基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究

在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果。

基于IEEE1149.7标准的TAP.7适配器研究

随着电子技术的发展,芯片功能日趋复杂,在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势;为避免重复开发所带来的额外开销,利用现有的IP来创造复杂系统芯片成为研究重点,因此TAP.1接口与TAP.7接口适配问题成为芯片设计者所面临的新问题;针对该问题,文章提出了一种基于IEEE 1149.7标准的适配接口TAP.7适配器;结合TAP.7接口结构和新增功能,对TAP.7适配器的设计原理和设计方案进行了详细的介绍;最后对该适配器的TAP.7命令功能和星型扫描技术进行了仿真验证,通过验证结果分析表明:TAP.7适配器实现了TAP.7功能,具备了接口适配的作用,达到了预期的设计目标。

IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究

针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号.

基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究

随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。

基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究

针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求。

TAP.7控制器的电源管理模块研究

IEEE 1149.7标准为了解决功耗问题,提出了可选的TAP.7控制器电源管理模块标准。在测试调试过程中,关闭不需要的芯片或模块电源,以达到减少功耗的目的。当需要时,可重新唤醒。根据IEEE 1149.7标准,采用集成开发环境QuartusⅡ7.2软件平台,具体实现符合标准的电源管理模块,并对其功能进行仿真验证。

IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展

在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展IEEE1149．1可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。

基于FPGA的CJTAG控制器命令控制模块设计

为完成对日益复杂的目标器件的测试工作,在研究边界扫描测试技术和IEEE1149.7标准的基础上,对符合IEEE1149.7标准的边界扫描测试控制器进行设计构建,重点介绍控制器中命令控制功能模块的设计实现。基于Quartus II应用平台进行设计,通过Modelsim完成仿真验证,仿真结果表明,该命令控制模块能够正确产生符合TAP.7控制器命令标准的测试信号。