两种卡环作用于钴铬金属冠的固位力衰减及冠表面磨损研究

目的:观察2种不同材料的T型卡环固位力衰减趋势和钴铬金属铸造冠相应表面磨损状况。方法:制作钴铬金属铸造冠、钴铬合金T型卡环和Vitallium2000 T型卡环的标准试件。分别在0.5 mm倒凹、0.25 mm倒凹及有无唾液浸泡条件下采用instron测试仪进行1 800次反复脱位和就位实验(疲劳实验)。记录卡环最大脱位力的衰减曲线,并用电子显微镜观察钴铬金属铸造冠表面磨损的情况。结果:所有卡环固位力衰减的规律基本符合对数曲线,电镜下可见在相同实验条件下,实验后Vitallium2000 T型卡环对钴铬金属铸造冠的磨损小于钴铬合金T型卡环。Vitallium2000 T型卡环的固位力保持优于钴铬合金T型卡环。结论:Vitallium2000 T型卡环与钴铬合金T型卡环相比固位力衰减小,对钴铬合金冠磨损小。

籼型水稻光温敏不育系包颈长度与育性的相关性研究

本文分析了１６个水稻籼型（或籼粳中间型）光温敏不育系、两个光温敏不育系的杂交组合后代花粉育性、自交结实率与包颈长度的关系．结果表明，水稻籼型（或籼粳中间型）光温敏不育系的不育性与包颈长度呈极显著的相关，即包颈长度越大，不育度越高．根据包颈长度判断花粉育性程度可作为水稻籼型（或籼粳中间型）光温敏不育系田间选择的重要参考指标．

T型卡环作用于烤瓷冠的固位力衰减及表面磨损观察

目的观察两种材料的T型卡环作用于烤瓷冠时,其固位力大小的变化趋势以及烤瓷冠相应表面的磨损情况。方法制作烤瓷冠标准试件及钴铬合金和纯钛的T型卡环,采用BOSE Electroforce测试仪进行15000次反复就位、脱位实验,记录分析卡环脱位力的峰值及其衰减曲线。用扫描电子显微镜观察烤瓷冠表面的磨损情况。结果两组卡环固位力衰减规律基本符合对数曲线,拟合曲线方程钴铬合金卡环为y=-5.043lnx+51.494,纯钛卡环为y=-2.622lnx+29.519。电镜可见钴铬合金卡环组烤瓷冠表面明显断层结构及较大面积的材料缺失;纯钛卡环组烤瓷冠材料剥脱较少,断层较薄。结论钴铬合金和纯钛的T型卡环固位力变化符合对数衰减;纯钛卡环的固位力维持优于钴铬合金卡环。对烤瓷冠表面的磨损程度,纯钛卡环明显低于钴铬合金卡环。

改良“T”型卡腭侧固位修复上颌单侧牙列缺损的临床效果观察

目的:通过上颌单侧牙列缺损使用改良"T"型卡腭侧固位修复的临床效果观察,探讨上颌单侧牙列缺损可摘局部义齿修复固位的方法。方法:选择上颌单侧牙列缺损的患者28例,其中16例使用改良"T"型卡,即余留上颌双尖牙和磨牙腭侧分别使用独立"T"型卡双臂进倒凹固位;12例使用常规设计,即余留牙颊侧使用三臂卡或连续卡。经2年的随诊观察,对余留基牙和修复体固位情况以及临床效果进行综合评价。结果:28例上颌单侧牙列缺损患者,经2年的随诊观察,改良设计者有1例出现修复体松动;常规设者有4例出现修复体松动。两者差异有统计学意义(P<0.05)。结论:使用改良腭侧"T"型卡,能较好解决上颌单侧牙列缺损修复中出现的固位困难、稳定性差等问题。