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Chaotic Neural Network Technique for "0-1" Programming Problems 被引量:1
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作者 王秀宏 乔清理 王正欧 《Journal of Systems Engineering and Electronics》 SCIE EI CSCD 2003年第4期99-105,共7页
0-1 programming is a special case of the integer programming, which is commonly encountered in many optimization problems. Neural network and its general energy function are presented for 0-1 optimization problem. The... 0-1 programming is a special case of the integer programming, which is commonly encountered in many optimization problems. Neural network and its general energy function are presented for 0-1 optimization problem. Then, the 0-1 optimization problems are solved by a neural network model with transient chaotic dynamics (TCNN). Numerical simulations of two typical 0-1 optimization problems show that TCNN can overcome HNN's main drawbacks that it suffers from the local minimum and can search for the global optimal solutions in to solveing 0-1 optimization problems. 展开更多
关键词 neural network chaotic dynamics 0-1 optimization problem.
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改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术 被引量:2
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作者 朱敏 王石记 杨春玲 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期607-611,共5页
针对目前数字电路规模变大,测试困难的特点,提出了一种基于改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术.采用改进混沌Tent映射模型构建硬件电路并产生具有白噪声特性的"0-1"随机序列作为数字电路的自动测试生成图形,利用CRC特征电路... 针对目前数字电路规模变大,测试困难的特点,提出了一种基于改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术.采用改进混沌Tent映射模型构建硬件电路并产生具有白噪声特性的"0-1"随机序列作为数字电路的自动测试生成图形,利用CRC特征电路分析输出响应,并得到混沌序列的测试响应特征码,通过特征码的不同来检测故障.研究表明,本文方法易于BIST技术实现,相比于普通M序列性能优越,能够得到更高的故障检测率和故障隔离率,适合于FPGA等大规模可编程逻辑电路的自动测试. 展开更多
关键词 时序电路 Tent混沌0-1序列 内建自测试 循环冗余码
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基于混沌序列的时序数字电路BIST技术
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作者 朱敏 杨春玲 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第6期144-149,共6页
提出一种基于混沌序列的时序数字电路的内建自测试(BIST)技术。采用混沌logistic映射模型迭代运算产生具有白噪声特性的"0-1"随机测试序列,将其作为数字电路内建测试的自动测试图形,并利用循环冗余校验(CRC)特征分析电路分析... 提出一种基于混沌序列的时序数字电路的内建自测试(BIST)技术。采用混沌logistic映射模型迭代运算产生具有白噪声特性的"0-1"随机测试序列,将其作为数字电路内建测试的自动测试图形,并利用循环冗余校验(CRC)特征分析电路分析输出响应,从而得到混沌序列测试图形的响应特征码,通过特征码的不同来检测故障。实验研究表明,由于混沌迭代序列测试图形的施加顺序不唯一,因此对于时序数字电路的故障检测而言,能够比普通M序列测试的故障检测率更高,易于BIST技术实现,并适合于FPGA等大规模可编程逻辑电路的自动测试。 展开更多
关键词 时序电路 混沌 0-1序列 内建自测试 循环冗余校验
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