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A/D转换芯片静态参数直方图测试法公式推导
被引量:
1
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作者
谢力
《电子质量》
2007年第11期12-16,共5页
本文主要介绍了A/D转换芯片的静态参数的定义(以单极性为例),并推导出直方图测试法的静态参数计算公式。
关键词
A/D转换芯片
静态参数
直方圈测试法
下载PDF
职称材料
题名
A/D转换芯片静态参数直方图测试法公式推导
被引量:
1
1
作者
谢力
机构
国电自动化研究院
出处
《电子质量》
2007年第11期12-16,共5页
文摘
本文主要介绍了A/D转换芯片的静态参数的定义(以单极性为例),并推导出直方图测试法的静态参数计算公式。
关键词
A/D转换芯片
静态参数
直方圈测试法
Keywords
Digital to analog converter
Static parameters
sistogram method
分类号
TN792 [电子电信—电路与系统]
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作者
出处
发文年
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1
A/D转换芯片静态参数直方图测试法公式推导
谢力
《电子质量》
2007
1
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