集成电路标准规范中的LTPD抽样浅析

介绍了集成电路失效率抽样检查的基础理论,论述集成电路标准规范中最常用的LTPD方案,并对LTPD抽样方案中的抽样样本大小进行了计算。

AQL、LTPD以及“零缺陷”三种抽样检验的比较

抽样检验按照检验值的属性可以划分为计量抽样检验和计数抽样检验,而计数抽样检验又包括一次、二次以及多次抽样方案。文章主要介绍了计数型抽样检验中一次抽样方案的基本概念、抽样原理、表征参数、OC函数、OC曲线以及抽样方案辨别力指标。在此基础上,重点介绍了AQL抽样、LDPT抽样以及"零缺陷"抽样三种抽样检验方法的基本构架和检验流程。通过对三种抽样检验方法的分析对比,零缺陷抽样凭借其抽样方法简便、抽样方案经济、质量理念先进的特点,已经逐渐成为现代企业质量检验管理的潮流所向。

功率器件可靠性试验样本数量确定理论及影响

在功率器件的可靠性试验、评估和验证中,样本数量的大小决定着试验结果的准确性。然而,在不同的标准中,对于相同试验,样本数量的选择却不尽相同,给实际应用带来了困难。通过研究各类标准中的试验内容,将样本数量的选择分为探究型试验和验收型试验两类,分析、解释了选择不同样本数量的理由。对样本数量计算公式进行了分析,并将公式中的变量与标准规定指标联系起来。结果表明,批允许不合格率(LTPD)和置信度会影响样本数量。因此,在满足标准规定指标的前提下,可以根据实际需求适当调整试验样本数量,为器件可靠性试验评估提供有效的手段。

基于双方等风险的元器件筛选批次合格判据研究

目前国际电工组织(IEC)及美军发布的标准中集成电路、混合集成电路及半导体分立器件均基于批次允许不合格率(LTPD)进行抽样,一般控制使用方风险为10%。这些标准将元器件缺陷样本数限制在25个,若超过则没法判定批次是否合格。根据美军标中抽样方案中缺陷数小于等于1时,对生产方来说风险太大,而缺陷数大于等于10时,对生产方风险接近零。元器件筛选一般为100%进行检测,其批次样本量与标准中最小样本量往往有出入。目前航空领域二次筛选规范规定的元器件允许不合格率(PDA)要求一般为15%,国内元器件很多厂家对PDA理解有偏差,将批次缺陷比例的观测值与PDA要求值直接进行比较,进一步放宽了要求。针对以上问题将美军标及国军标中的抽样方案进行了修正,提出了基于泊松分布的双方风险均等的筛选方案,并给出了涵盖所有缺陷数的合格判据。

英格兰DNA计划的解读及对中国的启示

2014年,英足总在全国贯彻实施了“英格兰DNA计划”,统一高层足球和基层足球的发展步调,全国青训系统的人才培养效率和培养质量得到提高,优秀年轻球员大量涌现,提升了各级别国家队的竞赛实力,在世界大赛中获得佳绩,对中国具有较好的启发意义。运用文献资料法和逻辑分析法对“英格兰DNA计划”进行了详细解读,并在此基础上对中国足球发展提出以下建议:1)明确和统一各级别国家队的比赛理念,引导全国足球发展方向;2)制定高质量全国青训大纲,向基层拓展延伸足球哲学;3)保障球员全面发展,适应现代足球高水平比赛竞争;4)提升基层青训教练量和质,有效践行统一足球哲学实践。

微波元器件抽样方案对比研究

抽样检验广泛存在于微波元器件的进货检验、过程检验、出厂检验中。本文概述了固定样本量抽样、LTPD抽样和AQL抽样三种常用的抽样方法及其应用,并基于OC曲线分析三种抽样方法的特点,对比首次检验和重新提交的抽样方案的变化并绘制OC曲线图分析,从而促进抽样方法的理解与应用。

有关MIL-S-19500H的点滴研讨

用严格数理统计方法分析表明，在MIL－S－19500H的B和C试验组的同一分组中，小批量比大批量之质量一致性检验（QCI）的批允许不合格品百分数（LTPD）大很多；另外有追加试验样品程序比无追加试验样品程序之辐射强度试验的批允许不合格品百分数（LTPD）也要大一些，由此提醒人们慎用小批量质量一致性检验及有追加试验样品程序的抽样检验方案。