TFT-LCD及触摸屏玻璃基板激光断切现象研究

激光切割技术已经成为玻璃生产及加工领域中的一种成熟的工业加工技术,具备高精度、高速度、高质量、高效率的优点。断切现象是薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistorLiquid CrystalDisplay,TFT-LCD)及触摸屏玻璃基板激光切割的质量问题之一。文章从设备接地、激光器出光功率稳定性、光路和软体系统信号对接4个方面分析短切现象产生的原因,并给出相应的处理方法,以期为常见激光切割质量问题的处理提供参考。

TFT LCD用液晶显示材料进展

列举了一批近年来得到开发应用的 ＴＦＴ ＬＣＤ显示用液晶材料，并分析了其发展趋势。ＴＦＴ ＬＣＤ要求液晶材料具备高电压保持率、低粘度、低双折射串等特性，而传统的液晶材料无法满足上述要求．含氟液晶、环己烷类液晶、乙烷类液晶因其极性较低，分子粘度低，电阻率高，电压保持率高，在ＴＦＴ ＬＣＤ中得到广泛应用。初步阐明了其分子结构与物理性能之间的关系，为新型液晶分子设计及配方设计提供了线索。

TFT-LCD技术的研究进展与发展趋势

介绍了近年来世界ＴＦＴＬＣＤ技术的研究现状。

TFT用掩模版与TFT-LCD阵列工艺

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产业经过20年的发展,其规模已经远远超出10年前的预想,技术发展也呈现出加速进步的趋势。各种新一代光刻技术的出现显著提升了掩模版的制作精度,对其市场价格也造成了不小的冲击。在TFT-LCD阵列基板制造方面,4掩模版光刻工艺技术逐渐成为当今主流,而3掩模版光刻工艺因其技术难度大、良品率低,目前还掌握在少数几家TFT-LCD厂商手中。通过对掩模版的国内外市场行情、技术进展以及掩模版数目与TFT-LCD阵列工艺的关系作全面的阐述,指出加强TFT-LCD掩模版等配套材料的自主研发、采用更加先进的制造技术是简化生产工艺、降低生产成本的有效手段,也是我国TFT-LCD产业下一步努力发展的方向。

a-Si:H TFT有源矩阵制造技术的研究

对a-Si:HTFT有源矩阵的一些关键制造工艺进行了研究。研究了Ta2O5／a－SiNx双绝缘层的制备技术，提出了一种新的双有源层结构a－Si:HTFT来降低背光源对器件特性的影响，研制的a-Si:HTFT有源矩阵实现了彩色视频信号的动态显示。

TFT液晶显示原理

就TFT(Thin-Film-Transistor)液晶显示器的显示原理和驱动原理两个方面进行了总结,首先介绍了液晶的基本知识和物理特性,然后说明了液晶利用旋光特性进行显示的原理,并比较直观介绍了TFT玻璃基板结构、TFT液晶的驱动方式、驱动原理和驱动电路。最后,总结了TFT-LCD在液晶显示领域的应用和发展前景。

VA-TFT用负介电各向异性液晶材料研究进展

综述了VA-TFT(垂直取向薄膜晶体管驱动)用负介电各向异性液晶的结构及性质。重点介绍了近年来开发出的一些具有大的介电各向异性、低黏度、高清亮点的新型液晶,如侧向氟取代萘环、茚环类,轴向氟代环己烷类,含多氟取代类液晶等。

低静态功耗TFT液晶汽车仪表的硬件系统设计

为使TFT液晶汽车仪表在整车长时间停放后仍能正常启动,该文提出了一种低静态功耗的硬件系统设计,静态功耗约为1.53mA,满足整车对仪表提出来的小于3mA的静态功耗要求。此硬件系统设计方案性能可靠稳定、成本较低,已在多款TFT液晶汽车仪表中广泛应用,具有较高的应用价值。

TFT液晶显示配套用化学材料的研究进展

TFT-LCD液晶产业的竞争愈发激烈,其中原材料的成本在竞争中的作用非常重要。文章综述了TFT-LCD液晶显示用材料的产业现状与发展趋势,并指出:只有具备稳定的上游材料供应,同时拥有一定的资金实力,能储备部分关键原材料以应不时之需,并且不断采用新技术和先进的管理模式,降低制造成本和各项费用,才能够扩大利润空间,在全球竞争中占有一席之地。

用于TFT-LCD驱动的高效率高性能电荷泵设计

设计了一种用于TFT-LCD驱动的高效率高性能电荷泵．在分析了宽输入恒输出电荷泵原理的基础上，采用跟踪输入电压动态调整升压倍率的方法，克服了传统固定倍率电荷泵的效率随输入电压升高而大幅降低的缺点．提出了简单多倍率开关阵列及控制电路，采用了改进的三管复合开关减小静态功耗．电路用0．6μmBiCMOS工艺实现．测试表明：在输入电压2．7～5．5V，工作频率250kHz条件下，输出电压为5V，满载电流为25mA，平均效率提高了14％，最低效率提高了15％，静态电流为0．1mA，负载调整率为0．014％mA^-1．

运用改进的萤火虫算法求解TFT-LCD单元装配调度问题

针对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)液晶板组装制造阶段(Cell)生产调度的复杂性,且在考虑了各种约束条件的前提下,以最小化工件最大完工时间和加权延迟最小为调度目标,建立了TFT-LCD单元装配作业调度数学模型。运用加入混沌搜索的萤火虫算法解决作业车间调度问题,克服了标准萤火虫算法容易陷入局部最优、优化速度慢以及计算量大等困难,并与其他算法比较,仿真结果表明了改进的萤火虫算法求解TFT-LCD单元装配作业调度问题的合理性和优越性。最后,建立了具有学习效应和遗忘效应的TFT-LCD单元装配作业调度模型,分析了不同的学习因子和遗忘率对所求目标函数的影响。

大尺寸TFT-LCD的LED背光技术

传统的薄膜晶体管液晶显示器(thin film transister crystal display,TFT-LCD)通常采用冷阴极荧光灯(cold cathode fluorescent lamps,CCFL)作为背光光源。相比较而言,由于发光二极管(LED)TFT-LCD背光源系统具有色彩还原性好、对比度高、亮度高等优点,近年来应用于大尺寸TFT-LCD的LED背光技术取得了长足的进步。当前应用于大尺寸TFT-LCD的LED背光源主要有两种:RGBLED背光源和白光LED背光源。大尺寸的LED背光系统结构主要采用直下式和侧式结构。本文将对这几方面进行系统阐述,并对大尺寸TFT-LCD的LED背光系统的应用前景进行预测。

TFT-LCD三基色光谱的温度特性

利用自行搭建的显微光谱测试平台研究了可见光波长范围内温度对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)透射光谱的影响。测试结果表明:红基色光、绿基色光和蓝基色光的透射率随温度的升高呈现出先升高后下降的趋势,但峰值所对应的温度不同。透射率改变的主要原因是温度的变化引起了液晶折射率的改变以及液晶分子指向矢的扰动,这一扰动导致了光散射的改变,使三基色的透射率发生了变化。

TFT液晶显示驱动电路与电源优化设计方法

本文结合有源矩阵液晶显示器件及其驱动技术的发展,分析了TFT-LCD驱动电路的工作原理与电源设计,介绍了一种用于六位数字屏的全新TFT-LCD驱动电路,并对头盔显示器液晶显示及驱动电路设计方法加以详细讨论,软件编程调试与电路实验,取得了好的显示效果。

工业通用型TFT-LCD驱动器的设计与开发

概括性分析了目前使用较多的工控处理器的性能及其总线接口规范,提出了可以应用于多种工业处理器及其接口总线的通用TFT-LCD驱动方案,并开发出这种具有多通信接口工控TFT-LCD驱动控制器的硬件系统,最后利用FPGA系统设计技术和SOPC嵌入式技术验证了TFT-LCD驱动控制器和各种接口驱动的正确性,实现了一种多接口、高性能、低成本的工业人机交互界面模块。

TFT-LCD用聚酰亚胺液晶取向层的研究与应用进展

综述了薄膜晶体管驱动液晶显示器(TFT-LCD)用聚酰亚胺(PI)取向层的研究应用进展以及未来发展趋势。从TFT-LCD对PI液晶取向层的性能需求、PI液晶取向层的分子结构设计与研究开发现状以及PI液晶取向层在TFT-LCD中的实际应用等方面进行了阐述,重点介绍了摩擦型PI液晶取向层以及光控型PI液晶取向层的研究与应用进展。

基于Swin Transformer轻量化的TFT-LCD面板缺陷分类算法

在TFT-LCD面板缺陷检测中,检测对象背景复杂、缺陷细微且种类繁多,而工业生产实时性要求高,传统的缺陷分类算法往往难以兼顾精度和速度要求,无法适用于实际生产应用。为均衡TFT-LCD面板缺陷分类的准确率和速率,提出一种基于Swin Transformer的轻量化深度学习图像分类模型。首先对模型每层输入的特征图进行Token融合以减少模型计算量,从而提高模型的轻量化水平。其次引入深度可分离卷积模块以帮助模型增加卷积归纳偏置,从而缓解模型对海量数据的依赖问题。最后使用知识蒸馏方法来克服模型轻量化导致的检测精度下降问题。在自制TFT-LCD面板缺陷分类数据集上的实验表明,本文提出的改进模型相比基线模型,FLOPs计算量降低了2.6 G,速度指标提升了17%,而Top-1 Acc精度仅损失1.3%,且与其他图像分类主流模型相比,在自制数据集和公开数据集上都具有更均衡的精度和速度。

TFT LCD响应时间的影响因素及技术突破

本文介绍了薄膜晶体管液晶显示器件(TFT LCD)响应时间的物理学概念及其影响因素,并对近年来响应时间发展趋势和技术突破做了讨论,2004年灰阶响应时间的引入是TFT LCD响应时间技术突破的节点。

碘代物杂质对TFT液晶性能的影响

为了研究碘代物杂质对TFT液晶性能的影响,设计了不同劣化条件下TFT液晶的保存实验,进行了碘代物掺杂的浓度梯度实验,测试了混晶VHR随碘代物浓度变化的趋势。实验结果表明:在UV照射和加电的劣化条件下,液晶中的碘代物杂质会发生分解,明显降低TFT液晶的VHR参数。液晶中碘代物杂质含量越高,TFT液晶在劣化条件下的稳定性就越差。在本实验条件下,2×10-5浓度的碘代物,已经对液晶可靠性产生明显不良影响。

基于改进显著性模型的TFT-LCD面板缺陷检测

在薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)面板缺陷检测中,周期性的背景纹理和缺陷可用基于谱残差的显著性模型进行分离,但该模型对缺陷大小敏感。本研究对该模型进行改进,将其用于检测由面板图像二维离散傅里叶变换(DFT)获得的能量谱中的高能量成分,并将该部分消除,再经过二维离散傅里叶逆变换(IDFT)对图像重构,达到去除空域图像周期性纹理和保留缺陷的目的。其中,模型的中均值滤波器窗口的大小、邻域的大小和能量谱中心高能量保护区域的大小可由处理后图像灰度共生矩阵的逆差矩确定。实验结果表明,在固定参数的条件下,改进后的模型对包含纤维、污渍和划痕的TFT-LCD面板缺陷均能正确检测,结果不受缺陷大小和灰度值以及面板周期性纹理方向的影响。