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基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究 被引量:12
1
作者 陈寿宏 颜学龙 黄新 《电子技术应用》 北大核心 2013年第1期79-82,共4页
在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相... 在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果。 展开更多
关键词 ieee 1149 7 CJTAG 测试控制器 边界扫描
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基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计 被引量:10
2
作者 张西多 易晓山 胡政 《计算机测量与控制》 CSCD 2006年第5期570-572,共3页
简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提... 简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。 展开更多
关键词 边界扫描 可测试性 ieee1149.4 混合信号
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基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计 被引量:3
3
作者 陈圣俭 张胜满 +1 位作者 周燕 陈健 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第9期1673-1675,共3页
随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方... 随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。 展开更多
关键词 ieee 1149.4 混合电路 机内测试
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基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究 被引量:5
4
作者 曲伟 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2010年第12期2710-2712,共3页
针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试... 针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求。 展开更多
关键词 可测试性 ieee1149标准 系统级测试
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IEEE1149协议与在系统可编程实验系统的设计
5
作者 熊俊俏 罗炎林 《电气电子教学学报》 2002年第3期62-64,共3页
介绍了 IEEE114 9协议及工作原理 ,分析了几种流行的在系统可编程器件的结构和在系统编程原理 ,设计了融合多种可编程器件的实验系统 ,能满足教学实验需要和科研开发应用的需要 ,具有较强的通用性和实用性。
关键词 ieee1149协议 可编程逻辑器件 高校 实验 JTAG编程
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基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法
6
作者 尤路 《火控雷达技术》 2015年第2期112-116,共5页
随着高速信号测试需求的逐渐增加,IEEE 1149.6标准的应用前景越来越广,本文从IEEE1149.6标准的产生入手,主要介绍了IEEE 1149.6标准与IEEE 1149.1标准的区别,后文中通过测试验证实例,详细介绍了IEEE 1149.6标准中的故障类型,该方法目前... 随着高速信号测试需求的逐渐增加,IEEE 1149.6标准的应用前景越来越广,本文从IEEE1149.6标准的产生入手,主要介绍了IEEE 1149.6标准与IEEE 1149.1标准的区别,后文中通过测试验证实例,详细介绍了IEEE 1149.6标准中的故障类型,该方法目前已在数字电路高速通道测试中凸显作用。 展开更多
关键词 ieee1149. 6 ieee1149. 1
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IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究 被引量:5
7
作者 杨轲 颜学龙 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第10期147-150,共4页
针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的... 针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号. 展开更多
关键词 ieee 1149.7标准 两线星型扫描 MSCAN Oscan
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IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展 被引量:1
8
作者 邱峰 梁松海 《测控技术》 CSCD 1999年第1期28-30,共3页
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
关键词 可测试性设计 边界扫描测试 VLSI 超大规模
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基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 被引量:4
9
作者 江坤 高俊强 《国外电子测量技术》 2013年第5期41-43,56,共4页
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以... 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。 展开更多
关键词 ieee 1149 7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器
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基于IEEE1149.X标准的测试技术研究 被引量:1
10
作者 姜鹏 沈绪榜 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2004年第12期163-165,共3页
IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准。它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试。本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的... IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准。它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试。本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的发展及应用,并举例说明了在实际中的测试应用。 展开更多
关键词 ieee1149.X 边界扫描 测试技术
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基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究 被引量:2
11
作者 葛勇 薛冰 《计算机测量与控制》 北大核心 2014年第1期9-12,共4页
针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电... 针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。 展开更多
关键词 模拟集成电路 可测性设计 功能测试 ieee1149 4
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基于IEEE 1149.4标准的参数测试系统的设计
12
作者 凌云 何淑珍 《科技视界》 2013年第9期13-13,17,共2页
为了实现对混合信号电路的参数测试,本文提出一种以FPGA为主控器的基于IEEE 1149.4标准的参数测试系统。实验结果表明,该系统符合IEEE 1149.4标准的基本要求,测试准确。该测试系统的设计为IEEE 1149.4标准提供了一种实现方法,可扩展性强... 为了实现对混合信号电路的参数测试,本文提出一种以FPGA为主控器的基于IEEE 1149.4标准的参数测试系统。实验结果表明,该系统符合IEEE 1149.4标准的基本要求,测试准确。该测试系统的设计为IEEE 1149.4标准提供了一种实现方法,可扩展性强,为更好的解决混合电路测试打下了良好的基础。 展开更多
关键词 ieee1149 4 FPGA 参数测试
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IEEE1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
13
作者 朱恒静 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第1期27-29,共3页
提出了加强测试存取口(TAP)功能的一种方法,使之可以随两个时钟工作,一个用于控制与IEEE1149.1标准相兼容的操作,另一个控制器件所固有的可测试特性.这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性.
关键词 ieee1149.1 测试 存取口 可测性
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IEEE 1149.1b边界扫描器件描述语言
14
作者 郭士瑞 《微电子测试》 1996年第2期7-11,共5页
1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 V... 1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。 展开更多
关键词 边界扫描器件 描述语言 TEEE1149-1b BSDL语言
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从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展 被引量:14
15
作者 陈星 黄考利 +1 位作者 连光耀 刘晓芹 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第8期1460-1462,1472,共4页
边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供... 边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。 展开更多
关键词 ieee1149.X 边界扫描 测试性设计
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一种IEEE802.11中慢启动递减的竞争窗口控制算法 被引量:4
16
作者 王辉 李津生 洪佩林 《电路与系统学报》 CSCD 北大核心 2005年第1期93-97,共5页
本文在研究现有的无线局域网802.11MAC层拥塞控制的基础上,提出了一种增强的拥塞控制性能的算法称为“慢启动递减算法”(SSDS:Slow-StartDecreaseScheme)。该算法通过修改802.11的MAC层中的DCF(DistributeCoordinationFunction)子协议,... 本文在研究现有的无线局域网802.11MAC层拥塞控制的基础上,提出了一种增强的拥塞控制性能的算法称为“慢启动递减算法”(SSDS:Slow-StartDecreaseScheme)。该算法通过修改802.11的MAC层中的DCF(DistributeCoordinationFunction)子协议,改善了IEEE802.11无线局域网在拥塞情况下的性能,提高了网络吞吐量。文中通过仿真对算法进行了分析和研究。 展开更多
关键词 ieee802、1 1 WLAN 拥塞控制 MAC
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IEEE 802.11 DCF机制下的异构网络业务分析模型 被引量:4
17
作者 张朝柱 黄文钰 尹冬梅 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2019年第4期1136-1147,共12页
在众多的IEE E802.11 DCF机制分析模型中,集中分析了同质业务(例如数据包到达速率相同)网络的性能,仅有少量的文献聚焦于异构混合业务(饱和与非饱和工作模式同时存在)网络,而在目前的研究中,对网络的不饱和性及退避时隙冻结等问题归纳... 在众多的IEE E802.11 DCF机制分析模型中,集中分析了同质业务(例如数据包到达速率相同)网络的性能,仅有少量的文献聚焦于异构混合业务(饱和与非饱和工作模式同时存在)网络,而在目前的研究中,对网络的不饱和性及退避时隙冻结等问题归纳分析得并不准确.结合M/G/1排队模型,考虑了DCF机制的退避冻结状态及有限的重传次数等问题,提出了一种全新的改进二维Markov链路模型,用于分析异构混合业务成分下的DCF机制的性能.通过对模型的稳态求解,提出的模型能够分析并计算协议中的3个重要的参数:系统吞吐量、传输时延和传输丢包率.理论仿真与分析结果表明,该模型不仅能够更为准确地分析同质业务下DCF机制的性能,同时充分考虑到了实际应用中的业务情况,还能够更准确、更完善地分析异构混合业务成分下的DCF机制的性能. 展开更多
关键词 DCF ieee 802.11 异构业务 M/G/1排队模型 MARKOV链
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基于IEEE1451.3的IPv6网络传感器设计 被引量:5
18
作者 张森 叶晓慧 王红霞 《电子器件》 EI CAS 2006年第1期193-196,共4页
针对网络环境下的信息获取,研究了传感器网络和IPv6网络之间的融合。结合IEEE1451网络传感器的设计思想,设计了一个以单总线传感器为基础、以IEEE1451.3为接口标准的即插即用的IPv6网络传感器。采用MAXIM公司的DS80C400作为网络接口控制... 针对网络环境下的信息获取,研究了传感器网络和IPv6网络之间的融合。结合IEEE1451网络传感器的设计思想,设计了一个以单总线传感器为基础、以IEEE1451.3为接口标准的即插即用的IPv6网络传感器。采用MAXIM公司的DS80C400作为网络接口控制器,使传感器网络成功地接入IPv6网络。本文着重介绍了网络控制器的开发,即单总线接口、IPv6网络接口的开发以及虚拟TEDS的设计。 展开更多
关键词 IPV6 ieee 1451.3 网络传感器DS80C400 单总线
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短距离可见光通信技术进展与IEEE802.15.7 被引量:12
19
作者 洪文昕 禹忠 +1 位作者 韦玮 彭波 《光通信技术》 CSCD 北大核心 2013年第7期4-7,共4页
介绍了短距离可见光通信的现状及其关键技术的特点与应用。给出了短距离可见光通信的标准,分析了IEEE802.15.7标准中数据链路层(MAC)结构、物理层(PHY)结构以及去除闪烁、调节亮度的方案。指出了可见光通信的关键技术的发展方向。
关键词 可见光通信 ieee802 1 5 7 去除闪烁 亮度调节
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存在隐藏终端的IEEE802.11e多跳无线网络模型分析
20
作者 白翔 毛玉明 +1 位作者 冷甦鹏 谢军 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2008年第6期1867-1871,1889,共6页
首次将802.11e的接入机制放入多跳环境中进行仿真分析和定量研究。提出一种新的多跳环境下802.11e网络模型,结合M/G/1/K排队模型,定量分析在隐藏终端影响下802.11e网络的MAC层吞吐率、MAC时延和帧丢失率,研究802.11e在多跳环境下性能表... 首次将802.11e的接入机制放入多跳环境中进行仿真分析和定量研究。提出一种新的多跳环境下802.11e网络模型,结合M/G/1/K排队模型,定量分析在隐藏终端影响下802.11e网络的MAC层吞吐率、MAC时延和帧丢失率,研究802.11e在多跳环境下性能表现的内在原因。经过仿真实验结果与数值分析结果的对比,验证了分析模型的准确性;通过有(无)隐藏终端影响下MAC层性能的对比分析,指出了802.11e在多跳无线网络中支持QoS的局限性:受隐藏终端的影响,802.11e对不同接入等级的业务提供QoS区分的性能明显降级。因而有必要研究隐藏终端问题的解决方案,提高802.11e在多跳环境下的性能。 展开更多
关键词 ieee802.11E 增强型分布式信道接入 M/G/1/K排队模型 隐藏终端 分析模型
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