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成年腭裂患者颅面形态的X线头影测量研究 被引量:1
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作者 王敏 王银龙 《安徽医科大学学报》 CAS 北大核心 2012年第5期607-610,共4页
采用X线头影测量的方法对60例成年腭裂患者进行颅颌面部软硬组织测量,并与60例正常成人进行对照。结果发现,与对照组比较,硬组织方面腭裂患者SNA(上牙槽座角)、N-A-Po(颌凸角)和ANS-Ptm(上颌长)等结果偏小,差异有统计学意义(P<0.01)... 采用X线头影测量的方法对60例成年腭裂患者进行颅颌面部软硬组织测量,并与60例正常成人进行对照。结果发现,与对照组比较,硬组织方面腭裂患者SNA(上牙槽座角)、N-A-Po(颌凸角)和ANS-Ptm(上颌长)等结果偏小,差异有统计学意义(P<0.01);而软组织方面腭裂患者G-Sn-Po'(面型角)、ULP(上唇突度)减少,差异有统计学意义(P<0.01)。表明硬组织方面腭裂患者的上颌骨存在明显的发育不足、硬腭长度过短、下颌颏部前伸现象明显,下颌骨向下旋转及后退。而软组织方面腭裂患者面中1/3凹陷明显,上唇突度不足。 展开更多
关键词 成年 未手术 腭裂 头影测量
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