基于JTAG标准的在系统编程下载系统接口电路的设计

阐述了基于JTAG标准的在系统编程技术的原理,并以在系统编程下载系统接口电路的设计为例,指出实际应用JTAG标准方法实现在系统编程ISP的关键之处.

JTAG技术的发展和应用综述

JTAG作为测试标准已为芯片设计与制造厂商接受和应用。文章概述了JTAG技术在测试领域的典型应用。同时,随着深亚微米工艺的采用,以及千兆时钟时代的来临和SOC的发展,JTAG已出现很多新的应用和实现方法。着重探讨了JTAG的发展,及其在信号完整性测试、嵌入式调试、差分信号测试等技术中的应用。

LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现

文章介绍了基于 IEEE1149.1协议的 LS－ JTAG边界扫描测试系统的设计和实现。系统以 LS－ JTAG主控器为核心，可以实现对支持协议的 VLSI、 PCB、 MCM和其它数字系统进行边界扫描测试。

支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案

控制系统时钟激励信号的正确打入是芯片内测试的关键所在。以 JTAG协议为基础，文章介绍了芯片时钟端口的设计方法以及对芯片进行内测试时外部时钟信号的控制方法。最后，文章提出了一种应用于多相时钟芯片的测试规则，满足测试对时序的要求。

VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通过两块xc9572pc84芯片互连PCB板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性。

基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究

以CJTAG标准和JTAG标准为依据,在深入研究这两个标准的基础上,利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构,并用Modelsim进行仿真验证,结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试和调试.

一种DDR SDRAM通用测试电路的设计与实现

为了保证DDR SDRAM功能的完整性与可靠性,需要对其进行测试;文中介绍了一种基于FPGA的可带多个March算法的DDR SDRAM通用测试电路的设计与实现,所设计的测试电路可由标准的JTAG接口进行控制;设计的测试电路可以测试板级DDRSDRAM芯片或者作为内建自测试(BIST)电路测试芯片中嵌入式DDR SDRAM模块;验证结果表明所设计的DDR SDRAM通用测试电路可以采用多个不同March算法的组合对不同厂商不同型号的DDR SDRAM进行尽可能高故障覆盖率的测试,具有广阔的应用前景。

边界扫描技术及其在VLSI芯片互连电路测试中的应用

本文介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、以PC机作平台,针对由两块Xilinx公司的xc9572_pc84芯片所互连的PCB板,结合边界扫描技术,探讨了芯片级互连故障的测试与诊断策略。体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高,控制简单方便,易于实现的优越性。

数字IC边界扫描互连故障诊断新方法

介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两块Xilinx 9572 pc84芯片互连电路板进行了实验验证,结果表明,该方法对板级互连故障测试具有定位准确、检测效率高、可靠性高及易于实现的技术优势。

一种烧写TMS320LF240xA的新方法

介绍了TMS320LF240xA内部FALSH的特性和优点,标准JTAG接口各个主要引脚的定义,通过并口将PC与目标板上的边界扫描器件(标准JTAG接口)相连,烧写TMS320LF240xA内部FLASH的新方法。同时,文章论述了烧写TMS320LF240xA内部FLASH的闪存编程命令、烧写FLASH时的步骤和注意事项,给出了CMD文件中变量的定义,以及将const section加载进程序存储器的方法和示例程序。