Nose-to-nose校准技术的理论分析

Nose- to- nose校准技术的理论基础是 :kick -out脉冲正比于取样示波器系统的冲激响应 .Janverspecht博士和美国国家标准技术研究院 (NIST)用S参数法对此进行了详尽的分析 .本文从电路理论分析入手 ,对kick- out脉冲产生的机理重新进行了分析 ,得出了十分有用的数学表达式和结论 :kick out脉冲不仅与电路参数有关 ,而且与选通脉冲有关 .这一结论并被计算机的仿真所证实 ,这用以前的理论是无法解释的 .

宽带取样示波器Nose-to-Nose校正理论的新进展

本文根据电路、信号与系统理论并结合实际校测工作对一种适于高速 /宽带取样示波器性能校正的新方法———Nose to Nose (NTN)法的理论基础作了研究 ,分析了该方法中的重要信号kick out脉冲 ,推导了其数学表达式 ,提出了“kick out脉冲与示波器取样系统的阶跃响应成比例”的新观点 。

用于宽带取样示波器的Nose-to-nose校准技术

介绍一种宽带系统校准的新方法 ,对比几种传统的校准方法 ,这种称为nose to nose的校准方法是目前校准精度最高的一种 .这项技术所基于的一个基本事实是 :当示波器的取样电路对直流电压取样时 ,会产生一个极窄的脉冲到输入端 ,这个脉冲正比于系统的冲激响应 ,称为kick out脉冲 ,这样将两台示波器的输入端对接就在第二台示波器上得到了含有两台示波器冲激响应的卷积输出 ,应用反卷积算法可以得到这两台示波器的冲激响应函数 .

基于Nose-to-Nose校准法的取样示波器冲激响应的一种算法

本文根据时变电路概念和信号与电路系统理论 ,利用Nose to Nose(NTN)校正法 ,对取样示波器的双二极管平衡型取样电路建立了时变线性电路模型 ,导出了kick out脉冲和取样系统冲激响应的时域表达式 ,证明了该脉冲是NTN校正中的零输入响应而非冲激响应 ,提出了从kick out脉冲中提取时间常数从而确定取样器冲激响应的新的数据处理方法与公式 ,有效地解决了NTN校正中取样管结电容变化对校正精度的影响问题 .

取样示波器nose-to-nose校准技术中kick-out脉冲的研究

研究了nose-to-nose校准技术中关键信号kick-out脉冲产生的机理以及影响因素,并通过将两台Agilent86100系列的50GHz的取样示波器对接,获得了kick-out脉冲的响应波形.

Nose-to-Nose校准技术的仿真研究

N ose-to-nose校准技术可以对任意带宽的取样示波器进行自校准.早期的研究工作集中在对关键信号k ick-ou t脉冲的仿真.本文从不同的角度对微波二极管取样头电路进行了全面的仿真,得到了结论:k ick-ou t脉冲是由于在取样电路的不平衡时选通脉冲的泄漏造成的.并对NTN校准技术从仿真实验到物理实验做了介绍.