RFID天线薄膜静态变形的有限元仿真及试验研究

文中通过Solid Works Simulation有限元分析,计算了RFID天线薄膜在不同载荷和伸出长度情况下的变形量;同时搭建视觉检测试验设备,经视觉测量得到RFID天线薄膜在不同载荷和伸出长度下的变形量。综合计算结果和试验结果,发现两者在数据上基本吻合,变化趋势一致。