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用于T形栅光刻的新型移相掩模技术
被引量:
2
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作者
韩安云
王育中
+5 位作者
王维军
张 倩
田振文
樊照田
陈宝钦
崔 铮
《微纳电子技术》
CAS
2002年第5期37-40,共4页
根据移相掩模基本原理,通过光刻工艺模拟提出了一种适于T形栅光刻的新型移相掩模技术——M-PEL。初步实验证明,M-PEL技术可在单层厚胶上经一次光刻形成理想的T形栅抗蚀剂形貌。
关键词
光学光刻
移相掩模
T形栅
m-pel
下载PDF
职称材料
题名
用于T形栅光刻的新型移相掩模技术
被引量:
2
1
作者
韩安云
王育中
王维军
张 倩
田振文
樊照田
陈宝钦
崔 铮
机构
信息产业部电子第十三研究所
中国科学院微电子中心
英国卢瑟福国家实验室微结构研究中心
出处
《微纳电子技术》
CAS
2002年第5期37-40,共4页
文摘
根据移相掩模基本原理,通过光刻工艺模拟提出了一种适于T形栅光刻的新型移相掩模技术——M-PEL。初步实验证明,M-PEL技术可在单层厚胶上经一次光刻形成理想的T形栅抗蚀剂形貌。
关键词
光学光刻
移相掩模
T形栅
m-pel
Keywords
photolithography
phase-shift mask
T-shaped gate
m-pel
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
用于T形栅光刻的新型移相掩模技术
韩安云
王育中
王维军
张 倩
田振文
樊照田
陈宝钦
崔 铮
《微纳电子技术》
CAS
2002
2
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