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EUV成像仪极间串扰和伪信号触发计数修正
被引量:
2
1
作者
王晓东
朱小明
+1 位作者
吕宝林
刘文光
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第12期2675-2679,共5页
为了提高极紫外(EUV)光子计数成像仪的分辨率,分析了EUV成像仪系统WSZ阳极(Wedge Strip Zigzag anode)不同条带间的极间串扰以及非目标能量区间内信号触发产生的伪信号对图像质量的影响。讨论了串扰产生的原因,通过测量极间电容,找到了...
为了提高极紫外(EUV)光子计数成像仪的分辨率,分析了EUV成像仪系统WSZ阳极(Wedge Strip Zigzag anode)不同条带间的极间串扰以及非目标能量区间内信号触发产生的伪信号对图像质量的影响。讨论了串扰产生的原因,通过测量极间电容,找到了串扰系数所在的范围,并最终确定最优值;使用该系数对不同能量范围内的光子进行处理,确定了合适的能量区间(上下限)。在设定的能量区间重新成像并与原图像进行对比,结果显示图像质量有了明显提高。通过消除极间串扰和剔除混杂在图像数据中的伪数据,使图像的边缘特性更强,提高了图像分辨率。
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关键词
极紫外成像仪
光子计数成像仪
极间串扰
伪信号触发
能量上下限
边缘特性
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职称材料
题名
EUV成像仪极间串扰和伪信号触发计数修正
被引量:
2
1
作者
王晓东
朱小明
吕宝林
刘文光
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院大学
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第12期2675-2679,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.60677043)
科技部国际合作项目(No.2011DFA50590)
文摘
为了提高极紫外(EUV)光子计数成像仪的分辨率,分析了EUV成像仪系统WSZ阳极(Wedge Strip Zigzag anode)不同条带间的极间串扰以及非目标能量区间内信号触发产生的伪信号对图像质量的影响。讨论了串扰产生的原因,通过测量极间电容,找到了串扰系数所在的范围,并最终确定最优值;使用该系数对不同能量范围内的光子进行处理,确定了合适的能量区间(上下限)。在设定的能量区间重新成像并与原图像进行对比,结果显示图像质量有了明显提高。通过消除极间串扰和剔除混杂在图像数据中的伪数据,使图像的边缘特性更强,提高了图像分辨率。
关键词
极紫外成像仪
光子计数成像仪
极间串扰
伪信号触发
能量上下限
边缘特性
Keywords
Extreme Ultraviolet(EUV) ima
ger
photon counting ima
ger
erosstalk
fake signal trig- ger
range of energy
edge feature
分类号
TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TH74 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
EUV成像仪极间串扰和伪信号触发计数修正
王晓东
朱小明
吕宝林
刘文光
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012
2
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职称材料
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参考文献
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