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PCVD法制高Si钢片的研究 被引量:7
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作者 王蕾 吴新杰 +1 位作者 李平生 陈大凯 《金属热处理》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第12期27-29,共3页
一般软磁硅钢含硅量小于 3 5 % ,超过此限则难于加工。为了提高硅钢的磁性 ,除通过冷轧提高硅钢织构度外 ,最有效的方法是提高钢片硅含量 ,达 6 5 %Si为最佳。由于超过 3 5 %Si含量的钢 ,无法轧制成薄片。为此用等离子体化学气相沉积方... 一般软磁硅钢含硅量小于 3 5 % ,超过此限则难于加工。为了提高硅钢的磁性 ,除通过冷轧提高硅钢织构度外 ,最有效的方法是提高钢片硅含量 ,达 6 5 %Si为最佳。由于超过 3 5 %Si含量的钢 ,无法轧制成薄片。为此用等离子体化学气相沉积方法 (thePlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition) ,在 0 1~ 0 3mm厚的普通硅钢片表面涂硅 ,再进行短时间高温扩散 ,使硅钢平均含硅量可达 6 5 % 。 展开更多
关键词 硅钢 pcvd 磁性 化学气相沉积
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PCVD法渗Si的研究 被引量:7
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作者 王蕾 周树清 陈大凯 《武汉科技大学学报》 CAS 2000年第3期245-246,共2页
为解决硅含量超过 3.5 %的硅钢片无法轧制成薄片的矛盾 ,探讨用等离子体化学气相沉积法 (PCVD法 ) ,在 (0 .1~ 0 .3) mm厚的普通硅钢片表面涂硅 ,然后进行短时间高温扩散 ,使硅钢片平均含硅量达 6 .5 % ,磁性能达到或超过冷轧取向硅钢... 为解决硅含量超过 3.5 %的硅钢片无法轧制成薄片的矛盾 ,探讨用等离子体化学气相沉积法 (PCVD法 ) ,在 (0 .1~ 0 .3) mm厚的普通硅钢片表面涂硅 ,然后进行短时间高温扩散 ,使硅钢片平均含硅量达 6 .5 % ,磁性能达到或超过冷轧取向硅钢片性能。 展开更多
关键词 硅钢片 PVCD法 渗硅 电工材料
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PCVD法制作高硅硅钢片的研究 被引量:4
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作者 王蕾 周树清 陈大凯 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2000年第6期46-47,共2页
用等离子体化学气相沉积方法 (PCVD) ,在 0 .1~ 0 .3mm厚的普通硅钢片表面涂硅 ,再进行短时间高温扩散 ,使硅钢平均含硅量达 6 .5 % ,磁性能超过或达到冷轧取向硅钢水平。
关键词 硅钢 pcvd 涂层 CVD 含硅量 试验研究
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PCVD法制6.5%Si电工钢的研究 被引量:2
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作者 吴润 张细菊 +1 位作者 吴新杰 陈大凯 《表面技术》 EI CAS CSCD 1997年第4期14-15,共2页
研究了PCVD法在电工钢上沉积Si的规律及其电磁性能,探讨了处理温度对表层中Si含量影响。DW620—50电工钢经PCVD处理后磁性能得以改善,高温扩散后其铁损降低了45.2%,磁饱和强度提高了4.5%。
关键词 pcvd 电工钢 高温扩散 沉积
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挤压轮表面PCVD法制备T(iCN)涂层组织与性能
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作者 黄春红 张学飞 +1 位作者 李健 梁志方 《机械设计与制造》 北大核心 2012年第5期129-131,共3页
通过挤压轮的失效形式分析,表面裂纹是引起其失效的主要原因。应用PCVD法对挤压轮(H13)进行表面改性处理,在其表面备制了一层T(iCN)涂层。通过扫描电镜观察T(iCN)涂层表面的形貌以及断口组织形貌,用EDS对其化学元素进行能谱分析,测试了T... 通过挤压轮的失效形式分析,表面裂纹是引起其失效的主要原因。应用PCVD法对挤压轮(H13)进行表面改性处理,在其表面备制了一层T(iCN)涂层。通过扫描电镜观察T(iCN)涂层表面的形貌以及断口组织形貌,用EDS对其化学元素进行能谱分析,测试了T(iCN)涂层表面显微硬度和粗糙度。结果表明T(iCN)涂层中所含Ti元素的质量和原子百分比为最多,涂层界面结合良好,其表面硬度为1004HV,粗糙度为1.23μm,有利于改善其疲劳性能和延长使用寿命。 展开更多
关键词 挤压轮 pcvd T(iCN)涂层 硬度 粗糙度
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直流PCVD方法制备α-Si:D/H薄膜
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作者 陈小兵 毛翔宇 +4 位作者 凌帆 高维山 赵成 Chang J S Berezin A A 《扬州师院学报(自然科学版)》 CSCD 1997年第2期45-49,共5页
将 Ar(95%)-SiH_4(2.5%)-D_2(2.5%)混合气体在等离子体直流正辉区用化学气相沉淀(PCVD))方法制备 a-Si:D/H 薄膜.采用双探针技术测量了混合气体等离子体参数,红外照相方法测量了反应腔壁温度.结果表明,基片支架对反应腔的等离子体有干扰... 将 Ar(95%)-SiH_4(2.5%)-D_2(2.5%)混合气体在等离子体直流正辉区用化学气相沉淀(PCVD))方法制备 a-Si:D/H 薄膜.采用双探针技术测量了混合气体等离子体参数,红外照相方法测量了反应腔壁温度.结果表明,基片支架对反应腔的等离子体有干扰,反应腔壁温度分布不均匀;基片温度高的区域薄膜沉淀速率大;加大电源功率可提高薄膜沉淀速率. 展开更多
关键词 氘化非晶硅 pcvd方法 电子浓度 薄膜 半导体
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