数控机床圆轨迹非接触式激光测量原理及应用

圆轨迹测量对数控机床的精度评价非常重要。提出数控机床的非接触式激光测量方法,阐述该方法的特点及设备结构,推导基本数学模型,介绍基本测量流程并给出应用实例。该方法测量精确,操作方便,尤其在小半径高进给这一其他方法的弱势领域表现优异。

非接触方法测量薄膜厚度的研究

讨论了非接触测量技术,介绍了各种技术的基本原理及其特点,指出了物体厚度测量技术、数据处理技术以及特征提取技术的有机结合是实现各种测量技术广泛应用的重要基础。