基于IEEE标准的IJTAG单层网络测试方法

为利用传统JTAG接口实现对SOC内部大量特定IP测试仪器进行测试控制,提出并创新设计了一种基于传统JTAG接口的可通用、可移植的IEEE 1687标准单层网络测试方法。该方法通过结合IEEE 1149.1标准中TAP控制器结构,提出由改进TAP控制器和改进IR组成IJTAG结构,实现对嵌入式仪器测试访问片内硬件通用接口的设计验证;该测试方法中涵盖了IEEE 1687标准中定义的SIB访问机制和硬件结构,通过外部测试模式选择信号对IR中内置指令进行选择,实现特定SIB打开接入对应测试仪器。该测试方法通过仿真验证了可行性,从而解决了对SOC内部各种测试仪器进行统一测试的控制网络问题,该方法支持常用测试接口标准,同时提出通用操作指令,具有较高的通用性和可移植性。

基于IEEE P1687的可变扫描链设计

在系统芯片SoC中,嵌入式仪器的应用越来越广泛;如何利用已经获得广泛应用的IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)实现对嵌入式仪器的访问成为一个新的问题;IEEE P1687(IJTAG)建议标准提供了一个连接TAP与片上嵌入式仪器的界面标准;其特点是在扫描链中插入SIB使得在嵌入式仪器网络设计和嵌入式仪器的访问中扫描链具有灵活可变的特性;介绍了IEEE P1687标准,分析了IEEE 1149.1在嵌入式仪器访问应用中的缺点及IEEE P1687的优势,并设计实现了SIB的功能,给出了P1687的单层与多层网络结构,并对所需功能进行了仿真验证证明方案可行。