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Dynamic Characteristics in Subnanosecond Breakdown and Generation of Supershort Avalanche Electron Beam 被引量:1
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作者 Victor F. Tarasenko SHAO Tao +6 位作者 Dmitry V. Rybka ZHANG Cheng Alexandr G. Burachenko Igor' D. Kostyrya Mikhail I. Lomaev Ping Yan Evgeni Kh. Baksht 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第9期2207-2215,共9页
In this paper,subnanosecond-pulse and one-nanosecond-pulse generators are used to study the breakdowns in highly overvolted gaps in atmospheric pressure air.With different cathodes,we measured the applied voltage and ... In this paper,subnanosecond-pulse and one-nanosecond-pulse generators are used to study the breakdowns in highly overvolted gaps in atmospheric pressure air.With different cathodes,we measured the applied voltage and discharge current to investigate the dynamic characteristics in the subnanosecond breakdown during the generation of a supershort avalanche electron beam.Especially,characteristics of dynamic displacement current are presented in the current paper,which is detected between the ionization wave front and a plane anode.It is shown that during a subnanosecond voltage rise time,the amplitude of the dynamic displacement current can be higher than 4 kA.It is demonstrated that the breakdown in the air gap is assisted by ionization processes between the ionization wave front and a plane anode. 展开更多
关键词 动力学特性 亚纳秒 电子束 击穿 雪崩 超短 纳秒脉冲发生器 电离过程
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The breakdown mechanism of a high-side pLDMOS based on a thin-layer silicon-on-insulator structure
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作者 赵远远 乔明 +2 位作者 王伟宾 王猛 张波 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第1期524-528,共5页
A high-side thin-layer silicon-on-insulator (SOI) pLDMOS is proposed, adopting field implant (FI) and multiple field plate (MFP) technologies. The breakdown mechanisms of back gate (BG) turn-on, surface channe... A high-side thin-layer silicon-on-insulator (SOI) pLDMOS is proposed, adopting field implant (FI) and multiple field plate (MFP) technologies. The breakdown mechanisms of back gate (BG) turn-on, surface channel punch-through, and vertical and lateral avalanche breakdown are investigated by setting up analytical models, simulating related parameters and verifying experimentally. The device structure is optimized based on the above research. The shallow junction achieved through FI technology attenuates the BG effect, the optimized channel length eliminates the surface channel punch-through, the advised thickness of the buried oxide dispels the vertical avalanche breakdown, and the MFP technology avoids premature lateral avalanche breakdown by modulating the electric field distribution. Finally, for the first time, a 300 V high-side pLDMOS is experimentally realized on a 1.5 μm thick thin-layer SOI. 展开更多
关键词 field implant technology back gate punch-through surface channel punch-through avalanche breakdown
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A GaN p-i-p-i-n Ultraviolet Avalanche Photodiode
3
作者 ZHENG Ji-Yuan WANG Lai +3 位作者 HAO Zhi-Biao LUO Yi WANG Lan-Xi CHEN Xue-Kang 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2012年第9期193-195,共3页
A separated absorption and multiplication GaN p–i–p–i–n avalanche photo-diode(APD)with a 25μm diameter mesa is proposed and demonstrated.Compared to the conventional p–i–n APD,the p–i–p–i–n structure reduce... A separated absorption and multiplication GaN p–i–p–i–n avalanche photo-diode(APD)with a 25μm diameter mesa is proposed and demonstrated.Compared to the conventional p–i–n APD,the p–i–p–i–n structure reduces the probability of premature micro-plasma breakdown,raises the gain from 30 to 400 and reduces the work voltage from 93 to 48 V.The temperature test is set on p–i–p–i–n APDs,and the positive coefficient of 30 mV/K shows that avalanche breakdown happens in the devices.The peak responsivity of p–i–p–i–n APDs is 0.11 A/W under a wavelength of 358 nm. 展开更多
关键词 breakdown GAN avalanche
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High-Performance Structure of Guard Ring in Avalanche Diode for Single Photon Detection
4
作者 Wei Wang Yu Zhang Zhenqi Wei 《International Journal of Communications, Network and System Sciences》 2017年第8期1-6,共6页
Avalanche photon diode and avalanche diode array, working in Geiger mode, have single photon detection capability. The structure of guard ring is the key factor to avoid the premature edge breakdown of the avalanche d... Avalanche photon diode and avalanche diode array, working in Geiger mode, have single photon detection capability. The structure of guard ring is the key factor to avoid the premature edge breakdown of the avalanche diode and increase the maximum bias voltage. A new structure of the guard ring is proposed in this letter, in which the floating guard ring is put outside the p-well guard ring. Simulation results indicate that the maximum bias voltage of the proposed guard ring is higher than that of the state-of-the-art methods. 展开更多
关键词 avalanche PHOTON Diode GUARD Ring PREMATURE Edge breakdown Maximum BIAS Voltage Single PHOTON Detection
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基极触发的雪崩晶体管导通机理 被引量:1
5
作者 王欢 乔汉青 +4 位作者 程骏 胡龙 李昕 王翔宇 方旭 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第5期432-441,共10页
为研究基极触发的雪崩晶体管导通机理,建立了雪崩晶体管(n+⁃p⁃n⁃n+掺杂结构)的准三维器件模型和实验测试电路。研究了雪崩晶体管的温度分布特征,导通结束后器件最高温度约为417 K,位于电流通道内n⁃n+边界处。当集电极电压为300 V、基极... 为研究基极触发的雪崩晶体管导通机理,建立了雪崩晶体管(n+⁃p⁃n⁃n+掺杂结构)的准三维器件模型和实验测试电路。研究了雪崩晶体管的温度分布特征,导通结束后器件最高温度约为417 K,位于电流通道内n⁃n+边界处。当集电极电压为300 V、基极触发电压为2.4 V时,仿真和实验获得的脉冲上升时间分别为2.4 ns、2.5 ns,半高宽(FWHM)分别为6.2 ns、5.8 ns,仿真和实验结果基本一致。研究结果表明:高触发脉冲电压幅值会加速晶体管内部电场的重建过程,从而缩短延迟时间,提高晶体管响应速度;负载阻抗会影响器件导通通道尺寸,负载阻抗减小时,电流密度提升,器件通过缩窄通道来提高通道内电流密度,宏观导通电阻降低。 展开更多
关键词 雪崩晶体管 超宽带(UWB)脉冲 雪崩击穿 碰撞电离 物理参数模型
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雪崩晶体管电压斜坡触发模式下终端失效机理研究 被引量:1
6
作者 温凯俊 梁琳 陈晗 《电源学报》 CSCD 北大核心 2024年第3期220-226,共7页
随着超宽带脉冲信号系统在新能源汽车智能化感知技术等许多重要领域的应用,高幅值、快前沿脉冲源的研发得到了广泛研究。针对纳秒级前沿脉冲对超快功率半导体开关的需求,进行了雪崩晶体管在电压斜坡触发模式下终端失效机理的研究。利用... 随着超宽带脉冲信号系统在新能源汽车智能化感知技术等许多重要领域的应用,高幅值、快前沿脉冲源的研发得到了广泛研究。针对纳秒级前沿脉冲对超快功率半导体开关的需求,进行了雪崩晶体管在电压斜坡触发模式下终端失效机理的研究。利用仿真模型的静态特性与器件样品进行对比分析,测试了器件样品的动态开通特性。在成功得到纳秒级开通速度器件的基础上,对器件在电压斜坡触发模式下出现的失效现象进行了分析。 展开更多
关键词 雪崩晶体管 二次击穿 半导体器件建模 MARX电路 失效分析
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雪崩管Marx电路波形振荡影响因素分析
7
作者 赵维 胡学溢 +2 位作者 陈煜青 成真伯 燕有杰 《强激光与粒子束》 CAS CSCD 北大核心 2024年第11期166-172,共7页
基于雪崩晶体管的Marx电路常用于产生高压纳秒脉冲,输出波形通常具有前沿时间百ps量级、指数型放电后沿、kV级输出电压等特征。然而这种电路结构的典型输出波形后沿通常存在振荡或畸变;Marx电路的储能电容较大时,波形前沿还会出现尖峰振... 基于雪崩晶体管的Marx电路常用于产生高压纳秒脉冲,输出波形通常具有前沿时间百ps量级、指数型放电后沿、kV级输出电压等特征。然而这种电路结构的典型输出波形后沿通常存在振荡或畸变;Marx电路的储能电容较大时,波形前沿还会出现尖峰振荡;已有研究对此关注较少或将其归因于电路杂散参数、阻抗匹配的影响。从雪崩晶体管动态导通过程的角度进行了仿真分析,并对储能电容取值、Marx电路级数、充电电压等因素的影响开展了实验研究。结果表明,雪崩晶体管自身过压导通状态是引起波形振荡的关键因素;储能电容越大、Marx级数越低、充电电压越小,则振荡的现象越明显,振荡幅值甚至能够高于晶体管雪崩击穿形成的快前沿尖峰,此时快前沿尖峰即体现为波形前沿上的振荡。通过调整Marx电路储能电容大小、优化微带线结构等方式可改善输出波形振荡。 展开更多
关键词 雪崩晶体管 MARX电路 波形振荡 雪崩击穿 纳秒脉冲
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用于Si-APD的高能注入工艺优化研究
8
作者 刘祥晟 荆思诚 +4 位作者 王晓媛 张明 陈慧蓉 潘建华 朱少立 《电子与封装》 2024年第11期81-85,共5页
雪崩区注入能量对硅基雪崩光电二极管性能影响极大,大束流高能注入工艺需要极高的设备成本。通过理论仿真计算和实验流片,调整雪崩区的注入能量和增加雪崩区的扩散时间,将注入能量从600 keV降低到390 keV,并在低成本的中束流离子注入机... 雪崩区注入能量对硅基雪崩光电二极管性能影响极大,大束流高能注入工艺需要极高的设备成本。通过理论仿真计算和实验流片,调整雪崩区的注入能量和增加雪崩区的扩散时间,将注入能量从600 keV降低到390 keV,并在低成本的中束流离子注入机上进行对比验证。优化前后的器件性能都满足规范要求,参数上无明显差异。工艺方法简单可控,能有效降低注入设备成本,提升硅基雪崩光电二极管产能。 展开更多
关键词 雪崩光电二极管 高能注入 反向击穿
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IGBT电压击穿特性分析 被引量:30
9
作者 汪波 胡安 +1 位作者 唐勇 陈明 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第8期145-150,共6页
针对绝缘栅双极晶体管(IGBT)应用选型中长期以来采用经验的粗放式设计方法,本文基于IGBT结构和PN结雪崩击穿原理,分析了场终止型IGBT雪崩击穿电压的计算公式和测量方法。由于线路和器件内部分布电感的存在,开关时会产生一个电压尖峰,分... 针对绝缘栅双极晶体管(IGBT)应用选型中长期以来采用经验的粗放式设计方法,本文基于IGBT结构和PN结雪崩击穿原理,分析了场终止型IGBT雪崩击穿电压的计算公式和测量方法。由于线路和器件内部分布电感的存在,开关时会产生一个电压尖峰,分析了IGBT过电压击穿特性和电压尖峰的抑制方法。针对通常认为一旦发生过电压击穿就会损坏器件的错误认识,分析了IGBT过电压击穿失效机理和失效模式,发现过电压击穿失效本质是由于热量累积引起结温上升的热击穿失效,失效模式初始表现为短路最终表现为开路,最后实验验证了IGBT具有可承受短时过电压击穿的能力。 展开更多
关键词 IGBT 雪崩击穿 失效机理 失效模式 短时过电压
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MBE生长的PIN结构碲镉汞红外雪崩光电二极管 被引量:7
10
作者 顾仁杰 沈川 +3 位作者 王伟强 付祥良 郭余英 陈路 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期136-140,共5页
对中波红外碲镉汞雪崩光电二极管(APD)特性进行理论计算,获得材料的能量散射因子及电离阈值能级与材料特性的相互关系,从而计算器件的理论雪崩增益与击穿电压.通过对材料特性(组分,外延厚度,掺杂浓度等)的优化,设计并生长了适合制备PIN... 对中波红外碲镉汞雪崩光电二极管(APD)特性进行理论计算,获得材料的能量散射因子及电离阈值能级与材料特性的相互关系,从而计算器件的理论雪崩增益与击穿电压.通过对材料特性(组分,外延厚度,掺杂浓度等)的优化,设计并生长了适合制备PIN结构红外雪崩光电二极管的碲镉汞材料,并进行了器件验证.结果显示,在10 V反偏电压下,该器件电流增益可达335. 展开更多
关键词 碲镉汞 雪崩光电二极管 雪崩增益 击穿电压1
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气体放电管直流击穿电压测量技术的研究 被引量:9
11
作者 姚学玲 杜志航 +1 位作者 杨志豪 陈景亮 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1-7,共7页
为了寻找一个能有效表征气体放电管(GDT)从高阻状态转变为低阻状态的判据,在分析和实验对比现有技术的基础上,提出了利用电磁感应原理设计判据提取的方法.该方法设计了一个耦合线圈,将初级线圈串入主回路采集GDT击穿瞬间产生的微电流脉... 为了寻找一个能有效表征气体放电管(GDT)从高阻状态转变为低阻状态的判据,在分析和实验对比现有技术的基础上,提出了利用电磁感应原理设计判据提取的方法.该方法设计了一个耦合线圈,将初级线圈串入主回路采集GDT击穿瞬间产生的微电流脉冲,将该脉冲整形后作为判据信号.对GDT击穿瞬间的电路状态进行了建模分析,首次从电路角度分析了GDT击穿瞬间出现的脉冲电流的形成原因,并指出不同的脉冲电流是由电流中脉冲分量和线性分量相互作用的结果.实验结果表明:在宽电压范围(50~5 000V)测量系统中,稳态击穿电流小于5mA,且在上升速率为100V/s直流电压作用下,从GDT击穿到系统响应最小时间为2.06μs,最大为3.34μs,平均为2.81μs. 展开更多
关键词 气体放电管 直流击穿电压 击穿电流 电磁感应
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微纳尺度电气击穿特性和放电规律研究综述 被引量:22
12
作者 成永红 孟国栋 董承业 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2017年第2期13-23,共11页
微纳尺度电气击穿特性和放电规律是当前国内外学者的研究热点。本文回顾了近70年来国内外学者在该领域的主要研究工作和成果,重点从研究手段、放电规律以及物理机制等方面对不同物理尺度介电系统(宏观尺度电极/微米间隙、微米尺度电极/... 微纳尺度电气击穿特性和放电规律是当前国内外学者的研究热点。本文回顾了近70年来国内外学者在该领域的主要研究工作和成果,重点从研究手段、放电规律以及物理机制等方面对不同物理尺度介电系统(宏观尺度电极/微米间隙、微米尺度电极/微米亚微米间隙、纳米尺度电极/纳米亚纳米间隙)的放电击穿特性进行了总结,阐述了电极间隙、气压、电极材料和电极形状等因素的影响机制以及不同物理尺度介电系统的放电规律。通过对微纳尺度电气击穿特性和放电规律的概括和分析,发现当前存在的主要问题并指出下一步的研究方向,对丰富和完善微纳尺度放电击穿理论具有重要参考意义。 展开更多
关键词 微纳尺度 电气击穿 放电规律 Paschen曲线 Townsend雪崩击穿 场致发射
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脉冲激光导致水光学击穿阈值计算的简化模型 被引量:4
13
作者 李明 张宏超 +2 位作者 沈中华 陆建 倪晓武 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2005年第6期660-663,共4页
通过对自由电子密度速率方程的简化,得到了计算光学击穿阈值的解析式。将计算结果与波长分别在可见光和近红外波段,脉宽分别为纳秒、皮秒和飞秒的激光脉冲在纯净水和含有杂质的水中实验测量的击穿阈值做了比较,吻合较好。对于纳秒激光脉... 通过对自由电子密度速率方程的简化,得到了计算光学击穿阈值的解析式。将计算结果与波长分别在可见光和近红外波段,脉宽分别为纳秒、皮秒和飞秒的激光脉冲在纯净水和含有杂质的水中实验测量的击穿阈值做了比较,吻合较好。对于纳秒激光脉冲,在纯净水中多光子电离提供初始电子,随后雪崩电离很快在电离的过程中占主导地位。对于短脉冲,多光子电离作用显得尤为重要,并且在击穿的过程中复合损失和碰撞损失对击穿阈值的影响逐渐消失。 展开更多
关键词 激光物理 光学击穿 脉冲激光 雪崩电离
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超快速高压雪崩三极管器件研制 被引量:7
14
作者 刘忠山 杨勇 +2 位作者 马红梅 刘英坤 崔占东 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2009年第6期379-382,共4页
采用雪崩三极管MARX电路易产生亚纳秒导通前沿的高功率微波脉冲,可应用于激光LED驱动、超快脉冲前沿发生器和高速脉冲发生器等。介绍了雪崩三极管器件的工作原理及设计方法,采用针对雪崩模式工作的npn晶体管的特殊工艺设计,研制出了耐压... 采用雪崩三极管MARX电路易产生亚纳秒导通前沿的高功率微波脉冲,可应用于激光LED驱动、超快脉冲前沿发生器和高速脉冲发生器等。介绍了雪崩三极管器件的工作原理及设计方法,采用针对雪崩模式工作的npn晶体管的特殊工艺设计,研制出了耐压400V,脉冲电流达80A的雪崩三极管器件并已投入批量生产。给出了雪崩三极管MARX使用电路及测试结果,重复频率可达400kHz。器件采用金属管壳片式封装,具有可靠性高、易于级联使用等优点。 展开更多
关键词 雪崩三极管 二次击穿 负阻 MARX电路 超宽带
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激光诱导等离子体光谱技术应用于月球探测的可行性研究 被引量:6
15
作者 亓洪兴 潘明忠 +3 位作者 吕刚 何志平 闫志欣 舒嵘 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期93-96,共4页
阐述了激光诱导等离子体光谱技术的物理机制,分析了气压影响激光诱导等离子体光谱探测的机制和规律,建立了低气压环境下进行激光诱导等离子体光谱探测的试验装置,开展了不同等级低气压环境下的试验研究,通过试验数据具体量化了气压对激... 阐述了激光诱导等离子体光谱技术的物理机制,分析了气压影响激光诱导等离子体光谱探测的机制和规律,建立了低气压环境下进行激光诱导等离子体光谱探测的试验装置,开展了不同等级低气压环境下的试验研究,通过试验数据具体量化了气压对激光诱导等离子体光谱探测的影响,进而论证了激光诱导等离子体光谱技术应用于月球探测的可行性. 展开更多
关键词 月球探测 激光诱导等离子体光谱技术 低气压 雪崩电离 多光子吸收电离
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单光子探测技术 被引量:26
16
作者 吴青林 刘云 +3 位作者 陈巍 韩正甫 王克逸 郭光灿 《物理学进展》 CSCD 北大核心 2010年第3期296-306,共11页
近年来,以量子密钥分配为代表的各种量子信息技术应用获得了飞速发展,这些应用对单光子探测器的性能提出了非常苛刻的要求,以光电倍增管和雪崩光电二极管为代表的传统单光子探测器件已经无法满足需求。在此背景下,出现了以超导单光子探... 近年来,以量子密钥分配为代表的各种量子信息技术应用获得了飞速发展,这些应用对单光子探测器的性能提出了非常苛刻的要求,以光电倍增管和雪崩光电二极管为代表的传统单光子探测器件已经无法满足需求。在此背景下,出现了以超导单光子探测器为代表的新型低温单光子探测器件,其性能比现有商用单光子探测器有了本质性的提升。本文综述了迄今为止各种类型的单光子探测器,并指出各自在量子信息技术应用中的优势和不足之处以及发展方向。 展开更多
关键词 单光子探测 光电倍增管 雪崩光电二极管 超导单光子探测器 量子点单光子探测器 可见光子计数器
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克服大气环境干扰的激光诱导等离子体光谱技术研究 被引量:3
17
作者 吕刚 亓洪兴 +3 位作者 潘明忠 何志平 闫志欣 舒嵘 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期354-357,共4页
介绍了激光诱导等离子体光谱技术的工作原理,通过阐述激光诱导等离子体光谱产生的物理机制解释了大气分子干扰固态样本测量结果的原因,建立了既能够提供低气压工作环境又方便实用的激光诱导等离子体光谱探测装置,开展了低气压环境下的... 介绍了激光诱导等离子体光谱技术的工作原理,通过阐述激光诱导等离子体光谱产生的物理机制解释了大气分子干扰固态样本测量结果的原因,建立了既能够提供低气压工作环境又方便实用的激光诱导等离子体光谱探测装置,开展了低气压环境下的试验研究,证明了大气分子元素干扰固态样本测量结果的客观存在,同时证明了低气压环境能够有效避免或者缓解大气分子干扰问题的可行性。 展开更多
关键词 激光诱导等离子体光谱技术 大气分子干扰 低气压 雪崩电离 多光子吸收电离
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高光电探测效率CMOS单光子雪崩二极管器件 被引量:6
18
作者 王巍 陈婷 +5 位作者 李俊峰 何雍春 王冠宇 唐政维 袁军 王广 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第8期1-7,共7页
基于0.18μm CMOS工艺技术,制作了单光子雪崩二极管,可对650~950nm波段的微弱光进行有效探测.该器件采用P^+/N阱结构,P^+层深度较深,以提高对长光波的光子探测效率与响应度;采用低掺杂深N阱增大耗尽层厚度,可以提高探测灵敏度;深N阱与... 基于0.18μm CMOS工艺技术,制作了单光子雪崩二极管,可对650~950nm波段的微弱光进行有效探测.该器件采用P^+/N阱结构,P^+层深度较深,以提高对长光波的光子探测效率与响应度;采用低掺杂深N阱增大耗尽层厚度,可以提高探测灵敏度;深N阱与衬底形成的PN结可有效隔离衬底,降低衬底噪声;采用P阱保护环结构以预防过早边缘击穿现象.通过理论分析确定器件的基本结构参数及工艺参数,并对器件性能进行优化设计.实验结果表明,单光子雪崩二极管的窗口直径为10μm,器件的反向击穿电压为18.4V左右.用光强为0.001 W/cm^2的光照射,650nm处达到0.495A/W的响应度峰值;在2V的过偏压下,650~950nm波段范围内光子探测效率均高于30%,随着反向偏压的适当增大,探测效率有所提升. 展开更多
关键词 单光子雪崩二极管 标准0.18μm CMOS工艺 深N阱 保护环 击穿特性 响应度 光子探测效率
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三种不同波长的激光对熔石英损伤行为的对比研究 被引量:12
19
作者 黄进 任寰 +4 位作者 吕海兵 赵松楠 蒋晓东 袁晓东 郑万国 《光学与光电技术》 2007年第6期5-8,共4页
利用SAGA激光器,输出脉宽为7.2ns、波长分别为1064nm、532nm、355nm的基频光和倍频光,对相同类型的5块石英基片用R∶1的方法分别测量了其损伤阈值,对比不同波长激光对石英材料的损伤行为差异。得出其损伤阈值在三种不同波长激光作用下... 利用SAGA激光器,输出脉宽为7.2ns、波长分别为1064nm、532nm、355nm的基频光和倍频光,对相同类型的5块石英基片用R∶1的方法分别测量了其损伤阈值,对比不同波长激光对石英材料的损伤行为差异。得出其损伤阈值在三种不同波长激光作用下分别为:46.78J/cm2、13.4J/cm2、9.28J/cm2;并利用尼康E600W光学显微镜对三种不同波长激光造成的损伤形貌进行了观察,结合当前光学材料的损伤机理,对比得出倍频激光对石英基片的损伤破坏能力远大于基频光,且对石英材料的损伤机理主要表现为多光子吸收导致的雪崩电离破坏,而基频光的损伤多为表面缺陷及杂质引起的热破坏的结论。 展开更多
关键词 激光技术 损伤阂值 表面缺陷 雪崩电离 石英基片
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SiGe HBT中雪崩击穿效应对电流电压特性的影响 被引量:1
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作者 钱伟 金晓军 +3 位作者 张进书 陈培毅 林惠胜 钱佩信 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第8期120-122,138,共4页
本文分析和计算了基区不同Ge含量的器件在碰撞电离和雪崩击穿效应下的电流和电压特性,结果表明,在其它参数相同的条件下,基区Ge含量越高的器件,虽然直流增益得到很大提高,但伴随着器件更容易发生载流子碰撞电离引起的基极电流反向... 本文分析和计算了基区不同Ge含量的器件在碰撞电离和雪崩击穿效应下的电流和电压特性,结果表明,在其它参数相同的条件下,基区Ge含量越高的器件,虽然直流增益得到很大提高,但伴随着器件更容易发生载流子碰撞电离引起的基极电流反向和大注入下的基区push-out效应,同时器件共射击穿电压BVCEO也会大大的降低.由于在不同的电路中对器件的性能要求是不同的。 展开更多
关键词 异质结构 双极晶体管 雪崩击穿 锗化硅合金
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