1
|
CMOS工艺微控制器瞬时电离辐射效应实验研究 |
金晓明
范如玉
陈伟
王桂珍
林东生
杨善潮
白小燕
|
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2010 |
5
|
|
2
|
不同γ脉冲宽度下CMOS电路闩锁阈值的数值模拟 |
王桂珍
林东生
杨善潮
郭晓强
李瑞斌
白小燕
龚建成
|
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
|
2009 |
2
|
|
3
|
CMOS电路瞬态辐照脉冲宽度效应的实验研究 |
王桂珍
白小燕
郭晓强
杨善潮
李瑞宾
林东生
龚建成
|
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2009 |
2
|
|