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通用测试平台的讨论
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作者
程作仁
李丽
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高明伦
张多利
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第5期4-7,11,共5页
文章着重从结构、管理、工具支持、测试人员的使用及平台的安全性等几个方面对如何建立可升级数化的通用测试平台提出一种解决方案,并努力使之具有普适性,以期指导更多的工程实践。
关键词
通用测试平台
参数化
兼容性
数字电路
下载PDF
职称材料
题名
通用测试平台的讨论
被引量:
6
1
作者
程作仁
李丽
高明伦
张多利
机构
合肥工业大学微电子设计研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第5期4-7,11,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目6987010
高等学校博士学科点专项科研基金98035901
安徽省自然科学基金98324021
文摘
文章着重从结构、管理、工具支持、测试人员的使用及平台的安全性等几个方面对如何建立可升级数化的通用测试平台提出一种解决方案,并努力使之具有普适性,以期指导更多的工程实践。
关键词
通用测试平台
参数化
兼容性
数字电路
Keywords
Test
bench
, Function pattern, STA,
parameter
ized
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
通用测试平台的讨论
程作仁
李丽
高明伦
张多利
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001
6
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