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P元素对Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料抗氧化性、润湿性以及显微组织的影响 被引量:1
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作者 崔泰然 林健 +2 位作者 王同举 李康立 雷永平 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2023年第3期367-373,共7页
为改善Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料抗氧化性和润湿性差的问题,在钎料中添加了P元素,研究了微量P元素对Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料抗氧化性、润湿性以及显微组织的影响。制备了含不同质量分数P元素的Sn-0.3Ag-0.7Cu-xP(x=0%,0.005%,0.010%,0.015%,0.020%... 为改善Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料抗氧化性和润湿性差的问题,在钎料中添加了P元素,研究了微量P元素对Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料抗氧化性、润湿性以及显微组织的影响。制备了含不同质量分数P元素的Sn-0.3Ag-0.7Cu-xP(x=0%,0.005%,0.010%,0.015%,0.020%)钎料。以实验的方式测试了钎料的抗氧化性以及润湿性,并使用扫描电镜(SEM)和能谱仪(EDS)观察了显微组织。结果表明:随着P含量的增加,钎料的抗氧化性和润湿性显著提高。当P含量达到0.020%时,与不添加P元素的钎料相比,在250℃保温30 min后的氧化渣质量由2.25 g减少到0.79 g。此时,钎料的铺展面积和润湿力也达到最大,分别为65.74 mm^(2)和5.04 mN,润湿时间为0.96 s。添加微量P元素未改变钎料的相组成,其显微组织主要由β-Sn、Ag_(3)Sn与Cu_(6)Sn_(5)三种相构成。随着P含量的增加,Ag_(3)Sn的形态由粒状向片状转变。 展开更多
关键词 sn-0.3ag-0.7Cu钎料 P元素 抗氧化性 润湿性 显微组织
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稀土Pr对Sn-0.3Ag-0.7Cu无铅钎料显微组织和润湿性能的影响 被引量:3
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作者 冯晓乐 杨洁 《电焊机》 2015年第10期116-119,共4页
采用XJP-300型光学显微镜以及日立扫描电子显微镜S-3400N对Sn-0.3Ag-0.7Cu-x Pr无铅钎料的显微组织进行观察和分析,采用润湿平衡法,研究了钎料在Cu基板上的润湿性能。研究结果表明,微量稀土Pr可以改善Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料的显微组织和润... 采用XJP-300型光学显微镜以及日立扫描电子显微镜S-3400N对Sn-0.3Ag-0.7Cu-x Pr无铅钎料的显微组织进行观察和分析,采用润湿平衡法,研究了钎料在Cu基板上的润湿性能。研究结果表明,微量稀土Pr可以改善Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料的显微组织和润湿性能。当Pr的添加量约为0.05%时,Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料的显微组织得到最大程度的细化以及均匀化,同时钎料具有最大润湿力。在260℃的钎焊温度下,SnAgCu-0.1Pr的润湿力与SnAgCu钎料相比,提高了5.0%,润湿时间降低了16.9%。当Pr含量继续增加时,钎料中出现大块的稀土相。同时钎料的润湿时间增长,润湿性能变差。 展开更多
关键词 sn-0.3ag-0.7Cu无铅钎料 显微组织 润湿性能
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工艺参数对Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu焊点界面组织和力学性能的影响 被引量:4
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作者 师磊 卫国强 +1 位作者 罗道军 贺光辉 《特种铸造及有色合金》 CAS CSCD 北大核心 2012年第2期168-171,175,共5页
互连焊点界面反应形成的金属间化合物(IMC)对焊点服役可靠性会产生显著影响。研究了不同工艺参数(回流温度、回流时间和回流次数)条件下,Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu焊点界面金属间化合物的演变及对焊点力学性能的影响,同时对焊点断裂机制进行了... 互连焊点界面反应形成的金属间化合物(IMC)对焊点服役可靠性会产生显著影响。研究了不同工艺参数(回流温度、回流时间和回流次数)条件下,Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu焊点界面金属间化合物的演变及对焊点力学性能的影响,同时对焊点断裂机制进行了分析。结果表明,随着回流温度和回流时间的增加,金属间化合物η-Cu6Sn5相的形貌由贝状向板条状转变,并可观察到η相溶入焊点内部。在265℃回流时,随着回流时间增加,贝状η相不断长大,晶粒数不断减少;界面IMC的生长符合幂指数生长规律,其生长指数为0.339。回流次数对焊点剪切强度的影响为先增后减,断裂模式从纯剪切断裂到微孔聚集型断裂再到局部脆断转变。 展开更多
关键词 sn-0.3ag-0.7Cu无铅钎料 回流焊 IMC形貌 剪切强度 断裂机制
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电子封装用低银Sn-0.3Ag-0.7Cu钎料研究进展 被引量:2
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作者 孔祥霞 翟军军 孙凤莲 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第12期39-54,共16页
随着电子封装无铅化、高集成度需求的不断提升,开发低成本、高性能的无铅封装材料对传统含铅材料进行有效替代已成为全球关注的热点。目前所开发的Sn-Ag-Cu系无铅钎料中含银量最低的Sn-0.3Ag-0.7Cu(SAC0307)钎料具有较好的延展性、抗冲... 随着电子封装无铅化、高集成度需求的不断提升,开发低成本、高性能的无铅封装材料对传统含铅材料进行有效替代已成为全球关注的热点。目前所开发的Sn-Ag-Cu系无铅钎料中含银量最低的Sn-0.3Ag-0.7Cu(SAC0307)钎料具有较好的延展性、抗冲击跌落性能且成本低等优点,但也存在熔点高,力学性能和抗热疲劳性能低等问题导致其可靠性降低。为进一步促进电子封装用低银SAC0307钎料的发展,改善其力学性能和可靠性,新型低银SAC0307复合钎料的研究成为重要研究方向之一。简述近十年来国内外低银SAC0307复合钎料的研究现状,着重从添加合金元素、金属纳米颗粒、金属氧化物颗粒、碳纳米颗粒及其他非金属材料方面回顾总结了低银SAC0307钎料改性工作方面的研究成果,以期为后续研发高性能的新型低银SAC0307复合钎料提供一定的帮助。 展开更多
关键词 sn-0.3ag-0.7Cu 合金元素 纳米颗粒 金属间化合物 力学性能
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回流焊对SnAgCu焊点IMC及剪切强度的影响 被引量:9
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作者 王玲玲 孙凤莲 +1 位作者 王丽凤 刘洋 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2009年第9期73-76,共4页
研究了回流焊次数对Sn-0.3Ag-0.7Cu-xNi/Cu(x=0,0.05)焊点的界面反应及其剪切强度的影响。结果表明:随着回流焊次数的增加,界面金属间化合物(IMC)Cu6Sn5和(Cu1-xNix)6Sn5的厚度均增加。在钎料中添加w(Ni)为0.05%,可有效抑制IMC的生长,... 研究了回流焊次数对Sn-0.3Ag-0.7Cu-xNi/Cu(x=0,0.05)焊点的界面反应及其剪切强度的影响。结果表明:随着回流焊次数的增加,界面金属间化合物(IMC)Cu6Sn5和(Cu1-xNix)6Sn5的厚度均增加。在钎料中添加w(Ni)为0.05%,可有效抑制IMC的生长,与回流焊次数无关。回流焊次数对Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.05Ni/Cu的剪切强度影响都不大,五次回流焊后剪切强度略有下降,剪切强度分别为21MPa和25MPa。发现断裂面部分在钎料中,部分在钎料和IMC之间。 展开更多
关键词 回流焊 sn-0.3ag-0.7cu-xni钎料 IMC 剪切强度
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回流焊对SnAgCuBi/Cu焊点IMC及剪切强度的影响 被引量:3
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作者 权延慧 孙凤莲 +1 位作者 王丽凤 刘洋 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2009年第7期73-76,共4页
利用金相显微镜和扫描电镜对多次回流焊后的Sn-0.3Ag-0.7Cu-xBi/Cu焊点IMC和剪切断口形貌进行了观察和分析。结果表明:Bi的加入提高了接头剪切强度,且随着Bi含量的增加而增加,当w(Bi)为4.5%时达最大值45.07MPa,同时Bi的加入有效抑制了焊... 利用金相显微镜和扫描电镜对多次回流焊后的Sn-0.3Ag-0.7Cu-xBi/Cu焊点IMC和剪切断口形貌进行了观察和分析。结果表明:Bi的加入提高了接头剪切强度,且随着Bi含量的增加而增加,当w(Bi)为4.5%时达最大值45.07MPa,同时Bi的加入有效抑制了焊点IMC的增长。经过5次回流焊后,未加入Bi的焊点剪切强度由24.55MPa下降到20.82MPa,而加入w(Bi)为3.0%的焊点剪切强度由35.95MPa下降到32.46MPa。 展开更多
关键词 回流焊 sn-0.3ag-0.7Cu-xBi钎料 剪切强度 IMC
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SnAgCu体钎料及BGA焊球焊点纳米级力学性能 被引量:2
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作者 颜廷亮 孙凤莲 +1 位作者 马鑫 王丽凤 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2008年第9期69-72,共4页
为了研究低银Sn-0.3Ag-0.7Cu无铅体钎料、BGA焊料小球和BGA焊点的力学行为,基于物理反分析的方法采用纳米压痕仪对其进行实验。从压痕载荷–深度曲线提取出弹性模量、硬度和蠕变速率敏感指数。结果表明:体钎料的杨氏模量和蠕变速率敏感... 为了研究低银Sn-0.3Ag-0.7Cu无铅体钎料、BGA焊料小球和BGA焊点的力学行为,基于物理反分析的方法采用纳米压痕仪对其进行实验。从压痕载荷–深度曲线提取出弹性模量、硬度和蠕变速率敏感指数。结果表明:体钎料的杨氏模量和蠕变速率敏感指数大约是BGA焊料小球和BGA焊点的2.5倍,验证了尺寸效应理论。采用纳米压痕仪测出的体钎料维氏硬度(15.101HV)小于显微硬度计的测量结果(20.660HV)。 展开更多
关键词 电子技术 电子封装技术 纳米压痕 sn-0.3ag-0.7Cu无铅钎料
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