SPRITE探测器调制传递函数测试方法研究

研究和测量SPRITE探测器调制传递函数 (MTF) ,是为了分析、评价该探测器的空间分辨性能。先前的研究论文己报道了多种测试方法 ,本文据此进行了分析、研究 ,提出了基于平面干涉条纹的空间正弦波响应测试方法。该方法能消除光源、测试目标和光学成像系统引入的测量偏差 ,而且便于多光谱段的SPRITE探测器MTF测试。

SPRITE探测器热成像系统的性能评价方法研究

文中分析了SPRITE探测器与一般离散阵列探测器在性能评价方面的特殊性 ,建立了相应的性能评价模型 ,介绍了其中一些主要的处理方法 ,编制了热成像系统静态性能模拟软件包 ,通过计算机模拟结果与英国UKTICM -Ⅱ的技术指标以及国产系统测试结果的比较 ,证明了模型的可靠性和可行性。

叠盖电极高性能SPRITE探测器

由于扫出效应 ,载流子大量聚集在邻近电极的区域 ,但电极处的强复合作用使SPRITE读出区光生载流子数衰减很多 ,采用叠盖电极技术可以有效地阻止载流子在地电极处的快速复合 ,读出区中光生非平衡载流子总数为无叠盖电极时的 2 .18倍 ,输出信号大幅度提高。该技术对现有工艺的改变极小 ,是一种比较现实的提高SPRITE探测器性能的有效办法。叠盖电极用于SPRITE探测器 ,可明显提高性能。

叠盖电极技术在SPRITE探测器上的应用

文中主要介绍了叠盖电极技术在SPRITE探测器上的实际应用,并给出了具体实验结果。选择适当的叠盖电极尺寸可以使SPRITE的响应率Rv提高一倍以上,探测率D 普遍提高30%左右,高的可达80%。实验结果表明,叠盖电极技术明显地提高了SPRITE器件的性能,是一种简便的提高SPRITE性能的新途径。

SPRITE探测器时空滤波特性分析

用ＳＰＲＩＴＥ探测器的脉冲响应（格林函数）描述了基于时间频率和空间频率变化的ＳＰＲＩＴＥ探测器光学传递函数（ＯＴＦ）、调制传递函数ＭＴＦ和相位传递函数（ＰＴＦ）。

8×2元SPRITE探测器对热成像系统性能改善的模拟分析

研究了采用CCD实现移位延时的nv×ns 元SPRITE探测器的性能模型 ,分析了相对于nv× 1元SPRITE探测器对热成像系统性能的改善 ,模拟计算表明 :采用串联技术可满足实际高性能热成像系统的需求。同时 ,此研究也扩展了热成像系统性能模型的适用范围 ,对于热成像系统的性能分析、方案论证以及优化设计等都有实际意义。

线扩散函数法用于SPRITE探测器调制传递函数测试

在ＳＰＲＩＴＥ探测器的研制和生产检验中，对其调制传递函数（ ＭＴＦ） 进行测试，可以分析和评价探测器的空间分辨率。文中将线扩散函数法用于该方面的测试，描述了一般的光路安排和自动测试方案，而且考虑了测试用光学投影系统对探测器 ＭＴＦ 测试的影响，以及相应的测试、补偿方法。

SPRITE探测器截止波长与HgCdTe材料组份的关系

根据探测器截止波长的变化，讨论和确定了ＨｇＣｄＴｅ材料组份的实际偏差量。从ＳＰＲＩＴＥ探测器截止波长的测量结果计算，对用布里奇曼、Ｔｅ溶剂和固态再结晶等三种体晶技术生长的长波ＨｇＣｄＴｅ材料，在１ｍｍ２的面积上，材料组份的偏差量均能优于±０．００１５ｍｏｌｅ，在１ｃｍ２的面积上，统计平均的组份偏差相应要增大约一个数量级。

SPRITE红外探测器性能的最佳应用

文章介绍了工作波段为 8～ 12 .5μm、工作温度为 80K ,器件尺寸 :长度L =70 0 μm、宽度w=6 2 .5μm、厚度d =7μm、读出区面积wl=6 2 .5μm× 50 μm(名义值 )的 8条SPRITE红外探测器制造和性能 ;描述了器件工作电压和探测器性能的关系 ;讨论了该探测器在热成像系统中最佳使用偏置应为 6 0V/cm ,而不是目前的 30V/cm ;对SPRITE探测器进行了理论分析 ,指出 :在热成像系统中 ,偏置为 6 0V/cm的SPRITE探测器将获得最佳应用 ,其性能优于 16 0元背景限线列探测器 ;还讨论了探测器的热负载和工作电压的关系。

基于SPRITE探测器的低噪声前置放大器的设计

为拓展热成像技术的应用 ,使其可以应用到除军事领域外的其它商业范围 ,本文就其中的微弱信号处理技术进行了研究 .采用国内市场可购得的AD797作核心芯片 ,对SPRITE探测器输出的微弱信号进行了放大、缓冲 。

自动焊接技术在SPRITE探测器内引线联接工艺中的应用

为使自动金丝球焊接技术应用于碲镉汞红外器件的研制工艺，在大量试验的基础上，摸索出了一套使用自动金丝球焊接技术进行ＳＰＲＩＴＥ红外器件内引线焊接的可靠方法。文中还对自动焊接的精度和最小间距进行了探讨。

干涉法测SPRITE红外探测器MTF的研究

提出用迈克尔逊干涉条纹测SPRITE探测器的调制传递函数的方法,并主要对迈克尔逊干涉条纹光强的具体分布情况进行了分析。

SPRITE探测器在小批量试生产阶段的维修性改善

国内外武器装备发展与应用的实践证明,开展维修性工作,改善维修性,对提高部队战斗力、节省装备寿命周期费用有着极其重要的作用。SPRITE探测器是红外热像仪中的关键重要部件,在其小批量试生产阶段从提高可靠性出发,对它的维修性进行了改善,取得了较好的社会效益和经济效益。

Sprite探测器调制传递函数的理论分析

本文从Sprite(Signal Processing in the element)探测器的工作原理及载流子输运理论出发,分析了调制传递函数(MTF)与探测器材料、工作条件、几何形状及尺寸的关系。指出沿探测器长度方向的空间分辨率主要是非平衡载流子浓度的扩散运动确定的。导出了探测器的MTF的数学表达式,并进行了分析。讨论了改善MTF和空间分辨率的途径及存在的限制。指出了Sprite探测器设计与制造的优化方法。

长波红外材料n型Hg_(1-x)Cd_xTe载流子寿命

测量了３种不同生长方法（加速坩埚旋转布里奇曼法、固态再结晶法和改进的布里奇曼生长大直径晶体法）制备的长波红外蹄镉汞晶体（块晶）载流子寿命的温度变化关系，与窄禁带半导体载流子复合机构的理论计算结果比较表明，优质晶体中是以带间碰撞复合为主。

HgCdTe体晶的组份均匀性分析

利用ＳＰＲＩＴＥ探测器的截止波长研究了布里奇曼、Ｔｅ溶剂和固态再结晶３种方法制备的ＨｇＣｄＴｅ体晶组份的均匀性。实验结果表明：３种方法生长的ＨｇＣｄＴｅ晶片的组份均匀性大致相当。用任意一种材料研制的一个８条ＳＰＲＩＴＥ探测器，其任意２条的截止波长差不大于０．８μｍ的概率大于９８％．

Ⅱ类热成像光机扫描技术的发展

根据武器系统的要求，缩小了军用热像仪扫描器的尺寸并减轻了其重量，指出改善空间分辨率是提高Ⅱ类热像仪性能的主要技术手段。认为采用限制孔径望远镜和变形光学系统是改善空间分辨率的简便而又经济的途径。