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The Effect of Pressure on the Dissociation of H_2/CH_4Gas Mixture during Diamond Films Growth via Chemical Vapor Deposition 被引量:1
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作者 赵庆勋 辛红丽 +2 位作者 韩佳宁 文钦若 杨景发 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2002年第1期1113-1118,共6页
Monte Carlo simulations are adopted to study the electron motion in the mixture of H2 and CH4 during diamond synthesis via Glow Plasma-assisted Chemical Vapor Deposition (GPCVD). The non-uniform electric field is used... Monte Carlo simulations are adopted to study the electron motion in the mixture of H2 and CH4 during diamond synthesis via Glow Plasma-assisted Chemical Vapor Deposition (GPCVD). The non-uniform electric field is used and the avalanche of electrons is taken into account in this simulation. The average energy distribution of electrons and the space distribution of effective species such as CH3, CH+3, CH+ and H at various gas pressures are given in this paper, and optimum experimental conditions are inferred from these results. 展开更多
关键词 The Effect of Pressure on the Dissociation of H2/CH4Gas Mixture during diamond films growth via Chemical Vapor Deposition CH
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REACTION PROBABILITIES OF ENERGETIC SPECIES AT GROWING DIAMOND FILM SURFACES BY MOLECULAR DYNAMICS SIMULATION
2
作者 Q.Y. Zhang E. Bauer- Grosse 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 2002年第1期131-135,共5页
A Molecular Dynamics (MD) simulation with Tersoff empirical many-bodypotential has been employed to investigate the growth processes of diamond film with energeticspecies deposition. In the present study, we have stud... A Molecular Dynamics (MD) simulation with Tersoff empirical many-bodypotential has been employed to investigate the growth processes of diamond film with energeticspecies deposition. In the present study, we have studied the reaction probabilities of energeticspecies with energies of 0.1 e V to 10eV at the substrate temperature of 1100K. In the cases of thediamond growth on the surface with H passivation, the reaction probability of hydrocarbon speciesconsiderably increases when the species energy is higher than 2eV. This means that the diamond filmcan grow in the case of high incident species energy without the process of hydrogen abstraction,which is needed in the case of incident species with low energy. The reaction mechanism of energeticspecies on hydrogen passivated diamond surface is also discussed. 展开更多
关键词 molecular dynamics simulation diamond film growth reaction probability
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Orientation variation along growth direction of millimeter free-standing CVD diamond thinned by mechanical grinding
3
作者 Xing-kai Wen Jun-jun Wei +3 位作者 Jin-long Liu Jian-chao Guo Liang-xian Chen Cheng-ming Li 《International Journal of Minerals,Metallurgy and Materials》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第8期839-844,共6页
A free-standing diamond film with millimeter thickness prepared by DC arc plasma jet was thinned successively by mechanical grinding. The orientation and quality of the diamond films with different thicknesses were ch... A free-standing diamond film with millimeter thickness prepared by DC arc plasma jet was thinned successively by mechanical grinding. The orientation and quality of the diamond films with different thicknesses were characterized by X-ray diffraction and Raman spectroscopy, respectively. The results show a random grain-orientatinn distribution during the initial growth stage. As the film thickness increases, the preferred orientation of the diamond film changes from (111) to (220), due to the competitive growth mechanism. Twinning generated during the nucleation stage appears to stabilize the preferential growth along the 〈110〉 direction. The interplanar spacing of the (220) plane is enlarged as the film thickness increases, which is caused by the increase of non-diamond-phase carbon and impurities under the cyclic gas. In addition, the quality of the diamond film is barely degraded during the growth process. Furthermore, the peak shift demonstrates a significant inhomogeneity of stress along the film growth direction, which results from competitive growth. 展开更多
关键词 diamond films chemical vapor deposition GRINDING ORIENTATION growth mechanisms quality
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面向散热应用的碳化硅表面热丝化学气相沉积金刚石膜生长速率 被引量:1
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作者 李维汉 乔煜 +1 位作者 疏达 王新昶 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第8期1078-1085,共8页
金刚石具有极高的导热系数,在热管理中具有广阔的应用前景.基于热丝化学气相沉积法,采用多次沉积工艺在碳化硅表面制备了金刚石厚膜.采用扫描电子显微镜和拉曼光谱仪对金刚石膜进行了表征,系统地研究了热丝功率、碳源浓度和反应压力等... 金刚石具有极高的导热系数,在热管理中具有广阔的应用前景.基于热丝化学气相沉积法,采用多次沉积工艺在碳化硅表面制备了金刚石厚膜.采用扫描电子显微镜和拉曼光谱仪对金刚石膜进行了表征,系统地研究了热丝功率、碳源浓度和反应压力等工艺参数对金刚石生长速率及质量的影响.研究结果表明,当热丝功率为1600 W、碳源浓度在形核阶段为18/300和生长阶段为14/300、反应压力为4 kPa时制备的金刚石膜质量最佳,此时金刚石膜生长速率约为1.4μm/h. 展开更多
关键词 热丝化学气相沉积 金刚石膜 生长速率 质量 散热
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基于玻璃碳基底的超薄自支撑多晶金刚石膜制备
5
作者 熊枭 王兵 +1 位作者 熊鹰 吴国栋 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 北大核心 2023年第5期531-536,F0003,共7页
选取Ti、Si、玻璃碳3种基底,采用微波等离子体化学气相沉积技术,以CH_(4)/H_(2)为反应源制备超薄多晶金刚石膜。通过SEM、Raman、台阶仪表征并分析所制备的金刚石薄膜整体形态、表面(断面)形貌、组成、应力状态等。结果表明:仅以玻璃碳... 选取Ti、Si、玻璃碳3种基底,采用微波等离子体化学气相沉积技术,以CH_(4)/H_(2)为反应源制备超薄多晶金刚石膜。通过SEM、Raman、台阶仪表征并分析所制备的金刚石薄膜整体形态、表面(断面)形貌、组成、应力状态等。结果表明:仅以玻璃碳为基体生长的金刚石膜能自动剥离形成完整自支撑体,且薄膜表面晶粒的晶面显形清晰,膜厚仅为10μm;Raman光谱表征表明薄膜呈强的尖锐金刚石特征峰,且计算的残余应力最低,仅有−0.2161 GPa。可为超薄自支撑CVD金刚石膜的一步法生长-剥离提供新的技术途径。 展开更多
关键词 超薄金刚石膜 自支撑 玻璃碳基底 膜-基分离 生长机理 MPCVD
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THE VAPOR EPITAXIAL GROWTH OF SINGLE CRYSTAL DIAMOND FILM
6
作者 张战 李嘉 +2 位作者 孙振武 马丽莹 方莉俐 《Science China Mathematics》 SCIE 1992年第11期1402-1408,共7页
With H_2 and CH_3COCH_3 used as the source gases,the diamond epitaxlal films were obtained on the sythe siged single-crystal diamond(100),(110)and(111)faces by means of the microwave plasma-assisted chemical-vapor-dep... With H_2 and CH_3COCH_3 used as the source gases,the diamond epitaxlal films were obtained on the sythe siged single-crystal diamond(100),(110)and(111)faces by means of the microwave plasma-assisted chemical-vapor-deposition (CVD) method. Epitaxlal growth spirals and growth steps can be observed by scanning electron micrographs. Using micro Raman spectra method,we analysed the contents of graphites and other forms of carbon in the single-crystal diamond thin films.The experimental results showed that there are no other forms of carbon in the epitaxial films.Analysis results of reflection electron diffraction showed that the epitaxial diainond film s on diamond(100)an(110)Surfaces are single-crystal diamond films. 展开更多
关键词 HOMOEPITAXIAL HETEROEPITAXIAL MICROWAVE CVD diamond film growth.
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热丝CVD大面积金刚石薄膜的生长动力学研究 被引量:8
7
作者 汪爱英 柯培玲 +2 位作者 孙超 黄荣芳 闻立时 《新型炭材料》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期229-234,共6页
在传统工业型热丝化学气相沉积(HFCVD)反应腔内,相关工艺参数取模拟计算优化值的条件下,采用XRD,SEM及Ram an光谱等分析手段研究了单晶S i(100)上较大面积金刚石薄膜的动力学生长行为,讨论了晶格取向的变化规律。结果表明:优化工艺参数... 在传统工业型热丝化学气相沉积(HFCVD)反应腔内,相关工艺参数取模拟计算优化值的条件下,采用XRD,SEM及Ram an光谱等分析手段研究了单晶S i(100)上较大面积金刚石薄膜的动力学生长行为,讨论了晶格取向的变化规律。结果表明:优化工艺参数条件下,在模拟计算的衬底温度和气体温度分布均匀的区域内,沉积的金刚石薄膜虽存在一定的内应力,但整体薄膜连续、均匀,几何晶形良好,质量较高,生长速率达1.8μm/h。薄膜生长过程中晶形显露面受衬底温度和活性生长基团浓度的影响较大。 展开更多
关键词 热丝化学气相沉积 金刚石薄膜 动力学生长 模拟计算
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甲烷浓度对等离子喷射金刚石厚膜生长稳定性的影响 被引量:6
8
作者 陈荣发 左敦稳 +3 位作者 李多生 相炳坤 赵礼刚 王珉 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第10期1091-1094,共4页
采用高功率直流电弧等离子体CVD工艺制备了不同厚度的无裂纹自支撑金刚石厚膜.实验中观察到在金刚石厚膜生长过程中出现了形貌不稳定性,其程度随甲烷浓度的不同而变化.从理论和实验两个方面对这种不稳定性进行了讨论,认为直流电弧等离... 采用高功率直流电弧等离子体CVD工艺制备了不同厚度的无裂纹自支撑金刚石厚膜.实验中观察到在金刚石厚膜生长过程中出现了形貌不稳定性,其程度随甲烷浓度的不同而变化.从理论和实验两个方面对这种不稳定性进行了讨论,认为直流电弧等离子体的高温造成碳源高饱和度是生长不稳定性的根本原因.实验结果表明,在沉积金刚石厚膜时,为了稳定地获得高质量的厚膜,甲烷浓度不宜过高. 展开更多
关键词 金刚石厚膜 生长稳定性 甲烷浓度 直流等离子喷射 化学汽相沉积
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热阴极DC-PCVD方法制备的金刚石厚膜的生长特性和内应力 被引量:13
9
作者 金曾孙 姜志刚 +1 位作者 胡航 曹庆忠 《新型炭材料》 SCIE EI CAS CSCD 2003年第1期65-68,共4页
 采用热阴极DC PCVD(DirectCurrentPlasmaChemicalVaporDeposition)方法制备出大尺寸高质量的金刚石厚膜,研究了金刚石厚膜的生长特性和内应力状态。由热阴极DC PCVD方法制备的金刚石厚膜大多数为〈110〉取向,表面显露面主要是(100)面...  采用热阴极DC PCVD(DirectCurrentPlasmaChemicalVaporDeposition)方法制备出大尺寸高质量的金刚石厚膜,研究了金刚石厚膜的生长特性和内应力状态。由热阴极DC PCVD方法制备的金刚石厚膜大多数为〈110〉取向,表面显露面主要是(100)面和(111)面,厚膜的表面被较多的孪晶所覆盖,部分(111)面退化为3个相互垂直的(110)面,孪晶使厚膜表面结晶特性复杂化,金刚石厚膜的晶粒沿生长方向呈现柱状生长。金刚石厚膜的生长速率随甲烷流量和工作气压的增加而增加,但随生长速率的提高金刚石膜的品质明显下降。金刚石厚膜的内应力以压应力为主,随着甲烷浓度的增加压应力增加,随着工作气压的增加压应力减小,到某个气压之后变为张应力。 展开更多
关键词 制备 热阴极 DC-PCVD 金刚石厚膜 生长特性 内应力
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基于第一性原理方法研究基团在CVD金刚石薄膜(001)表面上的生长 被引量:4
10
作者 刘学杰 魏怀 +3 位作者 任元 陆峰 张素慧 银永杰 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第4期46-52,共7页
采用基于密度泛函理论的第一性原理方法研究CVD金刚石薄膜(001)表面的生长机理。计算清洁金刚石表面和氢(H)终止金刚石表面的构型。考察H原子和活性基团(C,CH,CH2和CH3)在清洁重构金刚石表面及在单层H终止金刚石表面上的吸附演变。结果... 采用基于密度泛函理论的第一性原理方法研究CVD金刚石薄膜(001)表面的生长机理。计算清洁金刚石表面和氢(H)终止金刚石表面的构型。考察H原子和活性基团(C,CH,CH2和CH3)在清洁重构金刚石表面及在单层H终止金刚石表面上的吸附演变。结果表明:清洁金刚石表面发生了对称二聚体重构,H原子终止金刚石表面稳定了金刚石结构;基团在金刚石(001)表面吸附演变过程中,H原子起到激活石墨和萃取表面H原子产生活性位的作用;CH2基团比CH3基团能够更好地提高CVD金刚石薄膜的生长率,是薄膜生长过程中最有效基团;CH基团阻碍了薄膜的生长。 展开更多
关键词 第一性原理 CVD金刚石薄膜 基团 生长机理 吸附演变
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基于硅过渡层纳米金刚石膜/GaN复合膜系的制备(英文) 被引量:3
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作者 刘金龙 田寒梅 +3 位作者 陈良贤 魏俊俊 黑立富 李成明 《新型炭材料》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期518-524,共7页
本文研发了一种简便有效的在GaN半导体衬底上直接生长纳米金刚石膜的方法。研究发现,直接将GaN衬底暴露于氢等离子体中5 min即发生分解,且随着温度从560℃升高至680℃,这种分解反应愈加剧烈,很难在GaN衬底上直接形成结合力良好的纳米金... 本文研发了一种简便有效的在GaN半导体衬底上直接生长纳米金刚石膜的方法。研究发现,直接将GaN衬底暴露于氢等离子体中5 min即发生分解,且随着温度从560℃升高至680℃,这种分解反应愈加剧烈,很难在GaN衬底上直接形成结合力良好的纳米金刚石膜。通过在GaN衬底上镀制几纳米厚的硅过渡层,在富氢金刚石生长环境下,抑制了GaN衬底的分解,同时在GaN衬底上沉积了约2μm厚的纳米金刚石膜。硅过渡层厚度是决定纳米金刚石与GaN衬底结合力的主要因素。当硅过渡层厚度为10 nm时,纳米金刚石膜与GaN衬底呈现出大于10 N的结合力,可能与硅过渡层在金刚石生长过程中向SiC过渡层转变有关。 展开更多
关键词 氮化镓 硅过渡层 纳米金刚石膜 直接生长 分解
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EACVD沉积金刚石过程中气相化学研究 被引量:2
12
作者 朱晓东 温晓辉 +1 位作者 詹如娟 周海洋 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第9期621-625,共5页
利用热阴极直流等离子体化学气相沉积技术分别在CH4-H2和C2H5OH-H2两种不同的工作环境中沉积金刚石膜,同时利用发射光谱对等离子体气相环境进行了原位诊断。在CH4-H2和C2H5OH-H2两种体系中,探测到H原... 利用热阴极直流等离子体化学气相沉积技术分别在CH4-H2和C2H5OH-H2两种不同的工作环境中沉积金刚石膜,同时利用发射光谱对等离子体气相环境进行了原位诊断。在CH4-H2和C2H5OH-H2两种体系中,探测到H原子和CH、CH+、C2等多种碳氢粒子,发现CH和CH+有益于金刚石生长,而C2是非金刚石相的生长基因.与CH4-H2体系所不同的是,在C2H5OH-H2体系中,还产生了CHO、CH2O、O2基因,故可增加碳源浓度,提高金刚石膜的生长速率,同时保证金刚石膜的晶体质量。含氧碳源的使用对金刚石膜合成的影响主要是因为沉积过程中气相环境变化所致。 展开更多
关键词 金刚石膜 光发射谱 EACVD 气相化学 气相合成
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新型MPCVD装置在高功率密度下高速沉积金刚石膜 被引量:9
13
作者 于盛旺 李晓静 +4 位作者 张思凯 范朋伟 黑鸿君 唐伟忠 吕反修 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第9期1722-1726,共5页
使用自行研制的新型MPCVD装置,以H2-CH4为气源,在输入功率为5kW,沉积压力分别为13.33、26.66kPa和不同的甲烷浓度下制备了金刚石膜。利用等离子体发射光谱法对等离子体中的H原子和含碳的活性基团浓度进行了分析。用扫描电镜、激光拉曼... 使用自行研制的新型MPCVD装置,以H2-CH4为气源,在输入功率为5kW,沉积压力分别为13.33、26.66kPa和不同的甲烷浓度下制备了金刚石膜。利用等离子体发射光谱法对等离子体中的H原子和含碳的活性基团浓度进行了分析。用扫描电镜、激光拉曼谱对金刚石膜的表面和断口形貌、金刚石膜的品质等进行了表征。实验结果表明,使用新型MPCVD装置能够在较高的功率密度下进行金刚石膜的沉积;提高功率密度能使等离子体中H原子和含碳活性基团的浓度明显增加,这将提高金刚石膜的沉积速度,并保证金刚石膜具有较高的质量。 展开更多
关键词 新型MPCVD装置 金刚石膜 功率密度 生长速率
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基片温度对直流电弧等离子体喷射沉积金刚石膜的影响 被引量:5
14
作者 钟国仿 申发振 +1 位作者 唐伟忠 吕反修 《北京科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期353-356,共4页
研究直流电弧等离子体喷射化学气相沉积金刚石膜系统中,基片温度对金刚石膜生长速率和质量的影响.实验发现,金刚石膜的生长速率和结晶性随基片温度的增加而单调增加,但是金刚石膜中非金刚石碳的质量分数先是随基片温度的增加而降低... 研究直流电弧等离子体喷射化学气相沉积金刚石膜系统中,基片温度对金刚石膜生长速率和质量的影响.实验发现,金刚石膜的生长速率和结晶性随基片温度的增加而单调增加,但是金刚石膜中非金刚石碳的质量分数先是随基片温度的增加而降低,在1000~1100℃达到最低值以后又开始随基片温度的增加而增加. 展开更多
关键词 金刚石 薄膜 基片温度 CVD 等离子体喷射
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原位氮掺杂对CVD金刚石薄膜生长和结构的影响 被引量:3
15
作者 邵乐喜 刘小平 +3 位作者 屈菊兰 谢二庆 贺德衍 陈光华 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2002年第3期221-223,233,共4页
以氮气为杂质源 ,采用微波等离子体化学气相沉积技术进行了金刚石薄膜的原位掺杂 ,研究了氮掺杂对CVD金刚石薄膜的形貌结构和生长行为的影响。运用SEM ,Raman ,XRD和FTIR等手段对样品进行了分析表征。实验结果表明 ,原位氮掺杂的CVD金... 以氮气为杂质源 ,采用微波等离子体化学气相沉积技术进行了金刚石薄膜的原位掺杂 ,研究了氮掺杂对CVD金刚石薄膜的形貌结构和生长行为的影响。运用SEM ,Raman ,XRD和FTIR等手段对样品进行了分析表征。实验结果表明 ,原位氮掺杂的CVD金刚石薄膜的晶面显露、晶粒尺寸、致密性、生长速率以及薄膜的微结构特征等均强烈地依赖于反应气体中氮源浓度比 ;如果氮源气体流量适当 ,杂质氮不仅能进入金刚石薄膜晶格中 。 展开更多
关键词 原位氮掺杂 CVD 薄膜生长结构 化学气相沉积 金刚石薄膜 形貌
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在CH_4-H_2微波等离子体中添加H_2O对大面积金刚石膜生长的研究 被引量:14
16
作者 满卫东 汪建华 +3 位作者 王传新 马志斌 王升高 刘远勇 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 北大核心 2005年第6期16-19,共4页
用自制的微波功率为5千瓦的微波等离子体(MWCVD)装置,研究了在CH4-H2反应气体中添加安全廉价的H2O代替O2金刚石膜的沉积状况,以H2/CH4/H2O作为反应气体,成功制备了厚度达到1.1毫米,面积达20平方厘米的金刚石厚膜。在沉积温度为700-900... 用自制的微波功率为5千瓦的微波等离子体(MWCVD)装置,研究了在CH4-H2反应气体中添加安全廉价的H2O代替O2金刚石膜的沉积状况,以H2/CH4/H2O作为反应气体,成功制备了厚度达到1.1毫米,面积达20平方厘米的金刚石厚膜。在沉积温度为700-900℃范围内,研究了CH4/H2=3.0%,H2O/H2=0.0-2.4%范围内金刚石膜沉积的速率,均匀性,形貌以及质量的变化规律。研究结果表明,在反应气体CH4/H2中添加适量H2O能降低金刚石膜中非金刚石碳的含量,提高金刚石膜厚度的均匀性,并对反应气体中添加H2O对CVD金刚石膜生长影响机理进行了阐述。 展开更多
关键词 金刚石膜 微波 化学气相沉积 生长
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直流电弧等离子体喷射金刚石厚膜生长不稳定性问题 被引量:6
17
作者 吕反修 黄天斌 +2 位作者 唐伟忠 宋建华 佟玉梅 《材料热处理学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期46-50,共5页
采用高功率直流电弧等离子体CVD工艺制备了不同厚度的金刚石自支撑膜。观察到在金刚石厚膜生长过程中出现形貌不稳定性 ,并往往导致膜层组织疏松 ,强度降低。本文从理论和实验观察两个方面进行了讨论。生长不稳定性在任何高速沉积CVD过... 采用高功率直流电弧等离子体CVD工艺制备了不同厚度的金刚石自支撑膜。观察到在金刚石厚膜生长过程中出现形貌不稳定性 ,并往往导致膜层组织疏松 ,强度降低。本文从理论和实验观察两个方面进行了讨论。生长不稳定性在任何高速沉积CVD过程中都可能发生 ,而直流电弧等离子体的高温造成碳源高饱和度以及高温等离子体射流对衬底表面的冲击 ,使之比其它CVD金刚石膜沉积工艺具有更大的不稳定生长倾向。基于实验研究结果 ,建议在较低的气体压力下沉积 。 展开更多
关键词 生长不稳定性 金刚石厚膜 化学气相沉积 直流电弧等离子体喷射
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(100)定向CVD金刚石薄膜的制备及其电学性能 被引量:5
18
作者 苏青峰 夏义本 +4 位作者 王林军 张明龙 楼燕燕 顾蓓蓓 史伟民 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期947-951,共5页
报道了采用HFCVD制备金刚石薄膜的方法,以乙醇为碳源,氢气为载气,在适当的衬底温度下,合成出具有(100)晶面取向均匀生长的金刚石薄膜.SEM,XRD和Raman分析表明,所合成的金刚石薄膜是高质量的多晶(100)取向膜,厚度均匀、化学性能稳定,结... 报道了采用HFCVD制备金刚石薄膜的方法,以乙醇为碳源,氢气为载气,在适当的衬底温度下,合成出具有(100)晶面取向均匀生长的金刚石薄膜.SEM,XRD和Raman分析表明,所合成的金刚石薄膜是高质量的多晶(100)取向膜,厚度均匀、化学性能稳定,结构和性能与天然金刚石相接近.研究了室温下(100)取向金刚石薄膜的暗电流电压特性、稳态55Fe 5. 9keV X射线辐照下的响应和电容频率特性.结果表明,退火后(100)取向多晶金刚石薄膜具有较低的暗电流和较高的X射线响应;高频下,电容和介电损耗都很小且趋于稳定,不随频率的变化而变化. 展开更多
关键词 金刚石薄膜 HFCVD (100)定向生长 电学特性
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化学汽相沉积金刚石薄膜的生长 被引量:3
19
作者 唐璧玉 靳九成 +5 位作者 靳浩 颜永红 李绍绿 夏金童 陈小华 陈宗璋 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期334-336,共3页
利用热丝化学汽相沉积法生长出优异的金刚石薄膜.研究表明,金刚石的成核依赖于沉积点的尖锐度,薄膜的生长包括晶粒长大和薄膜上的二次成核及其生长,可用分层生长来描述.金刚石晶粒的生长由外延生长和二次成核及其生长组成,也是分... 利用热丝化学汽相沉积法生长出优异的金刚石薄膜.研究表明,金刚石的成核依赖于沉积点的尖锐度,薄膜的生长包括晶粒长大和薄膜上的二次成核及其生长,可用分层生长来描述.金刚石晶粒的生长由外延生长和二次成核及其生长组成,也是分层进行的.结果导致了金刚石晶体和薄膜的层状结构. 展开更多
关键词 化学汽相沉积 金刚石 薄膜 分层生长 层状结构
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HFCVD金刚石膜过程的气氛模拟与分析 被引量:2
20
作者 戚学贵 陈则韶 +2 位作者 常超 王冠中 廖源 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期200-206,共7页
对热丝法化学气相沉积金刚石膜过程的气氛进行了模拟与分析.使用GRI-Mech3.0甲烷燃烧过程C/H/O/N四元体系热化学反应机理和动力学数据,模拟并分析了HFCVD金刚石膜的C/H气相化学反应,通过对反应流的简单模拟得到了衬底位置气相组成,结果... 对热丝法化学气相沉积金刚石膜过程的气氛进行了模拟与分析.使用GRI-Mech3.0甲烷燃烧过程C/H/O/N四元体系热化学反应机理和动力学数据,模拟并分析了HFCVD金刚石膜的C/H气相化学反应,通过对反应流的简单模拟得到了衬底位置气相组成,结果与前人实验数据吻合.探讨了灯丝温度、碳源浓度和碳源种类等因素变化对衬底位置气相组成的影响.结果表明甲基是金刚石膜生长最主要的前驱基团,其作用远高于乙炔,而超平衡态原子氢的存在对金刚石膜的质量至关重要. 展开更多
关键词 HFCVD 气氛模拟 热丝法化学气相沉积 金刚石膜 气相化学 前驱基团 成膜过程
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