基于光谱的40μm保偏光纤参数测量方法

由于基于40μm保偏光纤的商用光纤器件制作技术和保偏熔接技术尚不成熟,一般的保偏光纤参数测量方法很难直接应用。文章提出在1根40μm保偏光纤上完成超辐射发光二极管(SLD)耦合对接和光纤偏振器在线制作,构建出一套简单的偏光干涉装置,利用调制光谱可同时实现拍长和双折射温度系数的测量。文章分别从理论和实验上对测量方法进行了阐述和验证。所提方法同样适用于其他直径的保偏光纤参数测量。

采用MCVD工艺研制高双折射单模偏振保持光纤

在相干光通信系统和大量传感技术应用中,最引人注目的是偏振保持光纤。本文采用MCVD法研究出了一种新的制造工艺,不采用含氟气侵蚀法获得了一种结构介于Bow-tie型与椭圆应力型(Flat-cladding)的新型高双折射保偏光纤。测试结果,在工作波长λ=0.6328μm处,拍长L_6≈1.0mm,消光比η=-20.04dB。本文还对所研制出的光纤抗弯曲保偏性能进行了测试,结果良好。

利用宽谱光源及偏光干涉测量保偏光纤拍长

提出了一种用宽谱光源及偏光干涉效应测量保偏光纤拍长的新方法。利用光纤陀螺等光纤传感器常用的宽谱光源,以及2个性能一般的线偏振器件,与被测保偏光纤组成测试系统。宽谱光通过测试系统后,由于偏光干涉效应出现光谱形状的波动,波动周期受保偏光纤拍长的调制,通过调制周期可计算获得被测保偏光纤的拍长。该方法实验装置容易搭建,对偏振器件及操作精度的要求很低,对被测光纤的具体结构没有要求,任何保偏光纤的拍长都能测量,适用范围广,拍长测量精度可达0.1 mm。

几何芯圆度参数与保偏光纤的性能

本文主要对不同几何芯圆度的熊猫型保偏光纤的性能进行研究。对光纤的几何、光学等性能都进行了全面的测试，在对测试结果的总结和分析中，找到光纤芯圆度对光纤性能的影响。特别针对光纤的纵向均匀性（OTDR）、串音（ER）的稳定性、拍长（BL）性能等关键性能进行了研究。研究表明，光纤的芯圆度在达到一定范围内，均能满足保偏光纤的使用需要，但是当光纤的芯圆度恶化到一定的程度，将会使得保偏光纤的性能有一定程度的降低。从本文的结论中期望得到一个保偏光纤的制造和使用过程中提供保偏光纤性能保障的芯圆度参数的参考指标。