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Bonding mechanism of ultrasonic wedge bonding of copper wire on Au/Ni/Cu substrate 被引量:1
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作者 田艳红 王春青 Y.Norman ZHOU 《中国有色金属学会会刊:英文版》 EI CSCD 2008年第1期132-137,共6页
The ultrasonic wedge bonding with d25 μm copper wire was achieved on Au/Ni plated Cu substrate at ambient temperature.Ultrasonic wedge bonding mechanism was investigated by using SEM/EDX,pull test,shear test and micr... The ultrasonic wedge bonding with d25 μm copper wire was achieved on Au/Ni plated Cu substrate at ambient temperature.Ultrasonic wedge bonding mechanism was investigated by using SEM/EDX,pull test,shear test and microhardness test.The results show that the thinning of the Au layer occurs directly below the center of the bonding tool with the bonding power increasing.The interdiffusion between copper wire and Au metallization during the wedge bonding is assumed negligible,and the wedge bonding is achieved by wear action induced by ultrasonic vibration.The ultrasonic power contributes to enhance the deformation of copper wire due to ultrasonic softening effect which is then followed by the strain hardening of the copper wedge bonding. 展开更多
关键词 铜导线 超声波焊接 金属学 磨损性能
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Effect of ultrasonic power and bonding force on the bonding strength of copper ball bonds 被引量:1
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作者 杭春进 王春青 田艳红 《China Welding》 EI CAS 2007年第3期46-50,共5页
Copper wire, serving as a cost-saving alternative to gold wire, has been used in many high-end thermosonic ball bonding applications. In this paper, the bond shear force, bond shear strength, and the ball bond diamete... Copper wire, serving as a cost-saving alternative to gold wire, has been used in many high-end thermosonic ball bonding applications. In this paper, the bond shear force, bond shear strength, and the ball bond diameter are adopted to evaluate the bonding quality. It is concluded that the ef/~cient ultrasonic power is needed to soften the ball to form the copper bonds with high bonding strength. However, excessive ultrasonic power would serve as a fatigue loading to weaken the bonding. Excessive or less bonding force would cause cratering in the silicon. 展开更多
关键词 copper wire bond thermosonic bonding ultrasonic power bonding force shear force
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车用碳化硅功率模块的电热性能优化与评估 被引量:1
3
作者 马荣耀 唐开锋 +3 位作者 潘效飞 邵志峰 孙鹏 曾正 《电源学报》 CSCD 北大核心 2024年第3期78-86,共9页
由于在开关速度、温度特性和耐压能力等方面的优势,SiC(silicon carbide)功率模块开始逐步应用于电动汽车的电机控制器。电机控制器是电动汽车的核心部件,对功率模块的电热特性要求较高,因此对SiC封装提出了很大的挑战。以主流的HybridP... 由于在开关速度、温度特性和耐压能力等方面的优势,SiC(silicon carbide)功率模块开始逐步应用于电动汽车的电机控制器。电机控制器是电动汽车的核心部件,对功率模块的电热特性要求较高,因此对SiC封装提出了很大的挑战。以主流的HybridPACK Drive模块封装为例,优化设计了模块的驱动回路和DBC(direct bonded copper)布局,并引入了铜线键合技术,协同优化了模块的电热性能和可靠性。此外,采用响应面法优化了椭圆形Pin-Fin散热基板,提升了模块的散热性能。最后,分别制造了优化前、后的SiC功率模块样机作为对比,搭建了双脉冲和功率对拖实验平台,评估了2种方案的电热性能。实验结果显示,当芯片交错距离为芯片宽度的1/2时,所优化的功率模块可以在兼顾电性能的同时,实现更优异的热性能。 展开更多
关键词 SIC MOSFET 铜线互联 响应面法 DBC布局
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国内外铜线键合拉力试验方法标准对比分析
4
作者 张秋 闫美存 《信息技术与标准化》 2023年第10期57-63,共7页
为满足铜线键合拉力试验需求,从拉力施加位置、失效模式分类、最小拉力值以及试验结果的应用等4个方面对国内外铜线键合拉力试验方法标准的技术内容进行对比分析,并提出国内试验方法的修订建议。
关键词 铜线 键合拉力试验 标准
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键合铜丝的研究及应用现状 被引量:1
5
作者 周岩 刘劲松 +2 位作者 王松伟 彭庶瑶 彭晓飞 《铸造技术》 CAS 2023年第11期988-996,共9页
目前,键合铜丝因其价格低廉、具有优良的材料性能等特点正逐渐替代键合金丝广泛应用于电子封装领域。本文对当前市场上应用的金丝、铜丝、银丝及铝丝性能特点进行了分析对比,探讨了以键合铜丝替代传统键合丝材料的优势;简要介绍了铜丝... 目前,键合铜丝因其价格低廉、具有优良的材料性能等特点正逐渐替代键合金丝广泛应用于电子封装领域。本文对当前市场上应用的金丝、铜丝、银丝及铝丝性能特点进行了分析对比,探讨了以键合铜丝替代传统键合丝材料的优势;简要介绍了铜丝材制备和键合过程的研究进展,并对键合铜丝的封装失效形式进行了简要分析;综述了微合金化对键合铜丝服役性能的影响规律及机理;最后从市场需求及理论研究方面分析了键合铜丝市场的发展趋势。 展开更多
关键词 键合铜丝 引线键合技术 电子封装 微合金化
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二水合六亚甲基-1,6-二硫代硫酸二钠盐对天然橡胶-镀铜钢丝黏合性能的影响
6
作者 邹立经 黄学智 +3 位作者 陈朝晖 何铭彬 覃荆鹏 林强 《弹性体》 CAS 北大核心 2023年第2期77-82,共6页
研究了二水合六亚甲基-1,6-二硫代硫酸二钠盐(HTS)用量对天然橡胶(NR)-镀铜钢丝黏合胶料硫化性能、力学性能黏合性能的影响。结果表明,HTS的加入减少了胶料的焦烧时间,随着HTS用量增加,硫化胶的表观交联密度呈现先上升后下降的趋势,力... 研究了二水合六亚甲基-1,6-二硫代硫酸二钠盐(HTS)用量对天然橡胶(NR)-镀铜钢丝黏合胶料硫化性能、力学性能黏合性能的影响。结果表明,HTS的加入减少了胶料的焦烧时间,随着HTS用量增加,硫化胶的表观交联密度呈现先上升后下降的趋势,力学性能也表现出相近的变化规律;HTS可以改善NR-镀铜钢丝黏合界面强度及橡胶本体强度,当HTS的用量为2份时,黏合性能最佳。 展开更多
关键词 二水合六亚甲基-1 6-二硫代硫酸二钠盐 天然橡胶 镀铜钢丝 黏合性能
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DBC铜线键合工艺参数研究 被引量:3
7
作者 王小钰 张茹 李海新 《电子与封装》 2023年第6期27-33,共7页
铜线作为最有发展潜力的新一代键合材料,与铝线相比,具有优异的导电及导热能力。因绝缘栅双极型晶体管(IGBT)需承载大电流,采用铜线可在键合线数量不变的基础上提高电流传输能力和散热能力。采用铜线超声楔形键合对覆铜陶瓷基板(DBC)第... 铜线作为最有发展潜力的新一代键合材料,与铝线相比,具有优异的导电及导热能力。因绝缘栅双极型晶体管(IGBT)需承载大电流,采用铜线可在键合线数量不变的基础上提高电流传输能力和散热能力。采用铜线超声楔形键合对覆铜陶瓷基板(DBC)第一键合点和第二键合点的键合工艺参数进行研究,以剪切力作为衡量键合质量的标准,采用单因素分析法研究各参数对键合点强度的影响,采用正交试验确定最佳工艺参数,为铜线键合工艺的参数设定提供参考及指导方法。 展开更多
关键词 铜线 超声键合 楔形键合 正交试验
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塑封集成电路中铜丝键合的腐蚀及其评价 被引量:1
8
作者 林娜 黄侨 黄彩清 《电子与封装》 2023年第5期1-6,共6页
腐蚀是影响塑封集成电路铜丝键合可靠性的重要因素,其与湿度、温度、Cl离子摩尔分数以及电位密切相关。针对NiPdAgAu预镀框架与纯铜丝第二键合点的腐蚀失效现象,研究其评价方法,并通过实际工况分析采用不同浓度的NaCl溶液进行预处理以... 腐蚀是影响塑封集成电路铜丝键合可靠性的重要因素,其与湿度、温度、Cl离子摩尔分数以及电位密切相关。针对NiPdAgAu预镀框架与纯铜丝第二键合点的腐蚀失效现象,研究其评价方法,并通过实际工况分析采用不同浓度的NaCl溶液进行预处理以及电位对腐蚀结果的影响。将样品置于质量分数分别为0.5%、2.0%与5.0%的NaCl溶液中,对其进行高温、高湿预处理24 h,再进行96 h的高加速应力试验。结果表明,采用质量分数为5.0%的NaCl溶液进行预处理对加速腐蚀更有效,且腐蚀的键合点多数位于低电位引脚,少数位于高电位引脚。 展开更多
关键词 腐蚀 铜丝键合 预镀框架 电位
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功率模块铜线键合工艺参数优化设计
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作者 胡彪 成兰仙 +1 位作者 李振铃 戴小平 《机车电传动》 北大核心 2023年第2期43-49,共7页
为了提高功率模块铜线键合性能,采用6因素5水平的正交试验方法,结合BP(Back Propagation)神经网络与遗传算法,提出了一种铜线键合工艺参数优化设计方案。首先,对选定样品进行正交试验并将结果进行极差分析,得到工艺参数对键合质量的影... 为了提高功率模块铜线键合性能,采用6因素5水平的正交试验方法,结合BP(Back Propagation)神经网络与遗传算法,提出了一种铜线键合工艺参数优化设计方案。首先,对选定样品进行正交试验并将结果进行极差分析,得到工艺参数对键合质量的影响权重排序。其次,运用BP神经网络构建了铜线键合性能预测模型,并通过遗传算法对BP神经网络适应度函数求解,得到了工艺参数的最优值。将BP-遗传算法与传统优化方法的优化结果进行对比,发现经BP-遗传算法优化后的铜线键合工艺稳定性提升更加明显。最后,对功率模块进行了功率循环试验,结果表明经BP-遗传算法优化后的模块功率循环能力得到显著提升。 展开更多
关键词 铜线键合 BP神经网络 遗传算法 工艺参数优化
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AEC-Q006标准解读及可靠性要求研究
10
作者 吴钰凤 沈殷 +3 位作者 吴仕煌 郑宇 王斌 王之哲 《电子质量》 2023年第9期107-112,共6页
探讨了铜线键合器件在汽车电子认证中的可靠性要求。铜线键合器件在电子封装域已得到一定的推广及应用,然而,相比金线键合,由于铜线特殊的材料属性和键合工艺,其可靠应用面临一定的挑战。为了确保汽车电子系统的高可靠性和稳定性,汽车... 探讨了铜线键合器件在汽车电子认证中的可靠性要求。铜线键合器件在电子封装域已得到一定的推广及应用,然而,相比金线键合,由于铜线特殊的材料属性和键合工艺,其可靠应用面临一定的挑战。为了确保汽车电子系统的高可靠性和稳定性,汽车电子委员会制定了一系列标准和认证要求,其中针对铜线键合器件于2016年发布了AEC-Q006标准。对AEC-Q006标准进行了解读,重点探讨了铜线器件在汽车电子认证中的可靠性要求,并对可靠性试验中的主要失效机制进行分析,以帮助厂商和工程师在设计、制造和检测认证铜线键合器件的过程中能够确保器件满足标准的要求。 展开更多
关键词 汽车电子 铜线键合 AEC-Q006 可靠性分析
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铜线SSB互联技术的难点及工艺控制
11
作者 周金成 潘霞 李习周 《电子与封装》 2023年第4期1-5,共5页
分析了引线框架封装中铜丝键合的SSB (Stand-off Stitch Bond)互联的各种技术难点,并研究和验证了解决方案。从芯片、制具、材料、工艺等方面,分析了芯片的表面质量、键合夹具、键合劈刀等对铜丝SSB工艺的关键影响。研究了不同保护气体... 分析了引线框架封装中铜丝键合的SSB (Stand-off Stitch Bond)互联的各种技术难点,并研究和验证了解决方案。从芯片、制具、材料、工艺等方面,分析了芯片的表面质量、键合夹具、键合劈刀等对铜丝SSB工艺的关键影响。研究了不同保护气体下的无空气球(FAB)尺寸的稳定性和不同保护装置中FAB形状的稳定性,以及防止铜丝SSB键合焊盘损伤和控制“铝挤出”的技术。确定了SSB工艺控制的要点及改善方法,并通过试验证实了所述措施与方法的有效性。 展开更多
关键词 铜丝SSB键合 无空气球 氧化 焊盘损伤 铝挤出
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Comparison of the copper and gold wire bonding processes for LED packaging
12
作者 陈照辉 刘勇 刘胜 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期69-72,共4页
Wire bonding is one of the main processes of the LED packaging which provides electrical interconnec- tion between the LED chip and lead frame. The gold wire bonding process has been widely used in LED packaging indus... Wire bonding is one of the main processes of the LED packaging which provides electrical interconnec- tion between the LED chip and lead frame. The gold wire bonding process has been widely used in LED packaging industry currently. However, due to the high cost of gold wire, copper wire bonding is a good substitute for the gold wire bonding which can lead to significant cost saving. In this paper, the copper and gold wire bonding processes on the high power LED chip are compared and analyzed with finite element simulation. This modeling work may provide guidelines for the parameter optimization of copper wire bonding process on the high power LED packaging. 展开更多
关键词 LED packaging wire bonding copper wire FEM
原文传递
固-液铸轧异形双金属线截面形状预测模型
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作者 孟凯 黄华贵 +1 位作者 季策 张俊鹏 《哈尔滨工程大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第3期473-480,495,共9页
为研究短流程异形截面双金属线制备工艺,本文提出了非圆孔型固-液铸轧复合异形截面双金属线制备工艺,并以铜包钢线为研究对象,利用Deform有限元软件对非圆孔型固-液铸轧复合双金属线的截面形状进行研究,建立了异形截面双金属线的截面形... 为研究短流程异形截面双金属线制备工艺,本文提出了非圆孔型固-液铸轧复合异形截面双金属线制备工艺,并以铜包钢线为研究对象,利用Deform有限元软件对非圆孔型固-液铸轧复合双金属线的截面形状进行研究,建立了异形截面双金属线的截面形状预测模型。本文利用铸轧实验机成功制备了不同截面形状的双金属线,其截面形状与预测模型相符,预测模型的准确性在98%以上;基于截面形状预测模型,系统性地分析了设计参数对双金属线截面形状的影响。 展开更多
关键词 固-液复合 铸轧 双金属线 铜包钢线 预测模型 异形截面 截面形状 有限元
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芯片封装中铜线焊接性能分析 被引量:5
14
作者 陈新 李军辉 谭建平 《贵金属》 CAS CSCD 2004年第4期52-57,共6页
通过对纯铜的机械、电、热和化学性能进行分析和比较,表明铜线在芯片引线键合工艺中具有良好的机械、电、热性能。它替代金线和铝线,可缩小焊接间距、提高芯片频率和可靠性。但是铜由于表面氧化使其可焊性较差,可采用焊接工艺来改善其... 通过对纯铜的机械、电、热和化学性能进行分析和比较,表明铜线在芯片引线键合工艺中具有良好的机械、电、热性能。它替代金线和铝线,可缩小焊接间距、提高芯片频率和可靠性。但是铜由于表面氧化使其可焊性较差,可采用焊接工艺来改善其可焊性,并给出了具体方案。 展开更多
关键词 焊接性能 纯铜 可焊性 焊接工艺 表面氧化 替代 化学性能 芯片封装 引线键合 铜线
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铜线键合技术的发展与挑战 被引量:5
15
作者 刘培生 仝良玉 +3 位作者 王金兰 沈海军 施建根 罗向东 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期67-71,共5页
铜线键合技术近年来发展迅速,超细间距引线键合是目前铜线键合的主要发展趋势。介绍了铜线键合的防氧化措施以及键合参数的优化,并从IMC生长及焊盘铝挤出方面阐述了铜线键合的可靠性机理。针对铜线在超细间距引线键合中面临的问题,介绍... 铜线键合技术近年来发展迅速,超细间距引线键合是目前铜线键合的主要发展趋势。介绍了铜线键合的防氧化措施以及键合参数的优化,并从IMC生长及焊盘铝挤出方面阐述了铜线键合的可靠性机理。针对铜线在超细间距引线键合中面临的问题,介绍了可解决这些问题的镀钯铜线的性能,并阐述了铜线的成弧能力及面临的挑战。 展开更多
关键词 铜线键合 Pd-Cu线 综述 铜线弧 铝挤出
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冷变形和热处理对单晶Cu键合丝性能影响 被引量:15
16
作者 丁雨田 曹军 +2 位作者 胡勇 寇生中 许广济 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第4期83-88,共6页
研究单晶Cu键合丝冷加工过程中的微观组织和性能,分析热处理温度和热处理时间对单晶Cu键合丝破断力、伸长率和电阻率的影响。通过对单晶Cu键合丝进行冷加工及热处理,试验结果表明冷加工后的单晶Cu键合丝具有致密的纤维组织结构,强度和... 研究单晶Cu键合丝冷加工过程中的微观组织和性能,分析热处理温度和热处理时间对单晶Cu键合丝破断力、伸长率和电阻率的影响。通过对单晶Cu键合丝进行冷加工及热处理,试验结果表明冷加工后的单晶Cu键合丝具有致密的纤维组织结构,强度和电阻率得到提高,伸长率下降。随着退火时间和退火温度的增加,单晶Cu键合丝破断力降低,伸长率增加,电阻率呈下降趋势。对于φ0.025mm的单晶Cu键合丝,在退火温度为420℃,退火时间为2.4s时,单晶Cu键合丝具有高的伸长率和较高的破断力。在热处理过程中张力过大或环境条件不稳定会导致键合丝表面出现竹节状缺陷。经试验数据拟合,单晶Cu键合丝线径与退火温度、退火时间之间存在二次多项式函数关系。 展开更多
关键词 单晶 CU 键合丝 破断力 伸长率 电阻率 拟合
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铜丝引线键合技术的发展 被引量:14
17
作者 黄华 都东 +1 位作者 常保华 Zhou Yunhong 《焊接》 北大核心 2008年第12期15-20,共6页
铜丝引线键合有望取代金丝引线键合,在集成电路封装中获得大规模应用。论文从键合工艺、接头强度评估、键合机理以及最新的研究手段等方面简述了近年来铜丝引线键合技术的发展情况,讨论了现有研究的成果和不足,指出了未来铜丝引线键合... 铜丝引线键合有望取代金丝引线键合,在集成电路封装中获得大规模应用。论文从键合工艺、接头强度评估、键合机理以及最新的研究手段等方面简述了近年来铜丝引线键合技术的发展情况,讨论了现有研究的成果和不足,指出了未来铜丝引线键合技术的研究发展方向,对铜丝在集成电路封装中的大规模应用以及半导体集成电路工业在国内高水平和快速发展具有重要的意义。 展开更多
关键词 集成电路封装 铜丝引线键合 工艺
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单晶铜键合丝的球键合性能研究 被引量:6
18
作者 丁雨田 胡立杰 +1 位作者 胡勇 曹文辉 《特种铸造及有色合金》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期582-584,共3页
通过对自制单晶铜键合丝进行球键合工艺试验,并对键合后焊点分别进行键合拉力(BPT)和剪切力(BST)测试,以及对键合点的组织、界面进行观察和显微硬度测试。结果表明,单晶铜键合丝进行球键合后,焊点所能承受的拉断力和剪切力均为近似正态... 通过对自制单晶铜键合丝进行球键合工艺试验,并对键合后焊点分别进行键合拉力(BPT)和剪切力(BST)测试,以及对键合点的组织、界面进行观察和显微硬度测试。结果表明,单晶铜键合丝进行球键合后,焊点所能承受的拉断力和剪切力均为近似正态分布,具有较高的可信度,50μm的单晶铜键合丝的CPK值达到1.8以上,属于优质的过程能力指数。焊点经过可靠性试验后,界面依然清晰、较为平直,没有发现界面处形成微量弥散分布的金属间化合物和Kirkendall空洞,表现出稳定的电学和界面组织性能。 展开更多
关键词 单晶铜键合丝 球键合 可靠性
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电子封装Cu键合丝的研究及应用 被引量:18
19
作者 丁雨田 曹军 +2 位作者 许广济 寇生中 胡勇 《铸造技术》 EI CAS 北大核心 2006年第9期971-974,共4页
论述了传统Au、Al-1%Si键合丝在电子封装中的局限性,分析了Cu键合丝优良的材料性能,Cu键合丝替代Au丝和Al-1%Si丝可缩小焊接间距,提高芯片频率和可靠性。并在此基础上阐述了单晶铜作为键合丝的优势,通过键合性能的对比显示了单晶铜键合... 论述了传统Au、Al-1%Si键合丝在电子封装中的局限性,分析了Cu键合丝优良的材料性能,Cu键合丝替代Au丝和Al-1%Si丝可缩小焊接间距,提高芯片频率和可靠性。并在此基础上阐述了单晶铜作为键合丝的优势,通过键合性能的对比显示了单晶铜键合丝在电子封装中的良好特性。 展开更多
关键词 电子封装 键合性能 Cu键合丝 单晶铜
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单晶铜键合丝制备过程中的断线研究 被引量:10
20
作者 曹军 丁雨田 曹文辉 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第22期84-89,共6页
利用扫描电镜、X射线能谱仪对单晶铜线材拉制超微细键合丝的断口形貌、成分进行研究,分析单晶铜线材拉制过程中的断线类型及其影响因素。结果表明:单晶铜键合丝拉制过程中的断线主要由于单晶铜线材中高质量分数的O、S等气体元素形成氧... 利用扫描电镜、X射线能谱仪对单晶铜线材拉制超微细键合丝的断口形貌、成分进行研究,分析单晶铜线材拉制过程中的断线类型及其影响因素。结果表明:单晶铜键合丝拉制过程中的断线主要由于单晶铜线材中高质量分数的O、S等气体元素形成氧化物偏聚,高质量分数的有害杂质元素(Al、Ca、Si等)及其形成的金属间化合物,内部缺陷(微小气孔、微小气孔及其杂质、组织不均匀等)引起的孔洞或局部应力集中造成;单晶铜线材的表面缺陷(起皮、毛刺、擦伤等)及其微小的氧化物夹杂对拉制过程中的突发性断线有决定性影响;同时由于单晶铜加工硬化现象明显,拉制过程中拉伸张力控制不当及其骤然变化引起线材的局部应力变化造成拉制过程中的断线。 展开更多
关键词 单晶铜 键合丝 断线 拉制
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