系数中所包含的丰富的时频信息作为故障特征,建立故障字典。实验结果表明,该方法准确、高效,用于数字电路电流检测效果良好。

一种基于遗传算法的动态电流测试生成方法

针对数字电路测试矢量生成复杂、数量庞大的问题,研究了采用遗传算法进行优化选择的数字电路动态电流测试矢量生成方法。利用遗传算法全局优化、并行处理结构等特性来获得冗余度较小的精简测试集。将得到的测试集施加至电路中,并检测数字电路动态电源电流,再采用小波包分析提取故障特征信息,用BP神经网络来进行故障定位。以ISCA85’基准电路C432为例,验证了文中方法的有效性和可行性。实验结果表明所提出的新方法可以在较小的测试集下达到100%的故障诊断率。

一种克服工艺参数影响的I_(DDT)方法

在瞬态电流测试中,即使是同一设计的芯片,由于制作工艺参数的不稳定性,在输入相同的测试向量对时,会产生不同的瞬态电流,这就可能减小故障电路和无故障电路瞬态电流的差别,导致不能对电路是否有故障做出正确的判断。参考稳态电流测试中克服工艺参数影响的方法,针对开路故障,提出了一种在瞬态电流测试中克服工艺参数影响的方法,并利用Pspice软件对这种方法进行了模拟实验。模拟结果证明,该方法是可行的。

一种压缩向量对测试集的新方法

通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常(例如开路故障)不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上,提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。

用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。

CMOS电路电流测试技术研究

集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。CMOS集成电路测试技术,受到人们的广泛关注。本文介绍了CMOS集成电路测试技术基本原理和关键问题,探讨了电流测试的研究进展及现状,并提出了该技术的研究方向。