电子探针背景扣除和谱线干扰修正方法的进展

对提高电子探针分析精度和分辨本领的关键和难点——背景扣除和重叠峰修正的理论和方法发展进行了综述。介绍了避免谱线干扰的方法和计算谱线干扰量的主要算法及软件应用效果,包括估计干扰因子法、模拟元素谱图法、最小二乘方拟合法及谱线去卷积运算法。讨论了分析中的背景来源及非线性背景扣除的理论和方法发展,并对背景和谱线干扰修正的发展前景进行了展望。引用文献62篇。

基于电子探针背景的精细测量方法

由于X射线谱线的背景干扰和曲率变化,使得电子探针定量分析会产生误差,且元素质量分数越低误差越显著。为准确测量和扣除X射线谱线背景,研究了谱线背景的测量和扣除方法,并设计了相应控制测量软件。首先通过完善的元素特征X射线波长数据库判断出测量元素的背景干扰情况,对有干扰或有曲率变化的谱线背景进行多点精细测量,再采用线性或多项式拟合方法计算扣除背景。对标准样品III-HN8520和I-E078l进行了测试,结果表明,该方法比原方法降低了谱线干扰,提高了定量分析数据的准确性。