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Comparison of Low Stress Mechanical Properties of Light Weight Wool and Wool Blend Fabrics using the KES-F and FAST Instruments 被引量:1
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作者 王革辉 张渭源 +1 位作者 Postle Ron Phillips David 《Journal of China Textile University(English Edition)》 EI CAS 2000年第4期99-102,共4页
This study compares the test results of the FAST (Fabric Assurance by Simple Testing) with those of the KES - F (Kawabata Evaluation Systems for Fabrics) for a range of nineteen light weight wool and wool blend fabric... This study compares the test results of the FAST (Fabric Assurance by Simple Testing) with those of the KES - F (Kawabata Evaluation Systems for Fabrics) for a range of nineteen light weight wool and wool blend fabrics in terms of the low - stress mechanical properties of bending, shear, and tensile deformation. It is found that there are very significant correlations between the corresponding parameters for extensibility and shear rigidity obtained from the test results of the two systems. The correlation between the values of bending rigidity obtained from the two systems is only moderate. Furthermore, for the fabrics tested in this study, the values of bending rigidity, shear rigidity, and extensibility measured using the KES - F instruments are higher than those of the corresponding parameters measured using the FAST instruments. The linear regression equation is given for each pair of corresponding parameter. 展开更多
关键词 low stress MECHANICAL properties the KES - F SYSTEM the FAST SYSTEM light weight WOOL FABRICS
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Application of color structured light pattern to measurement of large out-of-plane deformation
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作者 Xing Lu Jun-Hong Zhou Dong-Dong Liu Jue Zhang 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2011年第6期1098-1104,共7页
Measurement of out-of-plane deformation is significant to understanding of the deflection mechanisms of the plate and tube structures.In this study,a new surface contouring technique with color structured light is app... Measurement of out-of-plane deformation is significant to understanding of the deflection mechanisms of the plate and tube structures.In this study,a new surface contouring technique with color structured light is applied to measure the out-of-plane deformation of structures with one-shot projection.Through color fringe recognizing,decoding and triangulation processing for the captured images corresponding to each deformation state,the feasibility of the method is testified by the measurement of elastic deflections of a flexible square plate,showing good agreement with those from the calibrated displacement driver.The plastic deformation of two alloy aluminum rectangular tubes is measured to show the technique application to surface topographic evaluation of the buckling structures with large displacements. 展开更多
关键词 Out-of-plane deformation Surface contouring Color structured light Plate deflection - Rectangular tube buckling
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基于BCG-MCP的四代微光像增强技术 被引量:6
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作者 姜德龙 吴奎 +4 位作者 王国政 李野 富丽晨 端木庆铎 田景全 《红外技术》 CSCD 北大核心 2003年第6期45-48,共4页
介绍了Ⅲ代微光像管中的防离子反馈膜技术 ,阐述了美国Litton公司基于BCG MCP的Ⅳ代像管的近期发展及应用概况 ,给出了实际应用中的对比情况 ,指出了BCG MCP。
关键词 BCG-MCP 自动门控电源 无晕技术 体导电玻璃微通道板 BCGMCP 四代微光像管 离子反馈 晕光效应
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对三代微光管光谱响应的测试分析 被引量:2
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作者 杜玉杰 常本康 纪延俊 《光学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期364-366,共3页
利用自行研制的光谱响应测试仪对国产三代微光管进行了光谱响应测试,给出了三代微光管的光谱响应特性,利用曲线拟合方法估算了GaAs光电阴极材料的性能参数。结果显示该三代微光管的积分灵敏度约800μA/lm左右,所选GaAs材料的电子扩散长... 利用自行研制的光谱响应测试仪对国产三代微光管进行了光谱响应测试,给出了三代微光管的光谱响应特性,利用曲线拟合方法估算了GaAs光电阴极材料的性能参数。结果显示该三代微光管的积分灵敏度约800μA/lm左右,所选GaAs材料的电子扩散长度为2.0μm,与1.6μm的阴极厚度相当,电子表面逸出几率为0.38,后界面复合速率为106cm/s。发现GaAs材料的扩散长度偏低,以及阴极的后界面复合速率太大是限制三代微光管光电发射性能进一步提高的重要原因。 展开更多
关键词 微光管 光谱响应 光电阴极 GAAS NEA
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微光管GaAs阴极激活铯源材料放气成分质谱分析 被引量:2
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作者 徐江涛 《真空电子技术》 2003年第5期77-79,共3页
 运用四极质谱计对微光管GaAs阴极激活铯源材料除气时释放的残气进行分析,发现受污染铯放气成分主要是C,CO,CO2,CxHy等残气,它们是使GaAs阴极灵敏度低的主要原因。通过对铯源除气工艺改进,实现了原子级纯净铯获得。并研制出了主要性能...  运用四极质谱计对微光管GaAs阴极激活铯源材料除气时释放的残气进行分析,发现受污染铯放气成分主要是C,CO,CO2,CxHy等残气,它们是使GaAs阴极灵敏度低的主要原因。通过对铯源除气工艺改进,实现了原子级纯净铯获得。并研制出了主要性能合格的微光夜视成像器件。 展开更多
关键词 微光管 GaAs阴极 铯源材料 残气分析 纯净铯
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微通道板真空体电阻与Ⅱ代倒象微光管匹配关系的研究
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作者 程伟龄 《应用光学》 CAS CSCD 1991年第6期25-33,共9页
国内研制的20/30Ⅱ代倒象微光管经常出现微通道板真空体电阻偏高或偏低的问题,直接影响Ⅱ代倒象微光管荧光屏的亮度和目标分辨力,严重影响微光管的质量。经过对20/30Ⅱ代倒象微光管的研制和理论分析,证明英国马拉德公司对用于×... 国内研制的20/30Ⅱ代倒象微光管经常出现微通道板真空体电阻偏高或偏低的问题,直接影响Ⅱ代倒象微光管荧光屏的亮度和目标分辨力,严重影响微光管的质量。经过对20/30Ⅱ代倒象微光管的研制和理论分析,证明英国马拉德公司对用于××1383Ⅱ代倒象微光管的H36微通道板技术条件中真空体电阻技术指标的规定也存在一定的问题。本文从目前国内外工艺水平和有关文献资料的分析出发,进行专题研究。本文中所推导的计算公式和对文献资料提供的技术数据的推导分析,同样适用于其他型号微通道板的真空体电阻与相应Ⅱ代、Ⅲ代微光管匹配关系的计算与研究。 展开更多
关键词 微通道板 真空体电阻 微光管 匹配
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微通道板、光纤面板与Ⅱ代倒像微光管分辨率匹配关系的研究
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作者 程伟龄 《应用光学》 CAS CSCD 1993年第3期16-21,共6页
针对国产Ⅱ代倒像微光管分辨率、调制传递函数偏低这一急待解决的课题,结合多年来在Ⅱ代倒像微光管研制工作中的实践,以及多因素组合下单项部件分辨率与整管分辨率关系的解析计算,找出合理的微通道板、光纤面板的相邻光纤间距。文中有... 针对国产Ⅱ代倒像微光管分辨率、调制传递函数偏低这一急待解决的课题,结合多年来在Ⅱ代倒像微光管研制工作中的实践,以及多因素组合下单项部件分辨率与整管分辨率关系的解析计算,找出合理的微通道板、光纤面板的相邻光纤间距。文中有关计算公式、各种技术数据的推导分析适用于不用型号的Ⅱ、Ⅲ代微光管分辨率匹配关系的计算与研究。 展开更多
关键词 微通道板 光纤面板 微光管 分辨率
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微光管电源集成电路研制
8
作者 冯业胜 《应用光学》 CAS CSCD 2000年第C00期49-52,共4页
简介三代微光管电源集成电路的工作原理和研制情况 ,详述电路设计、版图设计和工艺设计等研制的关键技术。研究电路性能参数对微光管电源的板压稳定性、屏压稳定性和ABC(自动亮度控制 )性能的影响。比较研制电路与国外样品电路在主要电... 简介三代微光管电源集成电路的工作原理和研制情况 ,详述电路设计、版图设计和工艺设计等研制的关键技术。研究电路性能参数对微光管电源的板压稳定性、屏压稳定性和ABC(自动亮度控制 )性能的影响。比较研制电路与国外样品电路在主要电性能方面的差异及优劣。得出了研制电路完全可以取代国外电路的结论。 展开更多
关键词 微光管 集成电路 厚膜 自动亮度控制 电源
全文增补中
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