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基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术
1
作者
王欣
李银辉
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第8期968-970,共3页
在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法。实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值。
关键词
边界扫描
test
director6
板级测试
JTAG
下载PDF
职称材料
题名
基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术
1
作者
王欣
李银辉
机构
中物院电子工程研究所
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第8期968-970,共3页
文摘
在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法。实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值。
关键词
边界扫描
test
director6
板级测试
JTAG
Keywords
Boundarg scan
JTAG
test director6
BST
分类号
TN98 [电子电信—信息与通信工程]
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作者
出处
发文年
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1
基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术
王欣
李银辉
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012
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