WSiO_x介孔分子筛的合成与表征

以阳离子表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)作为模板剂,正硅酸乙酯(TEOS)作为硅源,在强碱性条件下,加入过渡金属氧化物偏钨酸铵合成得到WSiOx介孔分子筛,使用乙酰丙酮作为助剂,考察其对孔结构的影响,通过X射线衍射仪(XRD)、N2吸附-脱附、原位红外(FT-IR)、扫描电镜(SEM)表征手段对合成出的WSiOx分子筛的结构性能进行研究。随着W质量分数的增加,介孔特征衍射峰的有序度增加,质量分数大于6%后有序度下降;W的加入没有破坏介孔分子筛的骨架结构。最后的结果得到,最佳W质量分数为5%,模板剂质量分数为1.8%,乙酰丙酮质量分数为9%。平均孔径为4.68 nm,比表面积为966 m2/g。