XPS、AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用

介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。

飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用

介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.

润版液润湿性对胶印纸张化学和物理性能的影响

本文主要研究胶印纸张表面分别涂布含异丙醇和无醇表面活性剂的润版液前后的物理和化学特性变化。分别采用原子力显微镜(AFM)和接触角测量仪对纸张的表面特性和表面能进行研究。用X射线电光子分光光谱(XPS)和飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)研究润版液引起的纸张表面化学性质的变化。涂布纸经表面活性剂润湿后其均方根粗糙度(RMS)略有增加,但是使用异丙醇溶液却没有引起明显的变化。粗糙度发生亚微米改变的原因不仅是片基膨胀或涂层组分迁移,而且还包括表面活性剂的存在。X射线电光子分光光谱显示氧与碳的比率增加也证实了表面活性剂的存在。飞行时间二次离子质谱显示异丙醇溶液没有改变表面的化学组成而表面活性剂却很明显改变了。通过映射分子的特征碎片可以确定表面活性剂的分布。