基于SynoTPys VMM方法的FPGA验证技术

针对可编程器件在数字系统设计领域日益显现的重要性,分析了基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件设计的质量保证方法,指出必须对FPGA设计进行充分的验证以提高相应产品的可靠性。从验证方法和方法学角度阐述了验证平台的发展趋势,比较了当前主流的验证方法学,基于SynoTPysVMM方法提出并实现了一种层次化的通用验证技术,运用该技术搭建的验证平台已在工程实践中得到应用,验证结果表明,在保证平台通用性的同时提高了验证效率。

基于Avalon-MM的I2C总线控制器设计及VMM验证

分析了Avalon-MM总线的架构以及I2C总线的传输方式,提出了一种可行的I2C总线控制设计方案,并说明了详细的实现过程;设计的基于Avalon-MM总线的I2C总线控制器可复用IP核,可以不加修改地应用在基于Altera公司产品的SOPC系统中;使用VMM验证方法学构建了多层次可复用的验证平台,对设计进行了全面的验证;整个验证平台使用systemveri log语言实现,仿真工具使用VCS-MX200606;最后仿真结果显示,设计被完全地验证并达到100%覆盖率。

基于System Verilog的NoC测试平台

针对片上网络(NoC)验证效率不高的问题,依据验证方法学,利用System Verilog语言的优势,构建一个由覆盖率驱动并受约束的随机分层NoC测试平台。在不同拓扑结构和流量分布下,对NoC进行性能评估,结果证明该测试平台具备较强的通用性、适应性和扩展性,能有效地提高验证效率。

LTE-A系统中HARQ技术的实现与验证

随着移动通信系统中上下行业务吞吐量的快速增长,HARQ存储器大小的需求及交互访问量的不断增加,以及终端设备功耗指标的持续飙升,由此对片内HARQ存储方式进行研究,提出一种运行时间在满足0.5ms的条件下,能使数据搬移和硬件加速器可并行工作的硬件实现方案,最后采用了基于VMM的ASIC验证工具对其进行仿真验证.

功能覆盖率驱动的TAU/MVBC模块验证

基于验证方法学,使用硬件验证语言搭建分层可复用的TAU/MVBC验证环境,利用功能覆盖率结果对随机激励生成器进行导向,同时使用断言覆盖未达到的边角情况,在合理的时间内达到了预定的覆盖率要求。结果表明,覆盖率导向的带约束随机激励生成方法通过提高对覆盖率贡献较大的小概率事件出现的次数,有效地提高了验证效率。

基于VMM的SATA控制器功能验证

针对专用集成电路(ASIC)设计中功能验证的效率和完备性问题,以验证方法学手册(VMM)为基础搭建了串行高级技术附件(SATA)控制器分层式验证平台.验证组件的实现大量重用验证知识产权核(VIP),在采用随机激励的基础上以覆盖率统计驱动验证的过程,根据SATA控制器的功能设计记分牌进行结果的自动化比对.实验结果表明,这些方法提高了功能验证的效率,保证了验证的完备性,最终功能覆盖率达到98.25%.

基于VMM的LTE小区搜索模块验证

随着芯片设计规模和复杂度的增加,功能验证变得越来越复杂,验证面临着诸多挑战。有统计数据显示,验证工作占整个设计开发工作60%～80%的时间。在长期演进系统(long term evolution,LTE)中,小区搜索是一个非常关键的过程,是移动终端开机后首先要做的步骤。小区搜索的性能好坏直接影响LTE系统后续过程的进行,对LTE系统的性能有很大的影响。以LTE系统小区搜索模块为例,简要介绍了VMM(verifacation methodology man-ual)验证方法学,并基于VMM验证方法学搭建了小区搜索模块验证平台,对小区搜索模块进行了全面的功能验证。验证结果表明,本模块能够完成预期的目标,采用VMM验证方法学可以极大地提高验证效率,缩短验证周期。

基于SV语言的DBA芯片的验证

随着芯片规模和设计复杂度的增加,传统的模拟验证方法学已经成为整个验证的瓶颈。为了解决这一瓶颈问题,验证方法学从模拟验证逐步演变成形式验证,先后经过了模拟晶体管模型仿真、门级仿真以及采用点线功能模型(BFM)的事务级仿真三个阶段。SV验证方法学是在模拟验证的基础上增加了形式验证的方法;它采用以覆盖率为导向的技术、受约束的随机技术和基于断言的技术来构建全面的验证环境。以覆盖率为导向可使验证迅速达到验证的出口条件,采用随机测试用例为主代替传统的直接测试为主可使验证迅速收敛,而通过在设计中插入断言可精确验证设计的内部时序问题。实践结果表明,采用这种验证方法极大的提高了验证的效率,缩短了验证周期。