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H型栅NMOS器件Kink效应的研究
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作者 徐大为 彭宏伟 +2 位作者 秦鹏啸 王青松 董海南 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2024年第1期55-60,共6页
H型栅NMOS器件因其强抗辐照和低功耗等优势已逐渐成为PDSOI电路设计中的核心器件。但H型栅NMOS器件的Ids-Vds曲线会在漏极电压较高时发生明显的翘曲现象,称为Kink效应。该效应严重影响一定工作条件下的电路性能和稳定性。为此,依据实测... H型栅NMOS器件因其强抗辐照和低功耗等优势已逐渐成为PDSOI电路设计中的核心器件。但H型栅NMOS器件的Ids-Vds曲线会在漏极电压较高时发生明显的翘曲现象,称为Kink效应。该效应严重影响一定工作条件下的电路性能和稳定性。为此,依据实测和TCAD仿真数据,分析了H型栅NMOS器件发生Kink效应的机理,并且基于0.15μm SOI工艺,进一步量化分析了顶层硅膜厚度、阱浓度、栅尺寸、温度以及总剂量辐照等方面对Kink效应的影响。最终结果表明,高漏极电压下NMOS器件体区积累大量空穴导致寄生NPN三极管开启,从而引发了Kink效应。本工作完善了H型栅NMOS器件Kink效应的研究,为PDSOI电路设计中抑制Kink效应提供了有益的参考。 展开更多
关键词 H型栅nmos KINK效应 PDSOI 总剂量辐照 TCAD
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Influence of layout parameters on snapback characteristic for a gate-grounded NMOS device in 0.13-μm silicide CMOS technology 被引量:4
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作者 姜玉稀 李娇 +2 位作者 冉峰 曹家麟 杨殿雄 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期82-89,共8页
Gate-grounded NMOS (GGNMOS) devices with different device dimensions and layout floorplans have been designed and fabricated in 0.13-μm silicide CMOS technology. The snapback characteristics of these GGN-MOS device... Gate-grounded NMOS (GGNMOS) devices with different device dimensions and layout floorplans have been designed and fabricated in 0.13-μm silicide CMOS technology. The snapback characteristics of these GGN-MOS devices are measured using the transmission line pulsing (TLP) measurement technique. The relationships between snapback parameters and layout parameters are shown and analyzed. A TCAD device simulator is used to explain these relationships. From these results, the circuit designer can predict the behavior of the GGNMOS devices under high ESD current stress, and design area-efficient ESD protection circuits to sustain the required ESD level. Optimized layout rules for ESD protection in 0.13-μm silicide CMOS technology are also presented. 展开更多
关键词 electrostatic discharge gate-grounded nmos snapback characteristic layout parameters
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高压GGNMOS器件结构及工艺对ESD防护特性的影响
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作者 傅凡 万发雨 +1 位作者 汪煜 洪根深 《固体电子学研究与进展》 CAS 2024年第2期178-182,共5页
基于高压CMOS工艺,对高压栅极接地N型金属氧化物半导体(Highvoltagegrounded-gate N-metal-oxide-semiconductor, HV-GGNMOS)的静电放电(Electrostatic discharge, ESD)防护性能进行研究。由于强折回特性以及失效电流低,HV-GGNMOS在实... 基于高压CMOS工艺,对高压栅极接地N型金属氧化物半导体(Highvoltagegrounded-gate N-metal-oxide-semiconductor, HV-GGNMOS)的静电放电(Electrostatic discharge, ESD)防护性能进行研究。由于强折回特性以及失效电流低,HV-GGNMOS在实际应用中受到限制。本文通过计算机辅助设计技术仿真及传输线脉冲实验研究了工艺参数及版图结构对器件ESD防护性能的影响。结果表明,增加漂移区掺杂浓度可以有效提高器件失效电流;加强体接触和增加漂移区长度可以提高器件的维持电压,但失效电流会有所下降,占用版图面积也会更大。 展开更多
关键词 静电放电防护 栅极接地nmos 维持电压 失效电流
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一种带自适应电荷泵的超低功耗NMOS LDO
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作者 王世杰 李世磊 +2 位作者 周泽坤 王卓 张波 《微电子学》 CAS 北大核心 2023年第2期189-196,共8页
设计了一种带自适应电荷泵的超低功耗快速瞬态响应NMOS LDO,电路主要包含误差放大器、缓冲器、功率级、动态零点模块以及自适应电荷泵模块。该自适应电荷泵能够根据负载电流的大小调节工作频率,在兼顾大负载条件下功率管栅极需求的同时... 设计了一种带自适应电荷泵的超低功耗快速瞬态响应NMOS LDO,电路主要包含误差放大器、缓冲器、功率级、动态零点模块以及自适应电荷泵模块。该自适应电荷泵能够根据负载电流的大小调节工作频率,在兼顾大负载条件下功率管栅极需求的同时,保证了轻载下超低功耗的需求。同时为了满足电路中快速瞬态响应的需要,加入了动态电流电路。电路基于0.18μm BCD工艺设计,其工作电压范围为2.5~3.6 V,输出电压为1.2 V,负载范围为10μA~20 mA,工作的温度范围为-40~125℃。仿真结果显示,所设计的LDO供电电压调整率可达到1.123 mV/V,重载跳轻载时的恢复时间和轻载跳重载时的恢复时间分别为260μs和5μs,而静态电流最小仅为0.291μA。 展开更多
关键词 自适应电荷泵 nmos LDO 超低功耗
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电磁脉冲作用下NMOS管的电磁敏感性研究
5
作者 李万银 张晨阳 +3 位作者 查继鹏 郑国庆 李吾阳 张祥金 《兵器装备工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第12期25-31,共7页
针对起爆控制电路中的NMOS管在战场强磁干扰环境下时常发生误触、击穿等现象,通过Silvaco TCAD建立了金属场效应(MOS)晶体管在强电磁脉冲作用下的二维电热模型,获得了处于工作区的NMOS管在栅极注入电磁脉冲时的瞬态响应,分析了注入不同... 针对起爆控制电路中的NMOS管在战场强磁干扰环境下时常发生误触、击穿等现象,通过Silvaco TCAD建立了金属场效应(MOS)晶体管在强电磁脉冲作用下的二维电热模型,获得了处于工作区的NMOS管在栅极注入电磁脉冲时的瞬态响应,分析了注入不同幅值的脉冲电压晶体管内电场强度、电流密度与管内温度的变化规律。结果表明:NMOS管在漏极注入脉冲电压超过阈值时,主要发生的是PN结反偏造成的雪崩击穿,雪崩击穿产生大量热能集中在PN结曲面处,管内发生电场强度、电流密度异常增大,进而发生热二次击穿导致NMOS管内出现局部熔融,造成永久性失效。而在脉冲幅值不变的情况下,雪崩击穿电压随栅极电压的增大而增大。 展开更多
关键词 电磁脉冲 nmos 雪崩击穿 二次击穿 熔融烧毁
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一种瞬态限流的全NMOS译码器设计方法
6
作者 宋长坤 陈瑞隆 +3 位作者 尹家宇 冯平 李伯阳 陈铖颖 《厦门理工学院学报》 2023年第1期40-48,共9页
针对低温多晶硅(low temperature poly-silicon,LTPS)和低温多晶氧化物(low temperature polycrystalline oxide,LTPO)工艺下的有机电致发光显示器(organic light emitting diode,OLED)电路设计时,驱动译码电路瞬态产生大电流引起的闩... 针对低温多晶硅(low temperature poly-silicon,LTPS)和低温多晶氧化物(low temperature polycrystalline oxide,LTPO)工艺下的有机电致发光显示器(organic light emitting diode,OLED)电路设计时,驱动译码电路瞬态产生大电流引起的闩锁效应烧坏器问题,提出一种具有瞬态电流限制能力的全N增强型金属氧化物半导体(N-enhancement type metal oxide semiconductor,NMOS)场效应管的译码器电路设计方法。该方法基于树状网络进行译码和限流,利用支路简并方法进行逻辑化简,采用共源共栅结构中的输出阻抗限制译码瞬态过程的最大电流;在SMIC 180 nm CMOS工艺下完成设计,核心电路面积为470.69μm^(2)。2种不同输入条件下的仿真结果表明,采用格雷码对输入激励进行编码的5-32全NMOS译码器的功耗延迟积仅为9.77×10^(-20)J·s,比同等工艺、电源电压、温度条件下设计的CMOS 5-32译码器降低了81.8%;瞬态译码时的最大电流为11.69μA,比CMOS 5-32译码器降低了99.44%。 展开更多
关键词 全N增强型金属氧化物半导体(nmos) 译码器 组合逻辑 功耗延迟积
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制播系统中NMOS实现方法
7
作者 朱亚男 《现代电视技术》 2023年第5期71-75,共5页
制播系统IP化发展过程中,SMPTE ST 2110协议规范并定义了制播系统中不同IP实体流的承载、同步和描述的标准,但只是解决了IP系统中传输层互联互通的问题,而NMOS(网络媒体开放规范)为SMPTE ST 2110的传输层规范补充了控制层与管理层,从而... 制播系统IP化发展过程中,SMPTE ST 2110协议规范并定义了制播系统中不同IP实体流的承载、同步和描述的标准,但只是解决了IP系统中传输层互联互通的问题,而NMOS(网络媒体开放规范)为SMPTE ST 2110的传输层规范补充了控制层与管理层,从而将ST 2110本身复杂的操作抽象为提供接口以便于与任何控制系统交互的软件层,将本来复杂的底层操作变为简单的操作。本文主要介绍了制播系统中NMOS(网络媒体开放规范)实现方法,着重分析了IS-04(发现与注册)和IS-05(连接管理)实现细节。 展开更多
关键词 nmos IS-04 IS-05 DNS-SD协议
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NMOS晶体管高剂量率下总剂量辐照特性研究 被引量:4
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作者 李冬梅 王志华 +3 位作者 皇甫丽英 勾秋静 雷有华 李国林 《电子器件》 CAS 2007年第3期748-751,共4页
采用商用标准0.6μm体硅CMOS工艺设计了不同宽长比、不同沟道长度及不同版图结构的非加固型NMOS晶体管作为测试样品.经高剂量60Coγ射线的总剂量辐照实验,讨论其在不同栅源偏置电压下的总剂量辐照特性.研究表明NMOS总剂量效应对辐照时... 采用商用标准0.6μm体硅CMOS工艺设计了不同宽长比、不同沟道长度及不同版图结构的非加固型NMOS晶体管作为测试样品.经高剂量60Coγ射线的总剂量辐照实验,讨论其在不同栅源偏置电压下的总剂量辐照特性.研究表明NMOS总剂量效应对辐照时栅源偏置电压敏感;辐照引起阈值电压的漂移随W/L的变化不明显;沟道长度及版图结构对NMOS管辐照后的源漏极间泄漏电流的影响显著. 展开更多
关键词 nmos晶体管 辐照效应 总剂量
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NMOS/SIMOX的γ射线总剂量辐照特性 被引量:2
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作者 竺士炀 李金华 +3 位作者 林成鲁 高剑侠 严荣良 任迪远 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1995年第6期368-373,共6页
对用多次注入与退火技术制成的SIMOX材料制备的N沟MOSFET进行了60Coγ射线累积剂量辐照试验,测量了不同辐照偏置条件和辐照剂量下的亚阈特性曲线和阈值电压漂移。对NMOS/SIMOX和NMOSI体硅的辐照效应作... 对用多次注入与退火技术制成的SIMOX材料制备的N沟MOSFET进行了60Coγ射线累积剂量辐照试验,测量了不同辐照偏置条件和辐照剂量下的亚阈特性曲线和阈值电压漂移。对NMOS/SIMOX和NMOSI体硅的辐照效应作了比较,结果表明前者抗总剂量辐照性能不如后者。对引起阈值电压漂移的两个因素(氧化层电荷和界面态电荷)和提高NMOS/SIMOX抗辐照性能的几点措施进行了讨论. 展开更多
关键词 SIMOX材料 nmos器件 总剂量辐照
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不同剂量率下NPN管和NMOSFET管的电离辐照效应 被引量:3
10
作者 张华林 任迪远 +1 位作者 陆妩 崔帅 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期29-34,共6页
研究了 NPN双极晶体管和 NMOSFET在不同剂量率环境下的电离辐照效应。研究表明 ,NPN管在低剂量率辐照下 ,电流增益衰降更为显著 ,且具有真正的剂量率效应 ;而 NMOS管在低剂量率辐照下产生的阈电压负向漂移比高剂量率辐照时小 ,其辐照效... 研究了 NPN双极晶体管和 NMOSFET在不同剂量率环境下的电离辐照效应。研究表明 ,NPN管在低剂量率辐照下 ,电流增益衰降更为显著 ,且具有真正的剂量率效应 ;而 NMOS管在低剂量率辐照下产生的阈电压负向漂移比高剂量率辐照时小 ,其辐照效应是时间相关效应 ,而非真正的剂量率效应。 展开更多
关键词 剂量率效应 NPN管 nmos 增益 阈电压
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一种新型结构栅耦合ggNMOS ESD保护电路研究 被引量:1
11
作者 张冰 柴常春 +1 位作者 杨银堂 吴晓鹏 《电路与系统学报》 CSCD 北大核心 2011年第5期84-89,共6页
针对现有栅耦合NMOS(gate coupled NMOS,gcNMOS)静电放电(electrostatic discharge,ESD)保护电路对特定ESD脉冲不能及时响应造成的"触发死区"现象,本文提出了一种全新结构的栅耦合栅接地NMOS(gate coupled gate grounded NMOS... 针对现有栅耦合NMOS(gate coupled NMOS,gcNMOS)静电放电(electrostatic discharge,ESD)保护电路对特定ESD脉冲不能及时响应造成的"触发死区"现象,本文提出了一种全新结构的栅耦合栅接地NMOS(gate coupled gate grounded NMOS,gc-ggNMOS)ESD保护电路,这种结构通过利用保护电路中漏、栅交叠区的寄生电容作为耦合电容,连接保护电路栅与地的多晶硅(poly)电阻作为耦合电阻,在有效解决原有gcNMOS结构"触发死区"现象的同时,还避免了因引入特定耦合电容带来版图面积的增加,进而提高了ESD保护电路鲁棒性指标。本文采用ISE-TCAD仿真软件,建立了0.6μm CSMC6S06DPDM-CT02CMOS工艺下gc-ggNMOS ESD保护电路的3D物理结构模型,并对此种结构中关键性参数耦合电阻、电容与触发电压特性的关系进行了系统仿真。仿真表明,当耦合电容为定值时,保护电路触发电压随耦合电阻阻值的增加而减小,这一结果与流片的传输线脉冲(transmission line pulsing,TLP)测试结果吻合。全新结构的gc-ggNMOS ESD保护电路通过了5KV人体放电模式(human body model,HBM)测试。本文的研究结果为次亚微米MOS ESD保护电路的设计提供了一种新的参考依据。 展开更多
关键词 栅耦合栅接地nmos(gate coupled GATE grounded nmos gc-ggnmos) 静电放电(electrostatic discharge ESD) 栅耦合电阻 栅耦合电容 传输线脉冲(transmission line pulsing TLP)
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深亚微米SOI工艺NMOS器件瞬时剂量率效应数值模拟 被引量:2
12
作者 薛海卫 张猛华 杨光安 《电子技术应用》 2019年第12期59-61,66,共4页
为了研究深亚微米SOI工艺NMOS器件的瞬时剂量率效应,采用TCAD工具对0.13μm SOI工艺H型NMOS器件进行三维建模仿真。选取γ剂量率在1×10^8~1×10^10(Gy(Si)/s)的7个点,模拟了H型NMOS器件开关两种状态下的漏电流及体接触端电流... 为了研究深亚微米SOI工艺NMOS器件的瞬时剂量率效应,采用TCAD工具对0.13μm SOI工艺H型NMOS器件进行三维建模仿真。选取γ剂量率在1×10^8~1×10^10(Gy(Si)/s)的7个点,模拟了H型NMOS器件开关两种状态下的漏电流及体接触端电流与γ剂量率之间的数值关系。从模拟结果可以看出,γ剂量率在小于5×10^9 Gy(Si)/s的辐照时对器件影响很小。表明了该结构器件具有较强的抗瞬时剂量率辐射能力,为超大规模集成电路抗瞬时剂量率加固设计提供了依据。 展开更多
关键词 瞬时剂量率效应 三维数值模拟 深亚微米SOI H型nmos
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多指条形GG-NMOS结构ESD保护电路 被引量:6
13
作者 徐伟 冯全源 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期58-61,共4页
对采用多指条形GGNMOS结构的ESD保护电路的工作原理进行分析,并对其进行ESD测试实验。理论分析了影响ESD性能的一些因素,提出一种栅耦合技术保护电路方案,并达到了设计要求。实验结果显示,其性能已达到人体放电模式(HBM)的2级标准... 对采用多指条形GGNMOS结构的ESD保护电路的工作原理进行分析,并对其进行ESD测试实验。理论分析了影响ESD性能的一些因素,提出一种栅耦合技术保护电路方案,并达到了设计要求。实验结果显示,其性能已达到人体放电模式(HBM)的2级标准(2000-4000V)。 展开更多
关键词 静电放电 多指条 栅极接地nmos 人体放电模型
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nMOS四值触发器的设计及其应用 被引量:1
14
作者 夏银水 吴训威 《电子科学学刊》 EI CSCD 1997年第5期669-676,共8页
本文应用限幅电压开关理论设计了两种主从型nMOS四值触发器。这砦触发器具有双端预置能力和双轨互补输出。通过采用JKLM型触发器对十六进制加法计数器和十进制加法计数器的设计实例证明了这些触发器能有效地用于四值时序电路的设计。
关键词 开关理论 nmos 四值逻辑 触发器 设计
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nMOSFET X射线辐射影响研究 被引量:3
15
作者 罗宏伟 杨银堂 +1 位作者 恩云飞 朱樟明 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第3期246-248,245,共4页
介绍了在强电流作用下的ggnMOS作用机理,分析了ggnMOS抗ESD能力的主要表征参数,利用X射线辐射系统和TLP测试系统研究了辐射总剂量对ggnMOS抗ESD能力的影响。试验结果表明,随辐射总剂量的增加,ggnMOS的开启电压、维持电压都将下降,这有... 介绍了在强电流作用下的ggnMOS作用机理,分析了ggnMOS抗ESD能力的主要表征参数,利用X射线辐射系统和TLP测试系统研究了辐射总剂量对ggnMOS抗ESD能力的影响。试验结果表明,随辐射总剂量的增加,ggnMOS的开启电压、维持电压都将下降,这有利于提高ggnMOS的抗ESD能力,而表征其抗ESD能力的参数(二次击穿电流It2)开始随辐射总剂量的增加而减少,到达一定剂量后将随总剂量的增加而增加。 展开更多
关键词 栅接地nmos ESD 辐射总剂量 开启电压 二次击穿电流 X射线辐射
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NMOS器件两次沟道注入杂质分布和阈电压计算 被引量:1
16
作者 王纪民 蒋志 +1 位作者 李瑞伟 吴正立 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期121-124,共4页
分别考虑了深浅两次沟道区注入杂质在氧化扩散过程中对表面浓度的贡献。对两次注入杂质的扩散分别提取了扩散系数的氧化增强系数、氧化衰减系数和有效杂质系数,给出了表面浓度与工艺参数之间的模拟关系式,以峰值浓度为强反型条件计算... 分别考虑了深浅两次沟道区注入杂质在氧化扩散过程中对表面浓度的贡献。对两次注入杂质的扩散分别提取了扩散系数的氧化增强系数、氧化衰减系数和有效杂质系数,给出了表面浓度与工艺参数之间的模拟关系式,以峰值浓度为强反型条件计算了开启电压。文章还给出了开启电压、氧化条件。 展开更多
关键词 离子注入 开启电压 nmos器件
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一种基于动态阈值NMOS管的1.2V模拟乘法器 被引量:1
17
作者 程卫东 朱樟明 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2011年第11期178-181,共4页
基于CSMC 0.6μm DPDM CMOS工艺进行设计,利用4个动态阈值NMOS和2个有源电阻实现了一种1.2V低功耗模拟乘法器电路,既节省了输入晶体管数目,又节省了偏置晶体管和偏置电路.1.2V模拟乘法器的输入信号VinA的频率为5MHz,信号峰峰值为1.0V,... 基于CSMC 0.6μm DPDM CMOS工艺进行设计,利用4个动态阈值NMOS和2个有源电阻实现了一种1.2V低功耗模拟乘法器电路,既节省了输入晶体管数目,又节省了偏置晶体管和偏置电路.1.2V模拟乘法器的输入信号VinA的频率为5MHz,信号峰峰值为1.0V,输入信号VinB的频率为100MHz,信号峰峰值为0.5V时,输出信号Vout的峰峰值为0.35V,一次谐波和三次谐波的差值为40dB.1.2V模拟乘法器输出信号的频带宽度为375MHz,平均电源电流约为30μA,即动态功耗约为36μW,适合于便携式电子产品和带宽要求不太高(400MHz以下)的场合. 展开更多
关键词 模拟乘法器 动态阈值nmos晶体管 低压 低功耗
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NMOS短沟DD结构热载流子效应的研究 被引量:2
18
作者 杨肇敏 徐葭生 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第7期489-496,共8页
本文描述制作和研究有效沟长为1μm的砷-磷双注入NMOS管(简称DD管).用工艺模拟和器件模拟程序计算和优化了工艺.实验结果与模拟结果完全一致,说明在相同有效沟道长度下DD结构比普通NMOS管的热载流子效应小.
关键词 短沟 MOS管 热载流子效应 nmos
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CMOS工艺中GG-NMOS结构ESD保护电路设计 被引量:4
19
作者 杜鸣 郝跃 朱志炜 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第8期1619-1622,共4页
采用GG-NMOS结构的ESD保护电路的工作原理和对其进行的ESD实验,提出了一种保护电路的栅耦合技术方案,并达到了预期效果.通过实验可以看出其性能达到了人体放电模式的2级标准.在模拟的基础上可确定损伤的机理和位置,从而给出了由ESD导致... 采用GG-NMOS结构的ESD保护电路的工作原理和对其进行的ESD实验,提出了一种保护电路的栅耦合技术方案,并达到了预期效果.通过实验可以看出其性能达到了人体放电模式的2级标准.在模拟的基础上可确定损伤的机理和位置,从而给出了由ESD导致的栅氧化层损伤的微观机制. 展开更多
关键词 ESD GG-nmos 人体放电模式 栅耦合
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NMOS晶体管的退火特性研究 被引量:1
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作者 姚育娟 张正选 +2 位作者 彭宏论 何宝平 姜景和 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第6期481-486,共6页
探讨了加固型CC4 0 0 7经60 Coγ射线辐照后NMOS晶体管的退火特性 ,研究了辐照敏感参数随辐照剂量、退火温度、退火时间和退火偏置的变化关系。经相同总剂量辐照的器件 ,高温 10 0℃下的退火速度远大于室温 2 5℃下的退火速度。 2 5~ 2... 探讨了加固型CC4 0 0 7经60 Coγ射线辐照后NMOS晶体管的退火特性 ,研究了辐照敏感参数随辐照剂量、退火温度、退火时间和退火偏置的变化关系。经相同总剂量辐照的器件 ,高温 10 0℃下的退火速度远大于室温 2 5℃下的退火速度。 2 5~ 2 50℃下的等时退火 ,其退火程度接近 168h的 10 0℃等温退火。对不同的退火情况 ,退火偏置的作用是相似的 ,+5V栅偏压退火速度大于0V栅偏压和浮空退火速度。对氧化物陷阱电荷的退火及界面态陷阱的产生机理进行了分析 ,并对加速实验方法进行了初步探讨。 展开更多
关键词 等温退火 等时退火 nmos晶体管 电离辐照
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