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用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试
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作者 Keithley Inc 《电子质量》 2003年第2期7-9,共3页
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。
关键词 4200-SCS 超低电流测试 接地 屏蔽 噪声 半导体特性分析系统
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