期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
X波段大栅宽高输出功率AlGaN/GaN HEMT的研究 被引量:3
1
作者 顾卫东 张志国 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第11期1082-1084,共3页
利用MOCVD技术研制了国产SiC衬底的GaN HEMT外延材料,方块电阻小于260Ω/□,迁移率最大值达到2130 cm2V-1s-1,方块电阻和迁移率不均匀性小于3%,采用新的器件栅结构和高应力SiN钝化技术,降低了大栅宽器件栅泄漏电流,提高了工作电压。研... 利用MOCVD技术研制了国产SiC衬底的GaN HEMT外延材料,方块电阻小于260Ω/□,迁移率最大值达到2130 cm2V-1s-1,方块电阻和迁移率不均匀性小于3%,采用新的器件栅结构和高应力SiN钝化技术,降低了大栅宽器件栅泄漏电流,提高了工作电压。研制的总栅宽为25.3 mm的四胞内匹配器件X波段输出功率达到141.25 W,线性增益大于12 dB,PAE达到41.4%。 展开更多
关键词 ALGAN/GAN HEMT 大栅宽 高电压 高输出功率
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部