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液晶量对Touch Mura的影响
被引量:
5
1
作者
张卓
柳在健
侯延冰
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期525-529,共5页
Touch Mura会影响液晶显示器侧视时的视觉效果,因此其检测也很严格。讨论了液晶量对Touch Mura的影响。实验结果表明,拍击位移量与Touch Mura严重程度有直接联系。随着液晶量增加,拍击位移量会变小,同时Touch Mura现象也会减轻直至消失...
Touch Mura会影响液晶显示器侧视时的视觉效果,因此其检测也很严格。讨论了液晶量对Touch Mura的影响。实验结果表明,拍击位移量与Touch Mura严重程度有直接联系。随着液晶量增加,拍击位移量会变小,同时Touch Mura现象也会减轻直至消失。另外,不同人拍击或者拍击液晶面板位置为左侧或右侧,对拍击位移量随液晶量的变化趋势没有明显影响。
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关键词
液晶量
touch
mura
拍击位移量
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职称材料
基于重压法的Touch Mura形变过程模拟
被引量:
3
2
作者
张卓
赵海玉
+1 位作者
张培林
柳在健
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期693-695,共3页
拍击位移量是液晶面板出现Touch Mura的根本原因,但因为玻璃基板的形变能够迅速回复,瞬时位移量难以检测。文章通过重压法模拟了拍击位移过程,发现随着液晶量的增加,最大位移量也增加,但同时回复能力大大增强,使得最终位移量反而变小。
关键词
重压法
touch
mura
模拟
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职称材料
TFT-LCD Touch Mura不良的研究和改善
被引量:
24
3
作者
齐鹏
施园
刘子源
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第2期204-209,共6页
Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能。文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响。实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良;Sub...
Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能。文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响。实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良;Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小;工艺参数Total Pitch越接近设计值,Touch Mura风险越小。所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及Sub PS设计能够有效减低Touch Mura风险,此外,生产过程中对工艺参数Total pitch的管控也至关重要。
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关键词
touch
mura
液晶量
柱状隔垫物
TOTAL
PITCH
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职称材料
题名
液晶量对Touch Mura的影响
被引量:
5
1
作者
张卓
柳在健
侯延冰
机构
北京交通大学光电子技术研究所发光与光信息技术教育部重点实验室
京东方科技集团股份有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期525-529,共5页
文摘
Touch Mura会影响液晶显示器侧视时的视觉效果,因此其检测也很严格。讨论了液晶量对Touch Mura的影响。实验结果表明,拍击位移量与Touch Mura严重程度有直接联系。随着液晶量增加,拍击位移量会变小,同时Touch Mura现象也会减轻直至消失。另外,不同人拍击或者拍击液晶面板位置为左侧或右侧,对拍击位移量随液晶量的变化趋势没有明显影响。
关键词
液晶量
touch
mura
拍击位移量
Keywords
LC amount
touch mura
touch
shift distance
分类号
O438 [机械工程—光学工程]
TN702 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
基于重压法的Touch Mura形变过程模拟
被引量:
3
2
作者
张卓
赵海玉
张培林
柳在健
机构
京东方科技集团股份有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期693-695,共3页
文摘
拍击位移量是液晶面板出现Touch Mura的根本原因,但因为玻璃基板的形变能够迅速回复,瞬时位移量难以检测。文章通过重压法模拟了拍击位移过程,发现随着液晶量的增加,最大位移量也增加,但同时回复能力大大增强,使得最终位移量反而变小。
关键词
重压法
touch
mura
模拟
Keywords
weight-pressing method;
touch mura
; simulation;
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
TFT-LCD Touch Mura不良的研究和改善
被引量:
24
3
作者
齐鹏
施园
刘子源
机构
清华大学电子工程系
合肥京东方光电科技有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第2期204-209,共6页
文摘
Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能。文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响。实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良;Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小;工艺参数Total Pitch越接近设计值,Touch Mura风险越小。所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及Sub PS设计能够有效减低Touch Mura风险,此外,生产过程中对工艺参数Total pitch的管控也至关重要。
关键词
touch
mura
液晶量
柱状隔垫物
TOTAL
PITCH
Keywords
touch mura
liquid crystal amount
post spacer
total
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
液晶量对Touch Mura的影响
张卓
柳在健
侯延冰
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2008
5
下载PDF
职称材料
2
基于重压法的Touch Mura形变过程模拟
张卓
赵海玉
张培林
柳在健
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2010
3
下载PDF
职称材料
3
TFT-LCD Touch Mura不良的研究和改善
齐鹏
施园
刘子源
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2013
24
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职称材料
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