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Chemical Mechanical Polishing of Glass Substrate with α-Alumina-g-Polystyrene Sulfonic Acid Composite Abrasive 被引量:9
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作者 LEI Hong BU Naijing ZHANG Zefang CHEN Ruling 《Chinese Journal of Mechanical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第3期276-281,共6页
Abrasive is the one of key influencing factors during chemical mechanical polishing(CMP) process. Currently, α-Alumina (α-Al2O3) particle, as a kind of abrasive, has been widely used in CMP slurries, but their h... Abrasive is the one of key influencing factors during chemical mechanical polishing(CMP) process. Currently, α-Alumina (α-Al2O3) particle, as a kind of abrasive, has been widely used in CMP slurries, but their high hardness and poor dispersion stability often lead to more surface defects. After being polished with composite particles, the surface defects of work pieces decrease obviously. So the composite particles as abrasives in slurry have been paid more attention. In order to reduce defect caused by pure α-Al2O3 abrasive, α-alumina-g-polystyrene sulfonic acid (α-Al2O3-g-PSS) composite abrasive was prepared by surface graft polymerization. The composition, structure and morphology of the product were characterized by Fourier transform infrared spectroscopy(FTIR), X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), time-of-flight secondary ion mass spectroscopy(TOF-SIMS), and scanning electron microscopy(SEM), respectively. The results show that polystyrene sulfonic acid grafts onto α-Al2O3, and has well dispersibility. Then, the chemical mechanical polishing performances of the composite abrasive on glass substrate were investigated with a SPEEDFAM-16B-4M CMP machine. Atomic force microscopy(AFM) images indicate that the average roughness of the polished glass substrate surface can be decreased from 0.835 nm for pure α-Al2O3 abrasive to 0.583 nm for prepared α-Al2O3-g-PSS core-shell abrasive. The research provides a new and effect way to improve the surface qualities during CMP. 展开更多
关键词 chemical mechanical polishing glass substrate α-alumina graft polymerization composite abrasive
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Research on Abrasives in the Chemical Mechanical Polishing Process for Silicon Nitride Balls 被引量:6
2
作者 YUAN Ju-long, Lü Bing-hai, LIN Xü, JI Shi-ming, ZHANG Li-bin (Mechanical and Electronic Engineering College, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310014, China) 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第S1期63-64,共2页
Silicon nitride (Si 3N 4) has been the main material for balls in ceramic ball bearings, for its lower density, high strength, high hardness, fine thermal stability and anticorrosive, and is widely used in various fie... Silicon nitride (Si 3N 4) has been the main material for balls in ceramic ball bearings, for its lower density, high strength, high hardness, fine thermal stability and anticorrosive, and is widely used in various fields, such as high speed and high temperature areojet engines, precision machine tools and chemical engineer machines. Silicon nitride ceramics is a kind of brittle and hard material that is difficult to machining. In the traditional finishing process of silicon nitride balls, balls are lapped by expensive diamond abrasive. The machining is inefficiency and the cost is high, but also lots of pits, scratch subsurface micro crazes and dislocations will be caused on the surface of the balls, the performance of the ball bearings would be declined seriously. In these year, a kind of new technology known as chemical mechanical polishing is introduced in the ultraprecision machining process of ceramic balls. In this technology, abrasives such as ZrO 2, CeO 2 whose hardness is close to or lower than the work material (Si 3N 4) are used to polishing the balls. In special slurry, these abrasives can chemo-mechanically react with the work material and environment (air or water) to generate softer material (SiO 2). And the resultants will be removed easily at 0.1 nm level. So the surface defects can be minimized, very smooth surface (Ra=4 nm) and fine sphericity (0.15~0.25 μm ) can be obtained, and the machining efficiency is also improved. The action mechanism of the abrasives in the chemical mechanical polishing process in finishing of silicon nitride ball will be introduced in this paper. 展开更多
关键词 silicon nitride ball chemical mechanical polishing ABRASIVES
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Effect of Abrasive Concentration on Chemical Mechanical Polishing of Sapphire 被引量:1
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作者 闫未霞 张泽芳 +2 位作者 郭晓慧 刘卫丽 宋志棠 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2015年第8期181-184,共4页
Effects of abrasive concentration on material removal rate CMRR) and surtace quality m the chemical mecnamcal polishing (CMP) of light-emitting diode sapphire substrates are investigated. Experimental results show ... Effects of abrasive concentration on material removal rate CMRR) and surtace quality m the chemical mecnamcal polishing (CMP) of light-emitting diode sapphire substrates are investigated. Experimental results show that the MRR increases linearly with the abrasive concentration, while the rms roughness decreases with the increasing abrasive concentration. In addition, the in situ coefficient of friction (COF) is also conducted during the sapphire polishing process. The results present that COF increases sharply with the abrasive concentration up to 20 wt% and then shows a slight decrease from 20wt% to 40wt%. Temperature is a product of the friction force that is proportional to COF, which is an indicator for the mechanism of the sapphire CMP. 展开更多
关键词 COF Effect of Abrasive Concentration on chemical Mechanical Polishing of Sapphire CMP MRR
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Electrochemical behavior and polishing properties of silicon wafer in alkaline slurry with abrasive CeO_2 被引量:5
4
作者 宋晓岚 徐大余 +3 位作者 张晓伟 史训达 江楠 邱冠周 《中国有色金属学会会刊:英文版》 EI CSCD 2008年第1期178-182,共5页
The electrochemical behavior of silicon wafer in alkaline slurry with nano-sized CeO2 abrasive was investigated.The variations of corrosion potential(φcorr)and corrosion current density(Jcorr)of the P-type(100)silico... The electrochemical behavior of silicon wafer in alkaline slurry with nano-sized CeO2 abrasive was investigated.The variations of corrosion potential(φcorr)and corrosion current density(Jcorr)of the P-type(100)silicon wafer with the slurry pH value and the concentration of abrasive CeO2 were studied by polarization curve technologies.The dependence of the polishing rate on the pH and the concentration of CeO2 in slurries during chemical mechanical polishing(CMP)were also studied.It is discovered that there is a large change of φcorr and Jcorr when slurry pH is altered and the Jcorr reaches the maximum(1.306 μA/cm2)at pH 10.5 when the material removal rate(MRR)comes to the fastest value.The Jcorr increases gradually from 0.994 μA/cm2 with 1% CeO2 to 1.304 μA/cm2 with 3% CeO2 and reaches a plateau with the further increase of CeO2 concentration.There is a considerable MRR in the slurry with 3% CeO2 at pH 10.5.The coherence between Jcorr and MRR elucidates that the research on the electrochemical behavior of silicon wafers in the alkaline slurry could offer theoretic guidance on silicon polishing rate and ensure to adjust optimal components of slurry. 展开更多
关键词 化学机械抛光 物质脱模速度 电化学特性 泥浆
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Preparation and properties of nano-composite ceramic coating by thermo chemical reaction method
5
作者 马壮 孙方红 李智超 《Journal of Coal Science & Engineering(China)》 2007年第2期211-214,共4页
Nano-composite ceramic coating was fabricated on Q235 steel through thermo chemical reaction method. Structure of the coating was analyzed and the properties were tested. The results show that a few of new ceramic pha... Nano-composite ceramic coating was fabricated on Q235 steel through thermo chemical reaction method. Structure of the coating was analyzed and the properties were tested. The results show that a few of new ceramic phases, such as MgAI2O4, ZnAI2O4, AI2SiO5, Ni3Fe and Fe3AI, are formed on the coating during the process of solidifying at 600 ℃. The ceramic coating is dense and the high bonding strength is obtained. The average bonding strength between the coating and matrix could be 14.22 MPa. The acid resistance of the coating increase by 8.8 times, the alkali resistance by 4.1 times, the salt resistance bv 10.3 times, and the wear resistance bv 2.39 times. 展开更多
关键词 thermo chemical reaction nano-composite ceramic coating bonding strength corrosion resistance abrasion resistance
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纳米MoS_(2)固体薄膜制备及在钢领上的应用研究
6
作者 张一鸣 张天羿 +2 位作者 何瑶 陈志军 曹根阳 《纺织器材》 2024年第3期1-6,共6页
为了减小纺织机械及器材专件的摩擦磨损,对比分析普通MoS_(2)油和脂与纳米MoS_(2)固体薄膜的润滑机理和特性,提出一种在钢领上采用真空化学气相沉积法合成纳米MoS_(2)固体薄膜的制备工艺;通过X射线衍射谱图和原子力显微镜,分析纳米MoS_... 为了减小纺织机械及器材专件的摩擦磨损,对比分析普通MoS_(2)油和脂与纳米MoS_(2)固体薄膜的润滑机理和特性,提出一种在钢领上采用真空化学气相沉积法合成纳米MoS_(2)固体薄膜的制备工艺;通过X射线衍射谱图和原子力显微镜,分析纳米MoS_(2)固体薄膜的组织结构及表面形貌,并对纳米MoS_(2)钢领进行镀铬镀氟渗杂复合膜处理。通过对比纳米MoS_(2)固体薄膜钢领与普通钢领纺纱质量,指出:纳米MoS_(2)固体薄膜具有优异的润滑性能,可以代替普通润滑油,达到纺织设备及器材专件少用油、不用油及无油自润滑的目的;纳米MoS_(2)的制备方法是制约其应用和发展的瓶颈;镀铬镀氟渗杂复合膜纳米MoS_(2)钢领在潮湿环境中不易生锈,较普通钢领的成纱质量好,值车工劳动强度小,钢领使用寿命延长。 展开更多
关键词 化学气相沉积法 纳米MoS_(2) 固体薄膜 流体润滑 钢领 摩擦 磨损 渗杂
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化学链燃烧中载氧体结构设计对抗磨性的影响研究
7
作者 赵一凡 刘敦禹 金晶 《动力工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第4期509-519,共11页
在化学链反应过程中,载氧体作为氧和热量的载体起着至关重要的作用,载氧体设计一直是化学链技术研究的重点和难点。化学链燃烧通常发生在流化床反应器中,由于化学反应带来的化学应力对载氧体磨损贡献率最大,导致载氧体寿命大大缩短,有... 在化学链反应过程中,载氧体作为氧和热量的载体起着至关重要的作用,载氧体设计一直是化学链技术研究的重点和难点。化学链燃烧通常发生在流化床反应器中,由于化学反应带来的化学应力对载氧体磨损贡献率最大,导致载氧体寿命大大缩短,有效成分流失。从载氧体结构设计角度出发,定性评价了不同复合载氧体的抗磨损机理:核壳结构抑制了活性组分的相分离现象,避免了由于活性组分表面磨损带来的载氧体失活;添加Al_(2)O_(3)纤维和“铆钉”抑制了裂纹扩展,减缓了材料的磨损;添加燃料灰改善了复合载氧体的骨架强度,提高了载氧体抗磨性和抗结渣团聚性;利用复合载氧体的协同增效提高了反应活性,减缓了烧结团聚现象。从磨损动力学和使用寿命角度出发,定量比较了不同载氧体的磨损情况:通过对数拟合Gwyn磨损动力学方程,求出不同载氧体拟合参数K和n,可以反映磨损机制和磨损变化规律。 展开更多
关键词 化学链燃烧 结构设计 载氧体 磨损
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工艺参数对浸没式直流介电泳辅助化学机械抛光蓝宝石晶片的影响
8
作者 黄展亮 柏显亭 +1 位作者 潘继生 阎秋生 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第18期144-155,共12页
目的为了实现蓝宝石晶片的高效超光滑表面加工,提出浸没式直流介电泳辅助化学机械抛光方法,研究该方法对蓝宝石晶片的加工适应性。方法搭建了浸没式直流介电泳辅助化学机械抛光系统,通过单因素实验探究接入电压、工件及抛光盘转速、偏... 目的为了实现蓝宝石晶片的高效超光滑表面加工,提出浸没式直流介电泳辅助化学机械抛光方法,研究该方法对蓝宝石晶片的加工适应性。方法搭建了浸没式直流介电泳辅助化学机械抛光系统,通过单因素实验探究接入电压、工件及抛光盘转速、偏摆移动速度、抛光时间及抛光垫类型对蓝宝石晶片的加工效果,并深入分析负介电泳效应对CMP加工过程的影响。结果直流介电泳辅助CMP方法可以显著提高蓝宝石晶片的抛光效果,在2000V的接入电压下,化学机械抛光的材料去除率MRR提高了99.97%,达到了7.53nm/min,表面粗糙度Ra降低至2.51nm,工件表面划痕数量明显减少。工件及抛光盘转速、偏摆移动速度的提升都会使抛光MRR和Ra先升后降,带槽的抛光垫对介电泳效应控制磨料起促进作用。各个因素的影响对提高有效磨料数起交互作用,负介电泳效应促使磨料聚集在抛光垫表面,而工件与抛光垫的相对运动促使磨料更新循环。结论采用接入电压2000 V、工件及抛光盘转速80 r/min、偏摆速度60 r/min,在精抛垫下抛光蓝宝石晶片90 min,可以获得表面粗糙度Ra为0.953 nm的光滑表面。 展开更多
关键词 介电泳效应 化学机械抛光 蓝宝石晶片 工艺参数 抛光垫 有效磨料数 加工效果
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基于磁性复合磨粒的磁流变抛光试验研究
9
作者 李伊伦 魏镜弢 +1 位作者 吕彤辉 吴张永 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 2024年第2期1-8,共8页
针对铝合金磁流变抛光过程中出现的磨粒分布不均,提出基于二氧化硅包覆四氧化三铁(Fe_(3)O_(4)@SiO_(2))壳核结构磁性复合磨粒的化学辅助磁流变抛光工艺。用溶胶-凝胶法制备Fe_(3)O_(4)@SiO_(2)磁性复合磨粒,通过X射线衍射(XRD)、傅里... 针对铝合金磁流变抛光过程中出现的磨粒分布不均,提出基于二氧化硅包覆四氧化三铁(Fe_(3)O_(4)@SiO_(2))壳核结构磁性复合磨粒的化学辅助磁流变抛光工艺。用溶胶-凝胶法制备Fe_(3)O_(4)@SiO_(2)磁性复合磨粒,通过X射线衍射(XRD)、傅里叶变换红外光谱(FT-IR)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、X射线电子能谱仪(EDS)及振动样品磁强计(VSM)对其进行表征。进行6061铝合金平面材料的单因素抛光试验,研究主轴转速、抛光间隙、进给速度及抛光时间等对表面质量的影响。结果表明:主轴转速为600 r/min、抛光间隙为3 mm、进给速度为80 mm/min、抛光时间为40 min是最优参数组,在此参数下抛光6061铝合金,获得了Ra=0.02μm的超光整表面。对比同参数下传统磁流变抛光后的铝合金表面,因磨粒分布不均导致的表面细小划痕得到改善。 展开更多
关键词 铝合金 磁性复合磨粒 化学辅助磁流变抛光 抛光工艺参数 表面质量
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蓝宝石衬底CMP中氧化硅磨粒粒度分布对抛光液体系性能影响研究 被引量:2
10
作者 王晓剑 李薇薇 +3 位作者 钟荣锋 肖银波 许宁徽 孙运乾 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期168-174,200,共8页
目的 化学机械抛光(CMP)包含化学腐蚀和机械磨削两方面,抛光液p H、磨粒粒径和浓度等因素均会不同程度地影响其化学腐蚀和机械磨削能力,从而影响抛光效果。方法 采用30~150 nm连续粒径磨粒抛光液、120 nm均一粒径磨粒抛光液、50 nm和120... 目的 化学机械抛光(CMP)包含化学腐蚀和机械磨削两方面,抛光液p H、磨粒粒径和浓度等因素均会不同程度地影响其化学腐蚀和机械磨削能力,从而影响抛光效果。方法 采用30~150 nm连续粒径磨粒抛光液、120 nm均一粒径磨粒抛光液、50 nm和120 nm配制而成的混合粒径磨粒抛光液,分别对蓝宝石衬底晶圆进行循环CMP实验,研究CMP过程中抛光液体系的变化。结果 连续粒径磨粒抛光液中磨粒大规模团聚,满足高材料去除率的抛光时间仅有4 h,抛光后的晶圆表面粗糙度为0.665 nm;均一粒径磨粒抛光液中磨粒稳定,无团聚现象,抛光9 h内材料去除率较连续粒径磨粒抛光液高94.7%,能至少维持高材料去除率18 h,抛光后的晶圆表面粗糙度为0.204 nm;混合粒径磨粒抛光液初始状态下磨粒稳定性较高,抛光9 h内材料去除率较连续粒径磨粒抛光液高114.8%,之后磨粒出现小规模团聚现象,后9h材料去除率仅为均一粒径磨粒抛光液的59.6%,18 h内材料去除率仅为均一粒径磨粒抛光液的87.7%,但抛光后的晶圆表面粗糙度为0.151 nm。结论 一定时间内追求较高的材料去除率和较好的晶圆表面粗糙度选用混合粒径磨粒抛光液,但需要长时间CMP使用均一粒径磨粒抛光液更适合,因此,在工业生产中需要根据生产要求配合使用混合粒径磨粒抛光液和均一粒径磨粒抛光液。 展开更多
关键词 化学机械抛光 蓝宝石 抛光液 磨粒 微观形貌 材料去除率
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半导体材料CMP过程中磨料的研究进展 被引量:1
11
作者 何潮 牛新环 +4 位作者 刘江皓 占妮 邹毅达 董常鑫 李鑫杰 《微纳电子技术》 CAS 2024年第1期21-34,共14页
对磨料在半导体材料化学机械抛光(CMP)中的应用和研究进展进行了简单阐述,从各代半导体材料制成半导体器件的加工要求介绍了磨料在半导体材料CMP中的重要性,从CMP过程中磨料与半导体材料的相互作用介绍了磨料在半导体材料CMP中的环保性... 对磨料在半导体材料化学机械抛光(CMP)中的应用和研究进展进行了简单阐述,从各代半导体材料制成半导体器件的加工要求介绍了磨料在半导体材料CMP中的重要性,从CMP过程中磨料与半导体材料的相互作用介绍了磨料在半导体材料CMP中的环保性,从磨料的改性和制备介绍了磨料在半导体材料CMP中应用的限制性,重点从半导体材料的去除速率和表面质量介绍了磨料对半导体材料抛光性能的影响,并对国内外研究中单一磨料、混合磨料和复合磨料对半导体材料抛光性能的影响进行了评述,总结了近年来磨料在半导体材料CMP中的研究进展。最后,对磨料在半导体材料CMP中存在的共性问题进行了总结,并对该领域所面临的挑战及发展方向进行了展望。 展开更多
关键词 化学机械抛光(CMP) 抛光性能 磨料 去除速率 表面质量
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复合磨料的制备及其对层间介质CMP性能的影响 被引量:1
12
作者 陈志博 王辰伟 +4 位作者 罗翀 杨啸 孙纪元 王雪洁 杨云点 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第4期323-329,共7页
以SiO_(2)为内核、CeO_(2)为外壳制备出了核壳结构复合磨料,用以提升集成电路层间介质的去除速率及表面一致性。采用扫描电子显微镜(SEM)观察复合磨料的表面形貌,利用X射线衍射仪(XRD)、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)和X射线光电子能谱仪(... 以SiO_(2)为内核、CeO_(2)为外壳制备出了核壳结构复合磨料,用以提升集成电路层间介质的去除速率及表面一致性。采用扫描电子显微镜(SEM)观察复合磨料的表面形貌,利用X射线衍射仪(XRD)、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)和X射线光电子能谱仪(XPS)分析复合磨料的表面物相结构及化学键组成。研究结果表明,所制备的复合磨料呈现出“荔枝”形,平均粒径为70~90 nm,CeO_(2)粒子主要以Si—O—Ce键与SiO_(2)内核结合。将所制备的复合磨料配置成抛光液进行层间介质化学机械抛光(CMP)实验。实验结果表明,Zeta电位随着pH值的降低而升高,当pH值约为6.8时达到复合磨料的等电点。当pH值为3时,层间介质去除速率达到最大,为481.6 nm/min。此外,研究发现去除速率还与摩擦力和温度有关,CMP后的SiO_(2)晶圆均方根表面粗糙度为0.287 nm。 展开更多
关键词 复合磨料 核壳结构 层间介质 化学机械抛光(CMP) 去除速率
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氧化工艺对航空发动机齿轮用9310合金钢性能影响的研究
13
作者 孙境尧 张鹏远 +1 位作者 曲军 孙振淋 《电镀与精饰》 CAS 北大核心 2024年第8期36-40,共5页
对航空发动机产品大量使用的9310合金钢材料进行不同的氧化工艺试验,研究不同氧化工艺对氧化膜耐磨性能的影响。通过对外观、耐蚀性、厚度、耐磨能力的综合考察,得出结论:采用二次氧化法和添加了亚铁氰化钾的一次化学氧化法(氧化时间100... 对航空发动机产品大量使用的9310合金钢材料进行不同的氧化工艺试验,研究不同氧化工艺对氧化膜耐磨性能的影响。通过对外观、耐蚀性、厚度、耐磨能力的综合考察,得出结论:采用二次氧化法和添加了亚铁氰化钾的一次化学氧化法(氧化时间100 min)制备的氧化膜的耐磨性良好,相较于常规一次氧化法,氧化膜的耐磨性显著提高且其他性能优异。该方法解决了航空发动机产品在试车以后齿轮咬合面出现局部氧化膜破损的问题,提升了产品质量和使用寿命。 展开更多
关键词 化学氧化 耐磨性 一次氧化法 二次氧化法
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CMP抛光液中SiO_(2)磨料分散稳定性的研究进展
14
作者 程佳宝 石芸慧 +6 位作者 牛新环 刘江皓 邹毅达 占妮 何潮 董常鑫 李鑫杰 《微纳电子技术》 CAS 2024年第2期25-35,共11页
对SiO_(2)磨料在化学机械抛光(CMP)抛光液中的应用以及影响抛光液分散稳定性的因素进行了阐述,重点从SiO_(2)磨料分散稳定性的角度介绍了SiO_(2)磨料质量分数和粒径、抛光液pH值、表面活性剂种类和表面改性等对抛光液稳定性的影响,通过... 对SiO_(2)磨料在化学机械抛光(CMP)抛光液中的应用以及影响抛光液分散稳定性的因素进行了阐述,重点从SiO_(2)磨料分散稳定性的角度介绍了SiO_(2)磨料质量分数和粒径、抛光液pH值、表面活性剂种类和表面改性等对抛光液稳定性的影响,通过分析Zeta电位绝对值的范围、凝胶时间的长短、粒径随时间的变化和接触角等,总结了小粒径(35 nm左右)SiO_(2)磨料在抛光液中的分散机理,同时探讨了弱碱性环境对磨料Zeta电位的影响,阳离子、阴离子和非离子表面活性剂对磨料表面的作用机理和复配使用的效果,以及表面疏水化或亲水化改性对磨料分散稳定性的影响。最后对该领域未来的发展方向进行了展望。 展开更多
关键词 化学机械抛光(CMP) SiO_(2)磨料 表面活性剂 分散稳定性 PH值
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300MW机组汽轮机磨蚀、腐蚀和积盐原因分析及处理对策
15
作者 王玉琴 《价值工程》 2024年第33期20-22,共3页
介绍某电厂300MW机组汽轮机磨蚀、腐蚀与积盐的情况,通过对汽轮机磨蚀、腐蚀、积盐情况进行分析,以及对积盐与沉积物的化学成分进行检测,探讨磨蚀、腐蚀与积盐产生的原因,并提出了相应的对策和解决措施。
关键词 汽轮机 磨蚀 腐蚀 积盐 化学成分 原因及对策
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ULSI硅衬底的化学机械抛光 被引量:31
16
作者 张楷亮 刘玉岭 +2 位作者 王芳 李志国 韩党辉 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期115-119,共5页
在分析 UL SI中硅衬底 CMP的动力学过程基础上 ,提出了在机械研磨去除产物过程中 ,适当增强化学作用可显著改善产物的质量传输过程 ,从而提高抛光效率 .在对不同粒径分散度的硅溶胶抛光液进行比较后提出了参与机械研磨的有效粒子数才是... 在分析 UL SI中硅衬底 CMP的动力学过程基础上 ,提出了在机械研磨去除产物过程中 ,适当增强化学作用可显著改善产物的质量传输过程 ,从而提高抛光效率 .在对不同粒径分散度的硅溶胶抛光液进行比较后提出了参与机械研磨的有效粒子数才是机械研磨过程的重要因素 ,而不是单纯受粒径大小的影响 .分析和讨论了 CMP工艺中的几个影响因素 ,如粒径大小与分散度、p H值、温度、流量和浓度等 .采用含表面活性剂和螯合剂的清洗液进行抛光后清洗 ,表面颗粒数优于国际 SEMI标准 。 展开更多
关键词 硅衬底 化学机械抛光(CMP) ULSI 纳米研磨料 动力学过程
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纳米CeO_2颗粒的制备及其化学机械抛光性能研究 被引量:29
17
作者 李霞章 陈杨 +2 位作者 陈志刚 陈建清 倪超英 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第1期1-5,共5页
以硝酸铈和六亚甲基四胺为原料制备出不同粒径的纳米CeO2粉体颗粒,将纳米CeO2粉体配制成抛光液并用于砷化镓晶片的化学机械抛光.结果表明,不同尺寸的纳米磨料具有不同的抛光效果,采用粒度8 nm的CeO2磨料抛光后微观表面粗糙度最低(0.740 ... 以硝酸铈和六亚甲基四胺为原料制备出不同粒径的纳米CeO2粉体颗粒,将纳米CeO2粉体配制成抛光液并用于砷化镓晶片的化学机械抛光.结果表明,不同尺寸的纳米磨料具有不同的抛光效果,采用粒度8 nm的CeO2磨料抛光后微观表面粗糙度最低(0.740 nm),采用粒度小于或大于8 nm的CeO2磨料抛光后其表面粗糙度值均较高.通过简化的固-固接触模型分析,认为当粒度过小时,磨料难以穿透软质层,表现为化学抛光为主,表面凹坑较多,表面粗糙度较高;当粒度大于一定值时,随着磨料粒度增加,嵌入基体部分的深度加大,使得粗糙度出现上升趋势.提出当磨料嵌入晶片表面的最大深度等于或接近于软质层厚度时,在理论上应具有最佳的抛光效果. 展开更多
关键词 纳米CEO2 GAAS 化学机械抛光 磨料粒径
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纳米磨料对硅晶片的超精密抛光研究 被引量:22
18
作者 陈杨 陈建清 +1 位作者 陈志刚 范真 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第4期332-335,共4页
采用均相沉淀法制备了纳米CeO2和纳米Al2O3超细粉体,将所制备的超细粉体配制成抛光液并用于硅晶片化学机械抛光,考察了纳米磨料对硅晶片抛光效果及抛光机理的影响.结果表明,纳米CeO2磨料的抛光效果优于纳米Al2O3磨料,采用纳米CeO2磨料... 采用均相沉淀法制备了纳米CeO2和纳米Al2O3超细粉体,将所制备的超细粉体配制成抛光液并用于硅晶片化学机械抛光,考察了纳米磨料对硅晶片抛光效果及抛光机理的影响.结果表明,纳米CeO2磨料的抛光效果优于纳米Al2O3磨料,采用纳米CeO2磨料抛光硅晶片时可以得到在1μm×1μm范围内微观表面粗糙度Ra为0.089nm的超光滑表面,且表面微观起伏较小. 展开更多
关键词 纳米磨料 单晶硅片 抛光 表面形貌
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ULSI制造中硅片化学机械抛光的运动机理 被引量:14
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作者 苏建修 郭东明 +2 位作者 康仁科 金洙吉 李秀娟 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期606-612,共7页
从运动学角度出发,根据硅片与抛光垫的运动关系,通过分析磨粒在硅片表面的运动轨迹,揭示了抛光垫和硅片的转速和转向以及抛光头摆动参数对硅片表面材料去除率和非均匀性的影响.分析结果表明:硅片与抛光垫转速相等转向相同时可获得最佳... 从运动学角度出发,根据硅片与抛光垫的运动关系,通过分析磨粒在硅片表面的运动轨迹,揭示了抛光垫和硅片的转速和转向以及抛光头摆动参数对硅片表面材料去除率和非均匀性的影响.分析结果表明:硅片与抛光垫转速相等转向相同时可获得最佳的材料去除非均匀性及材料去除率.研究结果为设计 CMP机床,选择 CMP的运动参数和进一步理解CMP的材料去除机理提供了理论依据. 展开更多
关键词 化学机械抛光 材料去除机理 材料去除率 非均匀性 磨粒
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不同磨料对蓝宝石晶片化学机械抛光的影响研究 被引量:21
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作者 熊伟 储向峰 +3 位作者 董永平 毕磊 叶明富 孙文起 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第6期1064-1069,共6页
本文制备了几种含不同磨料(SiC、Al2O3、不同粒径SiO2)的抛光液,通过纳米粒度仪分析磨料粒径分布,采用原子力显微镜观察磨料的粒径大小。研究了不同磨料对蓝宝石晶片化学机械抛光(CMP)的影响,利用原子力显微镜检测抛光前后蓝宝石晶片表... 本文制备了几种含不同磨料(SiC、Al2O3、不同粒径SiO2)的抛光液,通过纳米粒度仪分析磨料粒径分布,采用原子力显微镜观察磨料的粒径大小。研究了不同磨料对蓝宝石晶片化学机械抛光(CMP)的影响,利用原子力显微镜检测抛光前后蓝宝石晶片表面粗糙度。实验结果表明,在相同的条件下,采用SiC、Al2O3作为磨料时,材料去除速率与表面粗糙度均不理想;而采用含1%粒径为110 nm SiO2的抛光液,材料的去除速率最高为41.6 nm/min,表面粗糙度Ra=2.3 nm;采用含1%粒径为80 nm SiO2的抛光液,材料的去除速率为36.5 nm/min,表面粗糙度最低Ra=1.2 nm。 展开更多
关键词 蓝宝石 化学机械抛光 去除速率 表面粗糙度 磨料
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