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Study on Solder Joint Reliability of Plastic Ball Grid Array Component Based on SMT Products Virtual Assembly Technology
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作者 HUANG Chunyue,WU Zhaohua,ZHOU Dejian (Department of Electronic Machinery and Transportation Engineering,Guilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China) 《武汉理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第S1期214-219,共6页
Based on surface mount products virtual assembly technology,the solder joint reliability of plastic ball grid array (PBGA) was studied. Four process parameters,including the upper pad diameter,the stencil thickness,th... Based on surface mount products virtual assembly technology,the solder joint reliability of plastic ball grid array (PBGA) was studied. Four process parameters,including the upper pad diameter,the stencil thickness,the chip weight on a single solder joint and the lower pad diameter were chose as four control factors. By using an L25(56) orthogonal array the PBGA solder joints which have 25 different process parameters’ levels combinations were designed. The numerical models of all the 25 PBGA solder joints were developed and the finite element analysis models were setup. The stress and strain distribution within the PBGA solder joints under thermal cycles were studied by finite element analysis,and the thermal fatigue life of PBGA solder joint was calculated using Coffin-Manson equation. Based on the calculated thermal fatigue life results,the range analysis was performed. The results of study show that that the impact sequence of the four factors from high to low on the fatigue life of PBGA solder joints are the stencil thickness,the upper pad diameter,the lower pad diameter and the chip weight on a single solder joint; the best level combination ofprocess parameters that results in the longest fatigue life is the lower pad diameter of 0.6 mm,the stencil thickness of 0.175 mm,the chip weight on asingle solder joint of 28×10 -5 N and the upper pad diameter of 0.5 mm. 展开更多
关键词 VIRTUAL assembly plastic BALL grid array process parameters RANGE analysis
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Mechanical properties of lattice grid composites 被引量:2
2
作者 Hualin Fan Daining Fang Fengnian Jin 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2008年第4期409-418,共10页
An equivalent continuum method only considering the stretching deformation of struts was used to study the in-plane stiffness and strength of planar lattice grid com- posite materials. The initial yield equations of l... An equivalent continuum method only considering the stretching deformation of struts was used to study the in-plane stiffness and strength of planar lattice grid com- posite materials. The initial yield equations of lattices were deduced. Initial yield surfaces were depicted separately in different 3D and 2D stress spaces. The failure envelope is a polyhedron in 3D spaces and a polygon in 2D spaces. Each plane or line of the failure envelope is corresponding to the yield or buckling of a typical bar row. For lattices with more than three bar rows, subsequent yield of the other bar row after initial yield made the lattice achieve greater limit strength. The importance of the buckling strength of the grids was strengthened while the grids were relative sparse. The integration model of the method was used to study the nonlinear mechanical properties of strain hardening grids. It was shown that the integration equation could accurately model the complete stress-strain curves of the grids within small deformations. 展开更多
关键词 Lattice grid composites· Mechanical properties·Buckling ·plastic deformation·Analytical modeling
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Mechanical properties of lattice grid composites
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作者 Hualin Fan Daining Fang Fengnian Jin 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2008年第5期591-591,共1页
Unfortunately, an error occurred in Fig. 12. The corrected Fig. 12 is given below.
关键词 Lattice grid composites Mechanical properties BUCKLING plastic deformation Analytical modeling
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Plastic characterization and performance of SnAgCuBiNi/Cu lead-free BGA solder joints
4
作者 杨淼森 孙凤莲 孔祥霞料 《China Welding》 EI CAS 2015年第3期18-23,共6页
Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with ... Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with indentation depth increase. SACO705 BiNi/ Cu exhibits a higher ultimate dynamic hardness and a smaller indentation depth than SAC305/ Cu. Then the strain hardening phenomenon of SAC305/ Cu is more obvious compared to that of SACO705 BiNi/ Cu. The indentation creep of SACO705BiNi/ Cu solder joint is lower than that of SAC305/ Cu solder joint before and after thermal shock. The creep rate sensitive index of SACBiNi/Cu solder joint is lower than that of solder joint. SACO705BiNi/Cu solder joint is superior to SAC305/Cu solder joint in the anti-creep property. The plasticity of SACOTOSBiNi/Cu and SAC305/Cu solder joints are similar. Compared with SAC305 solder, the SACO705 BiNi solder pe^forms higher hardness and solder creep resistance and still maintains a good plasticity. 展开更多
关键词 ball grid array solder joint creep resistance plasticITY NANOINDENTATION
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PBGA焊点形态对疲劳寿命的影响
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作者 张威 刘坤鹏 +3 位作者 张沄渲 于沐瀛 王尚 田艳红 《电子与封装》 2024年第8期40-46,共7页
通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了... 通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了3因素3水平正交实验,通过均值响应分析得到了影响凸点寿命的最敏感因素及最优形态尺寸组合。结果表明对焊点寿命影响最大的因素为下焊盘半径,其次是钎料量,最后是焊点高度,且上下等大的焊盘具有较好的可靠性。 展开更多
关键词 Surface Evolver 塑料球栅阵列 焊点形态预测 热循环 疲劳寿命 封装技术
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MICRO-EXPERIMENTAL STUDY OF LARGE PLASTIC DEFORMATION FOR HIGH-PURITY POLYCRYSTALLINE ALUMINUM
6
作者 仲政 杨卫 黄克智 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 1991年第4期360-368,共9页
This paper aims at revealing various micro- deformation characteristics, such as crystalline slip and grain boundary slide, which are recorded under scanning electronic microscope for high-purity aluminum tensile spec... This paper aims at revealing various micro- deformation characteristics, such as crystalline slip and grain boundary slide, which are recorded under scanning electronic microscope for high-purity aluminum tensile specimen at room temperature. These experimental data provide us direct evidence for shear localization near the grain boundary network via multi- directional grain boundary slide. The nonuniform deformation induced in the grain interiors would have decisive effect on the plastic flow and failure of polycrystalline materials. 展开更多
关键词 POLYCRYSTALS large plastic deformation grain boundary sliding MICROMECHANICS grid method
全文增补中
珠海机场二号航站楼屋盖钢结构设计研究
7
作者 林松伟 龙秀海 +4 位作者 区彤 罗赤宇 张伟生 石煦阳 陈进于 《建筑结构》 北大核心 2024年第11期77-83,共7页
介绍了粤港澳大湾区重要机场交通枢纽工程——珠海机场二号航站楼的设计标准和荷载作用取值,阐述了上部屋盖钢结构实现“建筑装修结构一体化思路”的结构选型思路,对主楼进行了静力性能分析、稳定性分析、大震弹塑性分析,开展了屋盖钢... 介绍了粤港澳大湾区重要机场交通枢纽工程——珠海机场二号航站楼的设计标准和荷载作用取值,阐述了上部屋盖钢结构实现“建筑装修结构一体化思路”的结构选型思路,对主楼进行了静力性能分析、稳定性分析、大震弹塑性分析,开展了屋盖钢结构防火性能研究,并根据屋盖钢结构施工方案进行了专项施工模拟分析。结果表明:主楼屋盖钢结构选择的波浪形变厚度局部抽空焊接球网架结构体系实现了结构受力与建筑装修的统一,具有良好的稳定性能,在罕遇地震和火灾作用下构件受力满足要求,结构安全可靠;施工方案可行,提升过程中结构变形与内力满足设计要求;大跨度网架有必要在施工模拟卸载胎架后,按实际荷载输入计算模型进行位移和应力比复核。 展开更多
关键词 屋盖钢结构 波浪形网架 弹塑性分析 防火性能 施工模拟
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某椭球形采光顶支承结构稳定性与抗震性能分析 被引量:1
8
作者 张涛 王立超 +1 位作者 蔡一栋 王振龙 《建筑结构》 北大核心 2024年第9期95-101,133,共8页
单层网壳兼具薄壳结构及杆系结构的力学特征,属于缺陷敏感型结构,结构稳定性起主要控制作用。以某椭球形三向网格型单层网壳玻璃采光顶支承结构为研究对象,对其进行弹塑性全过程稳定分析,建模求解椭球形单层网壳在长、短轴半跨及满跨活... 单层网壳兼具薄壳结构及杆系结构的力学特征,属于缺陷敏感型结构,结构稳定性起主要控制作用。以某椭球形三向网格型单层网壳玻璃采光顶支承结构为研究对象,对其进行弹塑性全过程稳定分析,建模求解椭球形单层网壳在长、短轴半跨及满跨活载工况下结构整体稳定性系数,通过数值分析得出椭球形单层网壳在满跨活载工况下整体失稳的风险高于半跨活载工况,结构整体稳定性对荷载不对称分布不敏感;鉴于本工程的重要性,在不同烈度下的结构抗震能力分析中,结构的抗震设防目标需提高到大震不屈服。 展开更多
关键词 单层网壳 特征值屈曲 初始几何缺陷 弹塑性全过程分析 抗震性能分析
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PBGA封装热可靠性分析 被引量:13
9
作者 李长庚 林丹华 周孑民 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期65-68,共4页
对PBGA封装体建立了有限元数值模拟分析模型。模型采用无铅焊点,完全焊点阵列形式。研究了封装体在经历IPC9701标准下的五种不同温度循环加载后,受到的热应力、应变,以及可能的失效形式。结果表明,焊点是封装体结构失效的关键环节,焊点... 对PBGA封装体建立了有限元数值模拟分析模型。模型采用无铅焊点,完全焊点阵列形式。研究了封装体在经历IPC9701标准下的五种不同温度循环加载后,受到的热应力、应变,以及可能的失效形式。结果表明,焊点是封装体结构失效的关键环节,焊点所受应力大小与焊点位置有关。比较了不同温度循环下封装体的疲劳寿命。其结果为提高封装体的可靠性和优化设计提供了理论依据。 展开更多
关键词 电子技术 塑封焊球阵列封装(PBGA) 有限元 热循环 应力 应变
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基于田口法的PBGA器件焊点可靠性分析 被引量:11
10
作者 戴玮 薛松柏 +1 位作者 张亮 姬峰 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第11期81-84,共4页
为提高塑料球栅阵列(PBGA)器件焊点可靠性,提出了一种基于田口法和数值模拟的试验方法.借用Anand模型描述钎料本构方程,对PBGA器件焊点热循环载荷下的应力应变分布进行有限元模拟.结果表明,填充底充胶能有效提高焊点可靠性;考虑基板、... 为提高塑料球栅阵列(PBGA)器件焊点可靠性,提出了一种基于田口法和数值模拟的试验方法.借用Anand模型描述钎料本构方程,对PBGA器件焊点热循环载荷下的应力应变分布进行有限元模拟.结果表明,填充底充胶能有效提高焊点可靠性;考虑基板、封装塑料、底充胶、PCB的线膨胀系数四个控制因素,借助田口试验法进行最佳参数选择,确定影响焊点可靠性的主要因素为基板线膨胀系数及封装塑料线膨胀系数.最优方案组合为A3B3C3D3.该优化方案的最大等效应变比原始值减小了41.4%,信噪比提高了4.61 dB. 展开更多
关键词 塑料球栅阵列 底充胶 田口法 线膨胀系数
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塑封球栅阵列焊点热疲劳寿命预测有限元方法 被引量:13
11
作者 佟川 曾声奎 陈云霞 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第10期89-92,共4页
选取典型的塑封球栅阵列封装器件,将其建模为由封装外壳、硅芯片和基板组成的三层结构,采用粘塑性材料模式描述锡铅钎料的力学本构关系,建立器件的三维有限元模型,通过有限元仿真得到焊点的应力应变分布云图、应力应变回线及关键焊点的... 选取典型的塑封球栅阵列封装器件,将其建模为由封装外壳、硅芯片和基板组成的三层结构,采用粘塑性材料模式描述锡铅钎料的力学本构关系,建立器件的三维有限元模型,通过有限元仿真得到焊点的应力应变分布云图、应力应变回线及关键焊点的应变范围,最后根据基于应变的Engelmaier疲劳模型预测塑封球栅阵列焊点的寿命。结果表明,在热循环条件下,塑封球栅阵列封装器件的关键焊点的位置位于器件芯片边缘的正下方,并不位于最边缘的焊点处,为改进塑封球栅阵列焊点的热疲劳可靠性提供了依据。 展开更多
关键词 塑封球栅阵列 焊点 热疲劳 有限元
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基于稳健设计的PBGA器件焊点热机械疲劳可靠性的优化设计 被引量:8
12
作者 周继承 肖小清 +1 位作者 恩云飞 何小琦 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第11期2180-2183,共4页
基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以... 基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以对焊点热机械疲劳寿命的考核为目标,对PBGA焊点进行了优化设计.结果表明,影响焊点可靠性的显著性因素依次是基板热膨胀系数、焊点的热膨胀系数、基板厚度、芯片的热膨胀系数;最优方案组合为A182C3D1E2F1G3H1.进一步的验证试验结果表明,与原始方案相比,该优化方案的最大等效应变降低了66%,信噪比提高了22.4%. 展开更多
关键词 塑封球栅阵列 热机械疲劳可靠性 稳健设计 有限元法
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塑料网格砂基透水砖铺装系统的径流控制试验研究 被引量:6
13
作者 王俊岭 秦全城 +2 位作者 张玉玉 张雅君 李俊奇 《新型建筑材料》 北大核心 2015年第12期13-16,共4页
塑料网格砂基透水砖铺装是一种结合网格和透水砖特点的创新型透水铺装,对其径流控制方面的效果进行了试验研究,结果表明,塑料网格砂基透水砖道路比普通道路产流时间延长10~45min。各重现期下塑料网格砂基透水砖道路和普通道路的产... 塑料网格砂基透水砖铺装是一种结合网格和透水砖特点的创新型透水铺装,对其径流控制方面的效果进行了试验研究,结果表明,塑料网格砂基透水砖道路比普通道路产流时间延长10~45min。各重现期下塑料网格砂基透水砖道路和普通道路的产流时间分别介于13~53min和3—8min。1年重现期下,塑料网格砂基透水砖道路比普通道路的产流时间延长约45rain,其对洪峰流量的削减率是32.9%,峰现时间比普道路延迟约20min。当重现期从1年增到100年时,洪峰流量削减率有所降低,同时峰现延迟时间从20min缩短到14min。 展开更多
关键词 塑料网格砂基透水砖 重现期 径流控制 洪峰流量削减率 峰现延迟时间
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电子封装器件BGA的实时全息干涉实验研究 被引量:4
14
作者 王卫宁 张存林 +1 位作者 吴一平 王朝阳 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期46-48,共3页
90年代以来,表面封装器件(SMD)向高密度化、精密化、薄型化和高集成化方向快速地发展。在研究这些新型电子封装的应力—应变实验技术中,全息干涉测量方法因其高灵敏度、高精度、非接触性、全场分析,可直接获取离面位移等优点... 90年代以来,表面封装器件(SMD)向高密度化、精密化、薄型化和高集成化方向快速地发展。在研究这些新型电子封装的应力—应变实验技术中,全息干涉测量方法因其高灵敏度、高精度、非接触性、全场分析,可直接获取离面位移等优点而被作为表面安装技术(SMT)可靠性分析的有效方法。本文采用实时全息干涉方法对加电运行中的PBGA器件及外部热辐射条件下PBGA的离面变形进行了测量,得到PBGA呈球面弯曲及马鞍形翘曲变形的实验结果,并初步分析了产生形变差异的原因。 展开更多
关键词 PBGA SMT 实时全息干涉 热变形 电子封装器件
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不同阵列PBGA器件焊点可靠性分析 被引量:5
15
作者 戴玮 薛松柏 +1 位作者 张亮 盛重 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第9期73-76,共4页
采用Anand模型描述钎料本构关系,对温度循环载荷下两种不同阵列形式的塑料球栅阵列(PBGA)Sn3.0Ag0.5Cu焊点的应力应变响应进行有限元分析.结果表明,两种不同阵列条件下,关键焊点的位置均由芯片拐角位置决定.芯片尺寸改变时,PB-GA121焊... 采用Anand模型描述钎料本构关系,对温度循环载荷下两种不同阵列形式的塑料球栅阵列(PBGA)Sn3.0Ag0.5Cu焊点的应力应变响应进行有限元分析.结果表明,两种不同阵列条件下,关键焊点的位置均由芯片拐角位置决定.芯片尺寸改变时,PB-GA121焊点的最大应力值随芯片尺寸的增大而增大,但PBGA81的最大应力值随芯片尺寸增大先减小后增大.凭借Engelmaier修正的Coffin-Manson寿命预测方程,分别预测了两种不同阵列PBGA器件四种芯片尺寸条件下焊点的热疲劳寿命,结果表明芯片尺寸对焊点疲劳寿命有较大影响. 展开更多
关键词 塑料球栅阵列 阵列形式 芯片尺寸 疲劳寿命
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田口试验法在PBGA焊点可靠性中的应用 被引量:5
16
作者 谭广斌 杨平 陈子夏 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期97-100,共4页
在田口试验法的基础上,采用非线性有限元建模的方法对温度循环载荷作用下的PBGA(plastic ball grid array)焊点进行可靠性研究。PCB(printed circuit board)的大小和厚度、基板的大小和厚度、焊点的直径和高度、芯片以及塑封(EMC)的厚度... 在田口试验法的基础上,采用非线性有限元建模的方法对温度循环载荷作用下的PBGA(plastic ball grid array)焊点进行可靠性研究。PCB(printed circuit board)的大小和厚度、基板的大小和厚度、焊点的直径和高度、芯片以及塑封(EMC)的厚度等8个控制因子被选择用来填充L18田口正交表。通过田口试验法优化之后得到最佳的控制因子组合为A1,B3,C1,D2,E2,F3,G3,H3,其中最重要的4个因子为焊点直径A,PCB大小B,芯片厚度F,焊点高度G。结果表明,优化后的试验值和预测值分别比原始状态的试验值和预测值提高了2.87964和0.88286。 展开更多
关键词 田口试验法 塑料球栅阵列封装 热循环 焊点
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一种先进的板材成形应变测量网格印制技术 被引量:8
17
作者 张敏 陆辛 李祥平 《锻压技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期66-68,共3页
介绍一种先进的网格印制技术,它在欧洲模具及金属成形等领域已经得到了广泛的应用。它可以很方便的在各种金属板材的表面上印制网格,对金属本身不产生任何影响。与传统的网格制作方法相比,它具有操作简单、快速、不影响变形、实验数据... 介绍一种先进的网格印制技术,它在欧洲模具及金属成形等领域已经得到了广泛的应用。它可以很方便的在各种金属板材的表面上印制网格,对金属本身不产生任何影响。与传统的网格制作方法相比,它具有操作简单、快速、不影响变形、实验数据更准确等优点。对金属塑性成形的试验研究有很大的帮助,它的推广有着十分重要的现实意义。 展开更多
关键词 印制技术 网格 应变测量 板材成形 金属塑性成形 金属成形 金属板材 制作方法 实验数据 试验研究 模具
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PBGA器件固化残余应力的有限元分析 被引量:4
18
作者 蒋廷彪 田刚领 +1 位作者 杨道国 巫松 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2005年第2期3-6,共4页
采用有限元分析软件模拟研究了PBGA器件在先固化再进行温度加载和直接从温度循环开始加载两种情况下,固化过程对 PBGA 器件的影响,发现固化过程不仅改变了器件中芯片的应力分布,而且劣化了 DA(环氧树脂)材料与芯片接触面的应力值,也同... 采用有限元分析软件模拟研究了PBGA器件在先固化再进行温度加载和直接从温度循环开始加载两种情况下,固化过程对 PBGA 器件的影响,发现固化过程不仅改变了器件中芯片的应力分布,而且劣化了 DA(环氧树脂)材料与芯片接触面的应力值,也同时使得 BT 材料基底中的应力分布产生较大的改变。并且对 DA 材料选用几种不同的固化时间,发现固化时间的不同对器件封装残余应力的大小和最大应力位置有重要的影响,这为预测芯片的垂直开裂的位置提供了很好的依据。 展开更多
关键词 电子技术 断裂力学 残余应力 有限元 PBGA 模塑封材料
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激光重熔PBGA钎料球与Au/Ni/Cu焊盘的界面反应 被引量:5
19
作者 田艳红 王春青 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第1期95-98,共4页
研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存... 研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存在一层连续 的 AuSn2和一些垂直或斜向生长到钎料中的针状 AuSn4化合物. 增大激光输入能量.Au完全溶解到钎料中,界面处连续的 AuSn2化合物层全部转化为针状 AuSn4相、有部分 AuSn4针从界面处折断并落入钎料中.当激光功率为 18 W,激光加热时 间为 400 ms时,AuSn4相在界面处消失、以细小颗粒弥散分布在钎料内部. 展开更多
关键词 塑料球栅阵列 钎料球 激光重熔 界面反应
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PBGA组件振动疲劳寿命的实验研究 被引量:6
20
作者 陈子夏 杨平 谭广斌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第11期1028-1031,共4页
为了得到在基频激励下PBGA封装的可靠度特性,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,利用可靠性实验的方法测试了PBGA组件在正弦单频激励条件下的疲劳特性,同时运用Manson-Coffin方程经验公式及雨流计数法得到了相对应的... 为了得到在基频激励下PBGA封装的可靠度特性,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,利用可靠性实验的方法测试了PBGA组件在正弦单频激励条件下的疲劳特性,同时运用Manson-Coffin方程经验公式及雨流计数法得到了相对应的焊点疲劳寿命。最后利用疲劳统计中威布尔分布得到了当PBGA芯片位于PCB不同位置、不同激励时可靠度-循环失效圈数曲线(R-N曲线)。结果表明,大直径焊点芯片、分布在约束较多PCB上的芯片、无铅焊点芯片的焊点可靠度较高。 展开更多
关键词 PBGA组件 疲劳特性实验 R-N曲线 芯片位置优化
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