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Study of NdCl_3-FeCl_3-Graphite Intercalation Compounds by X-Ray Photoelectron Spectroscopy 被引量:1
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作者 侯仰龙 韦永德 《Journal of Rare Earths》 SCIE EI CAS CSCD 2001年第1期18-20,共3页
NdCl 3 FeCl 3 graphite intercalation compounds were synthesized by molten salt exchange method. The state of the intercalates and the relative contents of Nd, Fe, Cl, C in the product were determined by X ray ph... NdCl 3 FeCl 3 graphite intercalation compounds were synthesized by molten salt exchange method. The state of the intercalates and the relative contents of Nd, Fe, Cl, C in the product were determined by X ray photoelectron spectroscopy(XPS). From the XPS data, it is concluded that the binding energy of Fe2p electrons is about 711 20~710 3 eV, the binding energy of Nd3d electrons is about 983 08~983 20 eV, and Fe in the product has two valence states (Fe 3+ and Fe 2+ ). 展开更多
关键词 rare earths neodymium chloride graphite intercalation compounds x ray photoelectron spectroscopy
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Photoelectric characteristics of silicon P–N junction with nanopillar texture:Analysis of X-ray photoelectron spectroscopy 被引量:1
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作者 刘静 王嘉鸥 +3 位作者 伊福廷 吴蕊 张念 奎热西 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第9期294-297,共4页
Silicon nanopillars are fabricated by inductively coupled plasma (ICP) dry etching with the cesium chloride (CsCl) islands as masks originally from self-assembly. Wafers with nanopillar texture or planar surface a... Silicon nanopillars are fabricated by inductively coupled plasma (ICP) dry etching with the cesium chloride (CsCl) islands as masks originally from self-assembly. Wafers with nanopillar texture or planar surface are subjected to phosphorus (P) diffusion by liquid dopant source (POCl3) at 870 ℃ to form P-N junctions with a depth of 300 nm. The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is used to measure the Si 2p core levels of P-N junction wafer with nanopillar texture and planar surface. With a visible light excitation, the P-N junction produces a new electric potential for photoelectric characteristic, which causes the Si 2p core level to have a energy shift compared with the spectrum without the visible light. The energy shift of the Si 2p core level is -0.27 eV for the planar P-N junction and -0.18 eV for the nanopillar one. The difference in Si 2p energy shift is due to more space lattice defects and chemical bond breaks for nanopillar compared with the planar one. 展开更多
关键词 x-ray photoelectron spectroscopy (xps photoelectric characteristic P-N junction silicon nanopillar
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用XPS研究钢筋钝化膜和C1^-对钝化膜的影响 被引量:29
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作者 汪鹰 史苑芗 +1 位作者 魏宝明 林昌健 《中国腐蚀与防护学报》 CAS CSCD 1998年第2期107-112,共6页
采用光电子能谱(XPS)研究钢筋钝化膜的组成与结构,以及氯离子对钝化膜的影响。结果表明,在本实验条件下钢筋钝化膜为双层结构,外层以γ-FeOOH为主,内层主要为FeO;氯离子对胶的破坏过程可能是先在钝化膜表面吸附,然后穿透到膜中,在铁/氧... 采用光电子能谱(XPS)研究钢筋钝化膜的组成与结构,以及氯离子对钝化膜的影响。结果表明,在本实验条件下钢筋钝化膜为双层结构,外层以γ-FeOOH为主,内层主要为FeO;氯离子对胶的破坏过程可能是先在钝化膜表面吸附,然后穿透到膜中,在铁/氧化物界面即膜的内层形成FeCl_2,而使钝化膜局部溶解;复合缓蚀剂的加入使钢筋钝化膜表面γ-FeOOH的含量增大,膜中夹杂一定深度的有机铵盐,硅酸盐只在表面沉积。 展开更多
关键词 x射线 光电子能谱 钢筋 缓蚀剂 氯离子
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Landscape of s-triazine molecule on Si(100) by a theoretical x-ray photoelectron spectroscopy and x-ray absorption near-edge structure spectra study
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作者 Jing Hu Xiu-Neng Song +3 位作者 Sheng-Yu Wang Juan Lin Jun-Rong Zhang Yong Ma 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第11期437-444,共8页
The chemisorbed structure for an aromatic molecule on a silicon surface plays an important part in promoting the development of organic semiconductor material science. The carbon K-shell x-ray photoelectron spectrosc... The chemisorbed structure for an aromatic molecule on a silicon surface plays an important part in promoting the development of organic semiconductor material science. The carbon K-shell x-ray photoelectron spectroscopy(XPS) and the x-ray absorption near-edge structure(XANES) spectra of the interfacial structure of an s-triazine molecule adsorbed on Si(100) surface have been performed by the first principles, and the landscape of the s-triazine molecule on Si(100) surface has been described in detail. Both the XPS and XANES spectra have shown their dependence on different structures for the pristine s-triazine molecule and its several possible adsorbed configurations. By comparison with the XPS spectra, the XANES spectra display the strongest structural dependency of all of the studied systems and thus could be well applied to identify the chemisorbed s-triazine derivatives. The exploration of spectral components originated from non-equivalent carbons in disparate local environments has also been implemented for both the XPS and XANES spectra of s-triazine adsorbed configurations. 展开更多
关键词 S-TRIAZINE silicon surface x-ray photoelectron spectroscopy (xps x-ray absorption near-edge structure xANES)
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Si-Al催化剂对碳烟氧化特性影响的XPS分析 被引量:2
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作者 胡静 胡准 +1 位作者 张俊 帅石金 《汽车安全与节能学报》 CAS CSCD 2016年第2期236-240,共5页
为揭示Si-Al催化剂对碳烟氧化特性的影响作用,对碳烟及其部分被氧化碳烟的表面结构特征进行X射线光电子能谱(XPS)分析,了解碳、氧元素的表面结构中的存在形态及其差异。以商业碳黑(PU)代替实际的柴油机碳烟,碳烟中不加入催化剂,随着氧... 为揭示Si-Al催化剂对碳烟氧化特性的影响作用,对碳烟及其部分被氧化碳烟的表面结构特征进行X射线光电子能谱(XPS)分析,了解碳、氧元素的表面结构中的存在形态及其差异。以商业碳黑(PU)代替实际的柴油机碳烟,碳烟中不加入催化剂,随着氧化温度的上升,碳烟微观结构的晶格化程度越来越深。加入催化剂后,650℃下碳烟的氧化特性与不加催化剂的相似,微观结构呈现较多的晶格结构。1 000℃下碳烟的微观结构中呈现出较多的无序的无定型结构。可知:Si-Al催化剂改变了碳烟在氧气气氛下的氧化机理;1 000℃下催化剂的加入,会促进难以氧化的晶格结构的氧化。 展开更多
关键词 柴油机 颗粒物的排放 碳烟氧化 x射线光电子能谱分析(xps) 微观结构 催化剂
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PP/PP-g-MAH与铝板粘接界面相的XPS研究 被引量:3
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作者 陈明安 张新明 谢玄 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2004年第8期882-886,共5页
用X-射线光电子能谱(XPS)研究铝板/聚丙烯层状复合材料的粘接界面相,提出了粘接界面的化学反应机制.研究发现,聚丙烯(PP)中加入马来酸酐接枝聚丙烯(PP-g-MAH)时,铝板面上Al2p、O1s谱线明显向高结合能端移动,表明PP-g-MAH与铝板表面发生... 用X-射线光电子能谱(XPS)研究铝板/聚丙烯层状复合材料的粘接界面相,提出了粘接界面的化学反应机制.研究发现,聚丙烯(PP)中加入马来酸酐接枝聚丙烯(PP-g-MAH)时,铝板面上Al2p、O1s谱线明显向高结合能端移动,表明PP-g-MAH与铝板表面发生了化学反应,形成Al-O-C配位键.配位键的形成使界面粘接强度明显提高.PP中不含PP-g-MAH时,铝板面上Al2p、O1s谱线处于低结合能端,聚丙烯未与铝板表面形成化学配位作用. 展开更多
关键词 铝板/聚丙烯复合材料 马来酸酐接枝聚丙烯 界面相 配位键 x射线光电子能谱
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GS-MBE生长的GaP/Si的XPS研究
7
作者 吴正龙 余金中 +3 位作者 成步文 于卓 李晓文 王启明 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期109-116,共8页
利用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析方法对气体源分子束外延(GS-MBE)生长的GaP/Si异质结构进行了详细的分析.其结果表明:(1)外延层内Ga、P光电子峰与GaP相相符,且组份分布均匀,为正化学比GaP.(2... 利用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析方法对气体源分子束外延(GS-MBE)生长的GaP/Si异质结构进行了详细的分析.其结果表明:(1)外延层内Ga、P光电子峰与GaP相相符,且组份分布均匀,为正化学比GaP.(2)在不同富PH3流量条件下生长的样品,其表面富P量稍有不同,而GaP外延层内的测试结果相同.界面也未见有P的富集.(3)XPS剖析至GaP/Si界面附近,随外延层界面向衬底过渡,Si2p光电子峰向高结合能方向移动,且其结合能高于原衬底p型Si,接近于n型Si.但Ga、P光电子峰未发现有明显能移.(4)在XPS检测限内,外延层内和界面都未见有C、O等沾污.这一研究表明:无污染的本底超高真空、相对过剩的富PH3生长环境、成功的Si衬底清洗方法等措施保证了GS-MBE生长出正化学比GaP/Si外延异质结构. 展开更多
关键词 异质结 xps 气体源 分子束外延 磷化镓
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XPS分析过程中X-射线照射对PET的影响
8
作者 范燕 王海 +3 位作者 王梅玲 马一博 魏伟胜 邢化朝 《化学试剂》 CAS 北大核心 2015年第12期1091-1093,1096,共4页
利用X-射线光电子能谱仪的X-射线源照射PET薄膜样品,通过XPS方法原位分析表征了X-射线照射对PET样品的损伤影响。X-射线照射对PET样品的影响显著:随着X-射线照射时间的延长,C1s峰整体向低结合能端发生位移,PET样品中元素C和O的原子百分... 利用X-射线光电子能谱仪的X-射线源照射PET薄膜样品,通过XPS方法原位分析表征了X-射线照射对PET样品的损伤影响。X-射线照射对PET样品的影响显著:随着X-射线照射时间的延长,C1s峰整体向低结合能端发生位移,PET样品中元素C和O的原子百分含量分别呈线性升高和线性下降的趋势,官能团C—O和O=C—O的数量呈线性减小趋势。X-射线照射热效应导致的PET热降解是造成这些变化的主要原因。 展开更多
关键词 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET) x-射线照射 x-射线光电子能谱(xps) 降解
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XPS数据用于计算薄膜厚度时的处理方法
9
作者 刘涵 陈萌 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第12期3301-3305,共5页
X射线光电子能谱(XPS)技术能够提供样品表面各化学状态的元素的峰位、峰强等信息。通过这些信息以及光电子信号表达式,可以计算出薄膜厚度。介绍了三种光电子信号表达式的处理方法:直接求解法,基底-比值法和角度-比值法;分析了其推导过... X射线光电子能谱(XPS)技术能够提供样品表面各化学状态的元素的峰位、峰强等信息。通过这些信息以及光电子信号表达式,可以计算出薄膜厚度。介绍了三种光电子信号表达式的处理方法:直接求解法,基底-比值法和角度-比值法;分析了其推导过程。研究结果表明三种处理方式具有不同的精确度和适用范围。直接求解法没有适用限制,但精确度低;基底-比值法适用范围较小,仅适用于计算厚基底上的薄膜厚度,要求薄膜和基底组成成分具有相近的有效衰减长度λ,而这种方法受到仪器项和碳污染项误差的影响最小,具有最高的计算精确度;角度-比值法的适用范围和计算精确度适中,无需考虑基底层的限制条件,但出射角θ的变化幅度对计算精确度有较大影响。因此在使用XPS数据计算薄膜厚度时,研究者可以综合考虑上述各因素。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xps) 角分辨x射线光电子能谱(ARxps) 薄膜厚度
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MoO_3电致变色薄膜的XPS研究 被引量:10
10
作者 章俞之 快素兰 +2 位作者 黄银松 王忠春 胡行方 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2001年第1期79-82,共4页
Molybdenum oxide films were fabricated successfully by spin coating from Li+- doped peroxo- polymolybdate solution via sol- gel technique.Their electrochemical and electrochromic properties were investigated by cycli... Molybdenum oxide films were fabricated successfully by spin coating from Li+- doped peroxo- polymolybdate solution via sol- gel technique.Their electrochemical and electrochromic properties were investigated by cyclic voltammetry and in- situ UV transmittance measurements.The results showed that the films possessed excellent electrochemical stability and reversibility.The electrochromic mechanism of the MoO3 was discussed by using results obtained from X- ray photoelectron spectroscopy (XPS).The results showed that the most part of the Mo6+ in MoO3 film was reduced to Mo5+ and Mo4+ ions during the Li+ intercalation process,Mo4+ was oxidized to Mo5+ and part of Mo5+ was oxidized to Mo6+ again during the Li+ deintercalation process.So it was considered that Mo4+ ions existed in the colored MoO3 films. 展开更多
关键词 电致变色 x射线光电子能谱 氧化钼薄膜 电致变色材料 制备
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碳化钼催化剂的XPS研究 被引量:13
11
作者 丁正新 盛世善 +3 位作者 朱俊发 朱晓雷 熊国兴 庄叔贤 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 1997年第3期237-240,共4页
用程序升温碳化法在CH4/H2气流中,由前驱体MoO2/C出发,制备了活性炭担载的高分散Mo2C/C催化剂,并用XPS和XRD等方法考察了制备温度、钼含量、钝化处理和氢还原活化对催化剂表面状态的影响,680℃碳化制得... 用程序升温碳化法在CH4/H2气流中,由前驱体MoO2/C出发,制备了活性炭担载的高分散Mo2C/C催化剂,并用XPS和XRD等方法考察了制备温度、钼含量、钝化处理和氢还原活化对催化剂表面状态的影响,680℃碳化制得的具有高甲烷活性的Mo2C/C催化剂表面钼中,以Mo4+组分为主。C1s单峰位于284.5eV,未发现反映C-Mo键合的低结合能的C1s峰。600℃氢还原后,表面的O/Mo原子比仍在0.4~0.5之间。结合其他常规测试结果,对表面活性中心进行了初步的推测。 展开更多
关键词 碳化钼 甲烷化 催化剂 xps
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不同表面状态镀锡钢板铬酸盐钝化膜中铬元素的XPS分析 被引量:14
12
作者 孙杰 安成强 +1 位作者 于晓中 谭勇 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期544-547,共4页
用X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)分析的方法,对铬酸盐钝化镀锡钢板的正常表面及缺陷点处铬元素的含量、价态以及由铬元素组成的化合物进行了研究。用超声波的方法对铬酸盐钝化镀锡钢板进行处理后,研究了超声... 用X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)分析的方法,对铬酸盐钝化镀锡钢板的正常表面及缺陷点处铬元素的含量、价态以及由铬元素组成的化合物进行了研究。用超声波的方法对铬酸盐钝化镀锡钢板进行处理后,研究了超声波处理对缺陷处的铬元素的含量、价态的影响。结果表明,钝化膜中主要含有Cr,O,Sn元素。镀锡铬酸盐钝化膜中正常表面的铬元素主要是以Cr(OH)3,Cr单质以及Cr2O3的形态存在。在对镀锡板表面进行阴极电解钝化的过程中,Cr(Ⅵ)发生了转化,价态降低。在缺陷处,除了有Cr(OH)3和Cr2O3以外,还有微量的Cr(Ⅵ)存在。在缺陷处铬元素的含量低于正常表面,在超声波清洗处理后,缺陷处铬元素的含量明显低于不经超声波清洗的含量。施加的超声波因产生强烈的洗脱作用,使吸附在缺陷处的微量的Cr(Ⅵ)消失。 展开更多
关键词 镀锡板 铬酸盐钝化膜 x射线光电子能谱(xps) 超声波
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CuPc/ITO结构的表面和界面电子态的XPS研究 被引量:6
13
作者 郜朝阳 张旭 +2 位作者 郑代顺 何锡源 张福甲 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第4期502-506,共5页
覆盖有Indium tin oxide(ITO)膜的透明导电玻璃广泛地用作有机发光器件 (OLEDs)的空穴注入电极 ,但是ITO膜的功函数通常与空穴传输材料的最高被占据分子轨道 (HOMO)不匹配。铜酞菁 (CuPc)作为缓冲层可以提高空穴从ITO向空穴传输材料的... 覆盖有Indium tin oxide(ITO)膜的透明导电玻璃广泛地用作有机发光器件 (OLEDs)的空穴注入电极 ,但是ITO膜的功函数通常与空穴传输材料的最高被占据分子轨道 (HOMO)不匹配。铜酞菁 (CuPc)作为缓冲层可以提高空穴从ITO向空穴传输材料的注入效率。对CuPc ITO样品的XPS表面分析表明 ,在CuPc分子中 ,铜原子显 +2价 ,通过配位键和氮原子相互作用。CuPc分子中有两类碳原子 :8个C原子与 2个N原子成键 ;其余 2 4个C原子具有芳香烃性质。N原子也处在两种化学环境中 :有 4个N原子只与 2个C原子形成CNC键 ;另外 4个N原子不仅与 2个C原子成键 ,还通过配位键与Cu原子成键。用氩离子束对样品表面进行了溅射剥蚀 ,当溅射时间分别为 2 ,5 ,10min时进行XPS采谱分析 ,结果表明 ,随着氩离子束溅射时间增长 ,C 1s,N 1s峰变弱 ,Cu 2p ,O 1s,In 3d,Sn 3d峰增强 ,C 1s,N 1s,O 1s,In 3d和Sn 3d峰都向高束缚能或低束缚能方向移动 ,但它们的情况却不相同。 展开更多
关键词 界面电子态 xps CuPc/ITO 界面分析 导电玻璃 有机发光器件 空穴 电极
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采用深度刻蚀与XPS能谱研究缓蚀膜/镀铜层/铁基体界面成分 被引量:8
14
作者 冯绍彬 商士波 +3 位作者 冯丽婷 刘清 张经纬 李宗慧 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期166-169,共4页
为了探索焦磷酸盐镀铜层与铁基体结合强度差的原因,采用波谱技术,分析了纵向界面各种元素的成分变化,讨论了金属基体表面粗糙度对元素分布的影响。根据刻蚀时间可将膜层分为三部分:N,O量迅速减少的表面层,有基本固定组成的中间层和占一... 为了探索焦磷酸盐镀铜层与铁基体结合强度差的原因,采用波谱技术,分析了纵向界面各种元素的成分变化,讨论了金属基体表面粗糙度对元素分布的影响。根据刻蚀时间可将膜层分为三部分:N,O量迅速减少的表面层,有基本固定组成的中间层和占一半厚度的出现基体元素的混合干扰层。通过对后期混合层中氧含量的分析,可得出镀铜层/铁基体界面含氧层的存在是影响电镀层与基体结合强度的主要原因的结论。 展开更多
关键词 xps 深度刻蚀 缓蚀膜 铜/铁界面 氧分布
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XPS研究单壁碳纳米管(SWNTs)上碳与碘形成的共价键 被引量:5
15
作者 王海芳 邓小勇 +6 位作者 王竞 高兴发 邢更妹 施祖进 顾镇南 刘元方 赵宇亮 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2004年第7期673-675,共3页
采用简单的氯胺-T反应制备了碘化的多羟基单壁碳纳米管(SWNTols),发现碘与SWNTols的碳形成共价键.用同步辐射光电子能谱(SRXPS)和光电子能谱(XPS)测量发现,样品的碘的电子结合能与两个具有C-I共价键的参考物——苯的衍生物,完全一致,而... 采用简单的氯胺-T反应制备了碘化的多羟基单壁碳纳米管(SWNTols),发现碘与SWNTols的碳形成共价键.用同步辐射光电子能谱(SRXPS)和光电子能谱(XPS)测量发现,样品的碘的电子结合能与两个具有C-I共价键的参考物——苯的衍生物,完全一致,而与具有离子性质的NaI的结合能不同.这个结果对单壁碳纳米管今后的生物医学应用研究有实际意义. 展开更多
关键词 单壁碳纳米管(SWNTs) C-I共价键 光电子能谱(xps)
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氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si的XPS研究 被引量:6
16
作者 李庚伟 吴正龙 +3 位作者 杨锡震 杨少延 张建辉 刘志凯 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期174-179,共6页
利用X射线光电子能谱深度剖析方法对ZnO/Si异质结构进行了分析 .用该法可生长出正化学比的ZnO ,不过生长的ZnO薄膜存在孔隙 ,工艺还有待进一步改进 .
关键词 ZnO/Si异质结构 x射线光电子能谱 氧离子束辅助 薄膜 激光器
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三维编织C/SiC纤维复合块材的XPS研究 被引量:4
17
作者 赵良仲 刘芬 +1 位作者 李建章 徐永东 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2001年第9期802-805,共4页
用常规XPS、小面积XPS和成象XPS研究了三维编织的C/SiC纤维复合材料.结果表明,在燃气中灼烧后材料表面生成的暗红色反应是由于层中的SiC已氧化成氧化硅,同时反应层中还引入了杂质Fe、Na、Ca和Al;在反应层下Si以元素Si、SiC和氧化硅多... 用常规XPS、小面积XPS和成象XPS研究了三维编织的C/SiC纤维复合材料.结果表明,在燃气中灼烧后材料表面生成的暗红色反应是由于层中的SiC已氧化成氧化硅,同时反应层中还引入了杂质Fe、Na、Ca和Al;在反应层下Si以元素Si、SiC和氧化硅多种形式存在.块材横截面的多点小面积XPS分析结果表明,元素硅的相对浓度随深度增加而减少, SiC的相对浓度则随深度增加而增加.块材横截面的成象XPS分析清楚地显示了SiC 在纤维束边界间呈大致均匀的分布,在块材两边元素Si的浓度明显偏高.根据XPS象的线性扫描结果估计了纤维束、束间SiC层和块材边缘元素Si富集层的厚度. 展开更多
关键词 C/SIC复合材料 复合材料 x射线光电子能谱 碳纤维 小面积xps 成象xps 碳化硅纤维
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XPS对多层膜中单层膜厚的测定 被引量:3
18
作者 徐勇军 李秀平 +2 位作者 罗列 杨晓西 李永梅 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第9期1005-1007,共3页
依据XPS的测量信号与能量损失有一定定量关系的原理,利用数理分析方法,推导数学模型进行多层膜中单层膜厚的计算,该方法是一种测量总膜厚小于10 nm的单层膜厚的非破坏性的方法,具有较高的准确性。
关键词 x射线光电子能谱(xps) 纳米多层膜 单层膜 厚度
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H_2气氛中铀金属表面反应的XPS研究 被引量:4
19
作者 汪小琳 傅依备 +3 位作者 谢仁寿 左长明 赵纯培 陈红 《核化学与放射化学》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期85-89,共5页
用X射线光电子能谱(XPS)分析研究了在H2气氛中,25℃和200℃时的铀金属表面反应。实验表明,在25℃条件下,由于痕量水汽的作用,铀金属表面主要发生氧化反应;在200℃时发生氧化反应的同时,还发生氢化反应,并且氢... 用X射线光电子能谱(XPS)分析研究了在H2气氛中,25℃和200℃时的铀金属表面反应。实验表明,在25℃条件下,由于痕量水汽的作用,铀金属表面主要发生氧化反应;在200℃时发生氧化反应的同时,还发生氢化反应,并且氢化反应随H2进气量的增加而加强。氢化反应产物UH3的U4f7/2结合能为378.6eV。当H2中含有一定量的CO气体时,表面氢化反应和氧化反应均受到抑制。 展开更多
关键词 xps 氢气氛 氢化反应 表面反应 氧化反应
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元素在长石、云母、角闪石表面吸附的XPS研究 Ⅱ.钛、铬、钴、镍、铜、钕、钐、钆 被引量:3
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作者 赵欣 魏连生 +1 位作者 林漳基 汪德熙 《核化学与放射化学》 CAS CSCD 北大核心 1993年第1期19-25,共7页
用X射线光电子能谱(XPS)初步研究了Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Nd、Sm、Gd 8种元素在长石、云母、角闪石表面的吸附行为。结合各矿物在吸附不同元素后O(1s)结合能的化学位移,对吸附机理进行了初步探讨。
关键词 xps 长石 云母 角闪石 表面吸附
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