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题名不同氧化物衬底上高质量GaN薄膜的外延生长
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作者
李国强
管云芳
高芳亮
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机构
华南理工大学材料科学与工程学院发光材料与器件国家重点实验室
华南理工大学材料科学与工程学院电子材料科学与工程系
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第10期721-728,共8页
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基金
国家安全重大基础研究(国防973)资助项目
国家自然科学基金资助项目(51002052)
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文摘
通过对比蓝宝石(Al2O3),SiC,Si,ZnO衬底与三种非常规氧化物衬底即LiGaO2,MgAl2O4和LaAlO3衬底上外延生长GaN薄膜的优缺点,指出了在这几种氧化物衬底上生长GaN薄膜所具有的独特优势;针对氧化物衬底上生长GaN薄膜的问题,提出了相应的解决方法,进而明确指出了研究非常规氧化物衬底的重要意义。在此基础上,详细介绍了在三种氧化物衬底上生长高质量GaN薄膜的方法及研究进展,为高晶体质量GaN薄膜的生长及Ⅲ族氮化物半导体器件的应用研究、特别是基于非常规氧化物衬底的研究起到很好的指导意义。
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关键词
氧化物衬底
LiGaO2
MGAL2O4
LAALO3
GAN薄膜
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Keywords
oxide substrate
liga02
MgA12O4
LaAIO3
GaN film
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分类号
TN304.054
[电子电信—物理电子学]
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