SEC-DED海明校验码算法研究及其FPGA实现

采用Multisim 11实现了SEC-DED海明码的编码、译码和纠错电路,并给出其相应时序仿真波形图.结果表明:其功能能满足SEC-DED的需要,为FPGA快速准确实现SEC-DED校验码提供了一种占用资源少、校验可靠高速的方案.

改进的非二元t-sEC/AUED码的构造方法

符方伟等人提出了在Magnitude错误标准下一种码字长度为n的非二元t-sEC/AUED码的构造方法。在n?1是素数的幂次的情况下,给出了一种新的构造方法,证明由这种新的构造方法产生的码字个数的下界要强于文献[1]中给出的下界。

中美企业内控监管规范的差异性分析——以总体国家安全观为视角

从企业内、外部监管机制、企业会计责任制度以及处罚力度方面对中美企业内控监管规范进行比较分析,指出中国应当规范企业监管主体职责,明确监管对象主体责任;规范细化中国的会计责任制度,使规定更为具体,更具有可操作性;完善中国信息披露制度,增加重大情况披露、以及披露信息的实时性规定,使之精细化;强化中国行政指导和法律责任方面的执法力度。

扩展三值纠一检二码原理与设计

本文在三值汉明码一位检错纠错研究工作的基础上,对三值汉明码的检错纠错方法进行进一步研究.给出了扩展三值汉明码的形式,通过对扩展三值汉明码的错误分析获得了一位纠错和二位检错原理,给出了扩展三值汉明码的纠错码表,根据纠错码表提出了一位纠错方法,给出了基于三值光学计算机的扩展三值汉明码检错纠错概念结构图和功能部件,为检错纠错系统的光学设计提供一种途径.

Bh序列和Magnitude错误标准下m元纠错码构造

文献对Bh序列和Magnitude错误标准下m元t-sEC/AUED码的关系进行了讨论,在此基础上提出了一种Magnitude错误标准下m元可纠t个对称错的纠错码的构造方法,并相应地给出了可纠t个对称错的纠错码码字个数的下界。

国内外油气储量分类标准差异的探讨

认识和掌握国内外石油储量的定义和分类的差异是进行海外油气资产并购的前提和基础。介绍国内外油气储量的定义及分类标准,探讨各储量分类标准的适用范围及分类级别的侧重点,并对国内外2套标准在发展过程中趋于一致的现状进行了分析。国际标准主要以剩余经济可采储量为侧重点,而国家标准重点强调原始地质储量。对于石油企业而言,国际分类是海外业务拓展的基础,国内分类是制定企业中长期发展战略的重要依据。最后对中国石油企业国际化进程中的储量管理工作提出了3点建议。

DDR存储器单粒子翻转试验及加固设计研究进展

概述了国内外对DDR存储器单粒子翻转试验与加固设计的研究历史及现状,并对其未来趋势进行展望.国内外研究人员开展了许多DDR存储器单粒子翻转相关试验,对各代DDR存储器的单粒子翻转截面和翻转阈值进行统计对比.通过对试验过程及其结果进行分析总结,研究工艺制程、存储容量及辐射剂量与单粒子翻转截面间的关系,发现随着DDR存储器工艺尺度的缩小、存储容量的增大,其对单粒子翻转的敏感度也逐渐增大.现有的DDR存储器抗单粒子翻转加固主要分为工艺加固和设计加固,包括SOI工艺、版图加固、电路冗余和纠错码等.简述了各类加固方法的机理,分析了各类加固方法的优势及存在的不足,并重点介绍了更具有普适性的纠检错算法加固,包括片上纠错码和EDAC(Error Detection and Correction)IP核.通过对几种典型的纠错码在纠检错能力、时间延迟、面积开销和功耗上加以对比,发现SEC-DED(Single Error Correction-Double Error Detection)海明校验码可用于纠正单粒子单位翻转,正交拉丁方码在纠正单粒子多位翻转方面优势显著,这为后续提出新的DDR存储器抗单粒子翻转加固方法提供了思路.

ASME核规范标记的要求

为了迎接我国第三代核技术的引进,适应国际市场竞争的要求,有能力的核设备建造企业持有ASME核设备授权证书和钢印势在必行。本文较为详细地介绍了ASME核规范中关于物项(包括设备、零件、附件、管道分组件、堆芯支撑等)的规范标记的要求。

An upper bound on the size of m-ary t-sEC/AUED codes

Finding good upper bound for the size of m-ary t-symmetric error correcting codes （t-sEC/AUED codes） codes is the main problem in the coding theory of m-ary t-sEC/AUED codes. Based on the method of Lagrange multipliers, We shall derive an upper bound on the size of m-ary t-sEC/AUED in this paper. Some examples achieved this upper bound are also given in this paper.