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基于DSP的高速外扩存储器的设计 被引量:3
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作者 闫晓燕 张洪亮 《现代电子技术》 2008年第24期4-6,共3页
介绍一种能与DSP速度相匹配的外扩高速存储器的设计,外扩存储器按地址分为2个模块:一个是SRAM模块,另外一个是FLASH模块,一个作为数据存储器,另一个作为地址存储器。采用IS61LV25616作为SRAM,这种存储芯片的存取时间快且功耗低,非常适... 介绍一种能与DSP速度相匹配的外扩高速存储器的设计,外扩存储器按地址分为2个模块:一个是SRAM模块,另外一个是FLASH模块,一个作为数据存储器,另一个作为地址存储器。采用IS61LV25616作为SRAM,这种存储芯片的存取时间快且功耗低,非常适合与高速的DSP配合使用;FLASH采用的是三星公司生产的存储器K9F1G08。各个模块从元器件的选择、硬件实现方面介绍了存储器的实现过程。在FLASH模块中还介绍了K9F1G08写操作流程,并简单描述了DSP的在线编程方法。该系统在现场实时采集系统中发挥了重要的作用,给后续数据的分析提供了宝贵的数据材料。 展开更多
关键词 SRAM 外扩存储器 FLASH高速 DSP
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具有误差修正和智能接口的DSP测试系统研究
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作者 吴健 《科技创新与生产力》 2011年第9期102-105,共4页
为了解决在测试系统中由于传感器动态特性引起测试数据失真的问题,提出了一种集数据采集、误差修正、数据存储于一体的智能测试方案。介绍了基于自适应神经网络的传感器动态补偿算法,阐述了测试系统的软、硬件实现方案,即以TMS320F2812 ... 为了解决在测试系统中由于传感器动态特性引起测试数据失真的问题,提出了一种集数据采集、误差修正、数据存储于一体的智能测试方案。介绍了基于自适应神经网络的传感器动态补偿算法,阐述了测试系统的软、硬件实现方案,即以TMS320F2812 DSP为核心控制单元,采用高速模数转换器采集数据,通过动态补偿算法处理数据;采用外扩存储器技术存储数据,通过USB接口读取数据。为验证测试系统的实时修正能力研制了传感器模拟器并运用本系统对其输出的数据进行了采集,调试结果表明,本系统能够准确地采集存储数据同时还能够修正由传感器模拟器引起的动态误差。 展开更多
关键词 智能测试 自适应神经网络 DSP 动态补偿 外扩存储器 USB
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