基于M451和SI5040的10G误码测试仪的设计与实现

10G误码测试仪是用于测量10G数据传输设备链路通道质量的一种重测试设备,是一种可靠的通信系统测量工具。10G误码测试仪被广泛地应用于通信设备的生产调试、检验以及日常维护等方面。根据此功能,文章研究并设计了一种基于M451和SI5040的误码测试仪,详细地分析和介绍了各个模块的工作原理。

基于ARM Cortex-M3的高速误码测试系统设计

误码测试仪是评估通信信道的测试仪器。基于国内高速误码测试仪空缺、国外高速误码仪价格昂贵的现状,提出一种新的基于ARM Cortex-M3微处理器LM3S9B90和10 Gbit/s光收发器SI5040的简易、低廉的高速误码测试系统。经测试,该系统在保持成本低廉的同时还有较好的误码测试性能。

基于ADμC7020的高速误码测试仪

针对国内外高速误码测试仪价格昂贵、系统复杂的现状,采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratories公司生产的XFP收发芯片Si5040,设计一种简易、低成本的误码测试系统。系统由Si5040、ADμC7020和虚拟仪器Lab Windows/CVI组成。Si5040具有可编程的伪随机码比特流生成和比较功能,读出误码值,通过ADμC7020计算得到误码率,并通过I2C接口与Lab Windows/CVI构成的上位机进行通信。