期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术
1
作者 王欣 李银辉 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第8期968-970,共3页
在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法。实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值。
关键词 边界扫描 test director6 板级测试 JTAG
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部