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一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构 被引量:7
1
作者 尹志刚 李华伟 李晓维 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2003年第5期23-27,共5页
IEEE1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口。如今,它已成为芯片必不可少的一种“开销”。本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑。
关键词 ieee1149.1标准 国际标准 可测试性设计结构 时序电路
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基于IEEE Std 1149.1-2001标准的TAP控制器设计 被引量:3
2
作者 陈新武 刘金根 《信阳师范学院学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2006年第4期452-454,共3页
在边界扫描协议的实现过程中,TAP控制器的地位比较突出,是非常重要的一块.本文从协议要求出发,使用Verilog-XL对TAP控制器进行逻辑仿真,并用Design Comp iler进行逻辑综合,得到了符合要求的电路.基于IP设计技术,给本电路增加了扫描链,... 在边界扫描协议的实现过程中,TAP控制器的地位比较突出,是非常重要的一块.本文从协议要求出发,使用Verilog-XL对TAP控制器进行逻辑仿真,并用Design Comp iler进行逻辑综合,得到了符合要求的电路.基于IP设计技术,给本电路增加了扫描链,可以作为一个IP软核应用于集成电路的可测试性设计. 展开更多
关键词 边界扫描 ieee STD 1149.1-2001 TAP控制器 Verilog-XL IP核
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基于IEEE1149.1标准的在线测试的研究 被引量:2
3
作者 颜学龙 梁吴林 陈寿宏 《测控技术》 CSCD 2015年第1期55-58,共4页
虽然IEEE1149.1标准的提出及应用很好地解决了集成电路的测试问题,然而该标准在对被测电路进行实时故障诊断时却遇到了瓶颈。针对这一问题,利用并行特征分析器(PSA)及跟踪存储技术设计了一种基于IEEE1149.1标准的测试结构,结构中离线部... 虽然IEEE1149.1标准的提出及应用很好地解决了集成电路的测试问题,然而该标准在对被测电路进行实时故障诊断时却遇到了瓶颈。针对这一问题,利用并行特征分析器(PSA)及跟踪存储技术设计了一种基于IEEE1149.1标准的测试结构,结构中离线部分主要实现边界扫描基础测试并为在线测试提供控制信号,在线部分主要实现实时故障的诊断。设计采用Verilog语言建模,并用QuartusII软件仿真。仿真结果表明该设计能较好地检测出实时故障。 展开更多
关键词 ieee1149.1标准 实时故障 并行特征分析器 跟踪存储
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基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
4
作者 金辉 邵洋 +1 位作者 张铁军 侯朝焕 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第7期183-186,共4页
介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入式调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能。
关键词 可重定向 ieee 1149.1 片上调试 JTAG
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基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计 被引量:3
5
作者 高艳辉 赵蕙 肖铁军 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2010年第11期2550-2552,共3页
为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差、测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫... 为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差、测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫描测试的功能需求入手,设计了边界扫描测试系统的核心——边界扫描控制器,论文对该控制器的设计是采用自顶向下的模块化设计思想,VHDL语言描述实现;并将该控制器嵌入在具有Nios软核CPU的FPGA上,提高了系统设计的灵活性及边界扫描测试的速度;仿真结果表明该设计方案是正确可行的。 展开更多
关键词 ieee1149.1标准 边界扫描控制器 SOPC NIOSII处理器
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边界扫描结构和IEEE1149.1标准
6
作者 王新政 蔡绪涛 +1 位作者 陈达 王浩宇 《海军航空工程学院学报》 2006年第5期535-538,共4页
介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,以及IEEE 1149.1标准规定必须的3个指令.
关键词 边界扫描结构 测试操作 ieee 149.1寄存器 ieee 1149.1指令
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IEEE1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
7
作者 朱恒静 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第1期27-29,共3页
提出了加强测试存取口(TAP)功能的一种方法,使之可以随两个时钟工作,一个用于控制与IEEE1149.1标准相兼容的操作,另一个控制器件所固有的可测试特性.这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性.
关键词 ieee1149.1 测试 存取口 可测性
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IEEE1149.1标准的一些问题
8
作者 林传骝 《国外电子测量技术》 1998年第6期32-36,共5页
本文讨论了IEEE1149.1标准的有关问题和某些问题的解决办法。促使该标准能广泛被接受并在工业中能推广使用。
关键词 ieee1149.1标准 测试 边界扫描 电子元件
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IEEE 1149.1测试的扩充
9
作者 高礼忠 《国外电子测量技术》 2001年第1期11-12,20,共3页
本文讨论了专用边界扫描控制器在PCB板测试中的应用以及如何提高测试数据吞吐量的问题,讨论了专用边界扫描控制器结合传统的在线自动测试设备和飞线探测器在生产环境中的应用。
关键词 边界扫描 ieee1149.1 PCB板测试 专用边界扫描控制器 在线自动测试设备
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利用IEEE 1149.1和1149.4进行模拟测试
10
作者 燕辰 《电子测试》 1999年第8期23-24,44,共3页
所面临的挑战是发展一种从响应不可预测的混合信号器件的模拟部分获取数据的方法
关键词 混合IC 模拟测试 ieee1149.1 ieee1149.4
全文增补中
令IEEE 1149.1扫描链的管理更为方便
11
作者 Brian Stearns 《电子设计应用》 2003年第3期92-92,95,共2页
关键词 ieee1149.1扫描链 集成电路 电路板 测试
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IEEE1149.1产生新标准
12
作者 Dave Bonnett 《电子质量》 2002年第8期22-27,共6页
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务。
关键词 混合信号测试 PCB测试 在板闪速编程 芯片调试 边界扫描 新标准 ieee1149.1
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边界扫描测试协议剖析——从1149.1到1149.6 被引量:9
13
作者 陈新武 余本海 《计算机与数字工程》 2005年第1期25-29,共5页
本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边... 本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边界扫描的发展方向给出了预测。 展开更多
关键词 边界扫描 ieee STD 1149.1 ieee STD 1149.4 ieee STD 1149.5 ieee STD 1149.6
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基于IEEE标准的IJTAG单层网络测试方法
14
作者 黄新 宋博源 +1 位作者 郭晓敏 林洁沁 《现代电子技术》 2022年第1期161-165,共5页
为利用传统JTAG接口实现对SOC内部大量特定IP测试仪器进行测试控制,提出并创新设计了一种基于传统JTAG接口的可通用、可移植的IEEE 1687标准单层网络测试方法。该方法通过结合IEEE 1149.1标准中TAP控制器结构,提出由改进TAP控制器和改... 为利用传统JTAG接口实现对SOC内部大量特定IP测试仪器进行测试控制,提出并创新设计了一种基于传统JTAG接口的可通用、可移植的IEEE 1687标准单层网络测试方法。该方法通过结合IEEE 1149.1标准中TAP控制器结构,提出由改进TAP控制器和改进IR组成IJTAG结构,实现对嵌入式仪器测试访问片内硬件通用接口的设计验证;该测试方法中涵盖了IEEE 1687标准中定义的SIB访问机制和硬件结构,通过外部测试模式选择信号对IR中内置指令进行选择,实现特定SIB打开接入对应测试仪器。该测试方法通过仿真验证了可行性,从而解决了对SOC内部各种测试仪器进行统一测试的控制网络问题,该方法支持常用测试接口标准,同时提出通用操作指令,具有较高的通用性和可移植性。 展开更多
关键词 单层网络测试 IJTAG ieee标准 测试控制 SOC测试 内置指令选择 设计验证
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基于IEEE1149.7的新一代测试接口实现与应用 被引量:6
15
作者 徐志磊 郭筝 《信息技术》 2010年第8期164-166,169,共4页
随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统... 随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求。CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149.1的软件和硬件的兼容性。 展开更多
关键词 CJTAG接口 ieeeSTD1149.7 JTAG接口 ieeeSTD1149.1
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An IEEE 1149.x Embedded Test Coprocessor 被引量:1
16
作者 Ukbagiorgis Iyasu Gebremeskel José Manuel Martins Ferreira 《Circuits and Systems》 2014年第7期170-180,共11页
This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The c... This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The coprocessor uses a fast simplex link (FSL) channel to interface a 32-bit MicroBlaze CPU, but it can work with any microprocessor core that accepts this simple FIFO-based interface method. The implementation cost (logic resource usage for a Xilinx Spartan-6 FPGA) and the performance data (operating frequency) are presented for a test command set comprising two parts: 1) the full IEEE 1149.1 structural test operations;2) a subset of IEEE 1149.7 operations selected to illustrate the implementation of advanced scan formats. 展开更多
关键词 BUILT-IN Test Boundary-Scan EMBEDDED COPROCESSORS MICROBLAZE ieee 1149.1 ieee 1149.7
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基于JTAG的高效调试系统设计与实现 被引量:1
17
作者 张梅娟 辛昆鹏 +1 位作者 王丽娟 邓佳伟 《电子技术应用》 2023年第4期39-43,共5页
为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、... 为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能,还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能。经实际芯片测试证明,该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点。 展开更多
关键词 调试系统 JTAG接口 ieee1149.1 TAP控制器
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基于JTAG标准的处理器片上调试的分析和实现 被引量:12
18
作者 金辉 华斯亮 +1 位作者 张铁军 侯朝焕 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第6期116-119,122,共5页
介绍了一种基于IEEE11 49.1标准的嵌入式处理器片上调试的方法,并以一款DSP处理器SuperV2为研究对象,通过扩充JTAG测试访问端口和指令,并在处理器内增加和修改支持调试功能的逻辑,实现了断点设置、外部调试请求和单步执行的调试功能。
关键词 JTAG 片上调试 ieee 1149.1 SuperV2
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嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现 被引量:9
19
作者 黄海林 范东睿 +4 位作者 许彤 朱鹏飞 郑保建 曹非 陈亮 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2006年第7期1005-1010,共6页
以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.... 以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试. 展开更多
关键词 在片调试 ieee P1149.1 JTAG 龙芯1号处理器
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基于SOPC的边界扫描测试控制器IP核设计 被引量:5
20
作者 陈圣俭 郑伟东 +2 位作者 张开孝 王晋阳 阳智 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2010年第1期23-25,28,共4页
在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产... 在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产生符合IEEE1149.1标准的测试信号控制被测边界扫描系统,进行各种边界扫描测试;该IP核的成功设计,为基于边界扫描的电子系统机内自测试系统的实现,奠定了坚实的应用基础。 展开更多
关键词 ieee1149.1 边界扫描控制器 SOPC IP核
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