基于长游程二次编码的测试数据压缩方法

为提高集成电路的测试效率,提出了一种长游程编码的二次压缩方法。该压缩方法的思想是:首先对游程进行一次编码,然后对其中的长游程的编码字进行二次编码。二次编码方法减小了测试编码的长度,从而测试数据得到了进一步的压缩。该方法的硬件开销小,解压方法简单。实验结果表明该方法有效地提高了集成电路测试数据的压缩率。